蔡司正立金相顯微鏡

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1、分析級(jí)正立萬(wàn)能材料顯微鏡AxioLab.A1Mat品牌：卡爾·蔡司型號(hào)：AxioLab.A1Mat制造商：德國(guó)卡爾蔡司公司北京普瑞賽司儀器有限公司產(chǎn)地：德國(guó)聯(lián)系方式：800-890-0660總體描述：金相學(xué)主要指借助光學(xué)（金相）顯微鏡和體視顯微鏡等對(duì)材料顯微組織、低倍組織和斷口組織等進(jìn)行分析研究和表征的材料學(xué)科分支，既包含材料顯微組織的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的樣品制備、準(zhǔn)備和取樣方法。其主要反映和表征構(gòu)成材料的相和組織組成物、晶粒（亦包括可能存在的亞晶）、非金屬夾雜物乃至某些晶體缺陷（例如位錯(cuò)）的數(shù)量、形貌

2、、大小、分布、取向、空間排布狀態(tài)等。ZEISS一百多年的驕人歷史從發(fā)明世界上首臺(tái)顯微鏡開(kāi)始。一個(gè)世紀(jì)后的今天，ZEISS仍致力于為用戶研發(fā)最具創(chuàng)造力的顯微鏡系列產(chǎn)品。通過(guò)我們不斷改進(jìn)的顯微技術(shù)，我們正在為全世界的用戶開(kāi)拓一條探索微觀世界的道路。今天的顯微鏡與以往相比，它們的成像質(zhì)量更好、效率更高、機(jī)械性能更加穩(wěn)定，并且更加環(huán)保。金相學(xué)的興起給金屬材料研究帶來(lái)了歷史性的變革，而蔡司長(zhǎng)久以來(lái)一直致力于金相顯微鏡的研發(fā)與應(yīng)用，并將金相學(xué)的科研水平推向一個(gè)又一個(gè)高點(diǎn)。2011年蔡司最新推出的金相顯微鏡AxioLab.A1mat

3、再次為金相學(xué)的長(zhǎng)足發(fā)展了提供最佳檢測(cè)工具。蔡司分析級(jí)萬(wàn)能材料顯微鏡AxioLab.A1mat將問(wèn)世，打破了傳統(tǒng)分析級(jí)顯微鏡競(jìng)爭(zhēng)格局，顛覆了現(xiàn)有分析級(jí)顯微鏡設(shè)計(jì)理念，采用蔡司最先進(jìn)的ICCS光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，核心部件（物鏡、目鏡）均采用研究級(jí)顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)制作，有史以來(lái)第一次使得分析級(jí)顯微鏡也同樣具有了研究級(jí)顯微鏡的超高標(biāo)準(zhǔn)和成像質(zhì)量。分析級(jí)萬(wàn)能材料顯微鏡AxioLab.A1mat必將是您日常檢驗(yàn)及科研分析的首選。技術(shù)參數(shù)：光學(xué)系統(tǒng)：ICCS光學(xué)系統(tǒng)，鏡體：FEM設(shè)計(jì)，ACR位置編碼1、物鏡倍數(shù)：5X10X20X50X100X可

4、選1.25X、2.5X、150X2、目鏡倍數(shù)：10X3、視場(chǎng)數(shù)：20、224、物鏡轉(zhuǎn)盤(pán)：5孔5、觀察功能：明場(chǎng)、★高級(jí)暗場(chǎng)、★圓偏光、微分干涉6、光源：12V50W鹵素?zé)?、可擴(kuò)展性：可配圖像分析系統(tǒng)(數(shù)碼相機(jī)、攝像頭、圖像分析軟件)特點(diǎn)：1、明暗場(chǎng)五孔物鏡轉(zhuǎn)盤(pán)5孔物鏡轉(zhuǎn)盤(pán)提供充裕的操作空間—在保證您快速完成樣品檢測(cè)的同時(shí)讓您在選擇明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光、DIC等物鏡時(shí)操作更加舒適。2、采用Push&Click技術(shù)的4位功能模塊盒更加輕松容易的操作：使用Push&Click裝置方便地在不同觀察方式下分析觀察3、光源機(jī)身上集成

5、了一個(gè)50W的鹵素?zé)舴瓷涔庠?，能夠適應(yīng)廣泛地電壓范圍，此外，您也可以選擇使用LED燈源：恒定的色溫，低能耗和壽命長(zhǎng)為其最重要的優(yōu)點(diǎn)4、優(yōu)化的光路（反射光）設(shè)計(jì)帶有孔徑光闌和市場(chǎng)光闌的色差校正光路為您的樣品提供最佳的照明5、在入門(mén)階段亦可掌握的微分干涉技術(shù)微分干涉技術(shù)C-DIC—這種對(duì)比技術(shù)可將樣品表面微小的形態(tài)變化轉(zhuǎn)換成光強(qiáng)度的變化，進(jìn)而為您提供最出眾的對(duì)比度應(yīng)用：應(yīng)用目標(biāo)群體實(shí)例金屬樣品分析?質(zhì)量控制?失效分析?新材料開(kāi)發(fā)?結(jié)構(gòu)成分的鑒定和量化?晶粒大小和非金屬夾雜物的檢測(cè)?腐蝕損害的分析?氣孔和裂痕的檢測(cè)?孔隙率的

6、測(cè)定?機(jī)械工程學(xué)?汽車(chē)制造行業(yè)?汽車(chē)行業(yè)?航空、航天領(lǐng)域?船工業(yè)?金屬行業(yè)?鑄造業(yè)?以上各行業(yè)和大學(xué)的研究中心反射光C-DIC下的珍珠巖:兩束正交光方向上的圖像區(qū)分材料分析?質(zhì)量控制?阻力測(cè)試?失效分析?鑒定?材料科學(xué)的研究中心?新材料機(jī)構(gòu)?汽車(chē)行業(yè)?航空航天領(lǐng)域?船舶制造業(yè)?精密儀器行業(yè)復(fù)合材料(碳加強(qiáng)的碳化硅),反射光,聚合物分析?質(zhì)量控制?阻力測(cè)試?失效分析?鑒定?塑料加工行業(yè)?汽車(chē)領(lǐng)域?航空、航天領(lǐng)域?精密器械?塑料行業(yè)的研究中心復(fù)合材料（涂有塑料的鋁)偏光+RedI,透射光礦物原材料分析?巖相測(cè)定和定量分析?

7、質(zhì)地和結(jié)構(gòu)分析?氣孔分析?礦物、地質(zhì)行業(yè)的研究機(jī)構(gòu)?采礦公司(天然氣和原油、巖石學(xué)、粘土/瓷土/石英、經(jīng)濟(jì)地質(zhì)學(xué))反射光明場(chǎng)下含黃鐵的礦石微系統(tǒng)元件的分析和測(cè)試?缺陷分析?純度測(cè)定(噴濺殘留物)?生產(chǎn)控制?干涉的階梯高度測(cè)量?微系統(tǒng)工程的研發(fā)和生產(chǎn)1.支持安全氣袋傳感器(C-DIC),噴濺殘留物2.支持安全氣袋傳感器,C-TIC玻璃、陶瓷的分析?質(zhì)量控制(缺陷分析,粗糙度的測(cè)量)?過(guò)程控制?失效分析?新材料研發(fā)?玻璃制造商(如.SCHOTT,OSRAM,Rodenstock)?建筑用陶瓷生產(chǎn)商?建筑結(jié)構(gòu)機(jī)構(gòu)（如：耐火材

8、料研究院、陶瓷研究院）1.經(jīng)過(guò)激光加工的CaF2表面,反射光2.C-DIC(缺陷探測(cè))和TIC(粗糙度數(shù))ê太陽(yáng)能電池的分析?接觸點(diǎn)和接觸表面的質(zhì)量控制?太陽(yáng)能電池的缺陷分析(顯微裂紋,氣泡等)?絕緣帶和條狀導(dǎo)體的質(zhì)量控制?應(yīng)用于太陽(yáng)能電池薄膜發(fā)展的新“Scnbing”技術(shù)?涉及到太陽(yáng)能光伏電池研究的科研機(jī)構(gòu)?生產(chǎn)太陽(yáng)能電池薄膜單