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《基于綜合環(huán)境加速壽命試驗(yàn)的電子裝備故障預(yù)測(cè)研究》由會(huì)員上傳分享，免費(fèi)在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在學(xué)術(shù)論文-天天文庫(kù)。
1、第6期電子學(xué)報(bào)V0】．36No．62O09年6月ACIlAE【CIRONICAsINICAJun．2009基于綜合環(huán)境加速壽命試驗(yàn)的電子裝備故障預(yù)測(cè)研究賈占強(qiáng)，蔡金燕，梁玉英，李剛(軍械工程學(xué)院光學(xué)與電子工程系，河北石家莊050003)摘要：對(duì)某型雷達(dá)天控系統(tǒng)的20kHz信號(hào)板進(jìn)行均勻正交試驗(yàn)，利用試驗(yàn)數(shù)據(jù)對(duì)試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行了深層次的分析，總結(jié)出溫濕度條件下電子裝備性能衰退的一般規(guī)律；針對(duì)在故障預(yù)測(cè)中占有重要地位的電子裝備可靠性預(yù)測(cè)問(wèn)題，提出了一種基于綜合環(huán)境加速壽命試驗(yàn)的電子裝備可靠性預(yù)測(cè)新方法，該方法將性能退化理論拓展為加速性能退化理論，將該理論與傳統(tǒng)可靠性預(yù)測(cè)方
2、法相結(jié)合，有效地解決了加速壽命試驗(yàn)中無(wú)失效數(shù)據(jù)的處理問(wèn)題，最后通過(guò)具體的算例驗(yàn)證了該方法的有效性．關(guān)鍵詞：溫濕度試驗(yàn)；金屬腐蝕；加速性能退化；故障預(yù)測(cè)；可靠性預(yù)測(cè)中圖分類號(hào)：TBI14．3文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A文章編號(hào)：0372．2112(2o09)06-1277．06FaultPredictionResearchofElectronicEquipmentBasedonCompositionEnvironmentalALTJ]AZhan-qiang，CAIJin-yan，LIANGYu-ying，LIGang(及ofopticalandE／earo~西∞，Ordnan~西
3、M，馳m，Hebe／050003，Ch／na)Abstract：Makeauniformlyorthogonaltestingfor20kHzsignalPCBofradar，andusethetestingdatatoanalysisthetest—ingresults．Concludethegeneralruleofperf~mr．edegradationofelectronicequilmaentintheenvironmentoftempcratm-eandhu-midity；Aimingattheelectronicequipmentreliabilit
4、ypredictionproblem，whichplayallimportantroleinfaultprediction，presentallnewmethodaboutelectronicequipmentreliabilitytm~lictionbasedOilCombineEnvironmental．Thismethodextendstheper-formancedegradationtheorytOacceleratedperformancedegradationtheory．ThenofailuredataprobleminALTwasresolved
5、tom-biningthetheoryandtraditionalreliabilityprediction．Intheend，validityofthismethodwasprovedbyallexample．Keywords：tempc釉nlreandhumiditytesting；metalcauterization；acceleratedperformancedegradationtestmg(APDT)；faultprediction；reliabilityprediction性預(yù)測(cè)．研究發(fā)現(xiàn)，大部分產(chǎn)品的失效機(jī)理最終可以追l引言溯到產(chǎn)品潛在的性能退化過(guò)
6、程，從某種意義上可以認(rèn)為傳統(tǒng)意義上的故障預(yù)測(cè)一般要求預(yù)測(cè)出裝備將要性能退化最終導(dǎo)致了產(chǎn)品失效(或故障)的出現(xiàn)．因此，發(fā)生故障的具體時(shí)間．但是故障預(yù)測(cè)的作用和目的主要可以利用給定應(yīng)力下的退化軌跡外推出產(chǎn)品的失效時(shí)是為預(yù)防性維修提供技術(shù)支持，因此我們可以把傳統(tǒng)意間，而后使用這些數(shù)據(jù)來(lái)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性預(yù)測(cè)l2-4J．義上的故障預(yù)測(cè)進(jìn)行拓展，將為預(yù)防性維修提供技術(shù)支在工程技術(shù)領(lǐng)域已經(jīng)出現(xiàn)了許多涉及退化數(shù)據(jù)的持的可靠性預(yù)測(cè)、壽命預(yù)測(cè)、故障趨勢(shì)預(yù)測(cè)和傳統(tǒng)意義實(shí)際問(wèn)題，但這些研究多是在單應(yīng)力條件下進(jìn)行的[s-sj．上的故障預(yù)測(cè)統(tǒng)稱為故障預(yù)測(cè)rlJ．本文在溫濕度綜合環(huán)境應(yīng)力作用下
7、，對(duì)電路板溫濕度試對(duì)于在故障預(yù)測(cè)中占有重要地位的可靠性預(yù)測(cè)來(lái)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行深層次的分析，總結(jié)出濕熱條件對(duì)電路板可說(shuō)，由于現(xiàn)代電子裝備一般都包含有可靠性極高的元器靠性影響的一般性規(guī)律，之后將性能退化理論引入到高件或功能模塊，這些產(chǎn)品在包括加速壽命試驗(yàn)方法在內(nèi)可靠長(zhǎng)壽命電子裝備的故障趨勢(shì)預(yù)測(cè)中，設(shè)計(jì)出電子裝的壽命試驗(yàn)中常只有少量失效或者沒(méi)有失效出現(xiàn)，傳統(tǒng)備可靠性預(yù)測(cè)的方法及步驟，最后利用某型雷達(dá)天控系的方法已經(jīng)不再適用于高可靠長(zhǎng)壽命電子裝備的可靠統(tǒng)的20kHz信號(hào)板試驗(yàn)數(shù)據(jù)對(duì)該方法進(jìn)行了驗(yàn)證．收稿日期：2008-Ol一10；修回日期：2008．11．22基金項(xiàng)目：國(guó)家自然
8、科學(xué)基金(
