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《td-lte td-scdma多頻多模終端射頻一致性測試方案研究》由會員上傳分享，免費在線閱讀，更多相關內容在學術論文-天天文庫。
1、?????????‘MoGYoEc0osTD—LTE／TD—SCDMA多頻多模終端射頻一致性測試方案研究張運中北京郵電大學信息與通信工程學院碩士研究生王海燕工業(yè)和信息化部電信研究院通信標準研究所工程師于劍飛工業(yè)和信息化部電信研究院通信標準研究所工程師石美憲工業(yè)和信息化部電信研究院通信標準研究所高級工程師摘要：本文根據(jù)3GI'PTS36．521一l和34。I22標1引言準，提出了一套支持TD—LTE和TD-SCDMA多頻多模終端射頻一致性測試方案。重點闡述了本方案中關于終端發(fā)射機、接收機的測試方法，并且分射頻一致性i貝0試是保障終端質量的重要環(huán)節(jié)，是終析了儀表和器件選型的原則，提出
2、了一種適用于端準人的基本條件之一。隨著TD—SCDMA網(wǎng)絡的逐步完TD—LTEFfD—SCDMA多頻多模終端射頻一致性測善以及TD—LTE網(wǎng)絡的逐步演進與商用，未來同時兼容試系統(tǒng)的射頻接口箱的設計原理。關鍵詞：射頻一致性測試，I'D—m，TD—SCDMA，多TD—LTE和TD—SCDMA的多模終端會越來越多，對多模頻多模終端的射頻一致性測試需求也會越來越大。TD—LTE相比Abstract：Tlli8papermainlvintroducesamulti—TD—SCDMA，在終端射頻一致性測試方面有諸多相同點，bandandmulti-modeRFcolfonTlarlcetes
3、tscheme可以相互借鑒。forTD—rEandTD—SCDMAterminals．according：tO目前國內外還沒有一套專門同時兼容the3GPPTS36．521—1andTS34．122standard．hbrieflyintroducestheteStmethodoftheterminalTD—LTE／TD—SCDMA多頻多模終端射頻一致性測試系統(tǒng)，transmitter,receiverandperformancetestingbriefly,所以本文旨在基于3GPP標準對TD—LTE和TD—SCDMAandanalyzesabouthowtoselecttest
4、instI'Llmeritandmicrowavedevices．AttlleSametime。akindofthe終端射頻一致性測試要求，提出了一種可行的多頻多模multi-bandandmulti-modeRFinterfaceboxde-終端自動化測試方案，能夠對TD—LTE／TD—SCDMA多頻slgnmgpnnclple1Sproposed．多模終端發(fā)射機、接收機、性能等方面的射頻指標進行全Keywords：RFcon~orlllancetestyTD-LTE。TD—SCDMA。multi-bandandmulti—mode面的標準符合性測試(一致性測試)，為多頻多模芯
5、片和終端技術的研發(fā)設計提供全面的測試和驗證手段，從而保障多頻多模終端的性能和質量。本方案的基本設計思路是以儀表和器件選型作為切人點，設計射頻接口箱匯一一曼黑19照～匿。泰爾測試?????????·VTL下@甓聚所有的測試鏈路，通過射頻接口箱與其它測試儀R8／R9版本的TD—LTE終端有兩根天線，一根天線表相連組成測試系統(tǒng)，再經(jīng)過設計終端發(fā)射機、接收只進行接收，另一根既接收又發(fā)射，而TD—SCDMA機以及性能測試的測試用例后，最終由總控計算機終端只有一根既接收又發(fā)射的天線，因此TD—上的測試軟件通過GPIB或者LAN口網(wǎng)線遠程控制SCDMA在測試時可以復用TD—LTE測試中與終端儀
6、表，按照標準要求實現(xiàn)自動化測試并輸出測試報既接收又發(fā)射端口連接的鏈路。告。本方案最突出的特點是同時支持TD—LTE和TD—SCDMA多模終端的多頻帶測試，同時通過替換3儀表和器件選型的原則射頻接口箱中部分器件和改進測試鏈路設計，減少了測試校準鏈路數(shù)量縮短了校準時間。由于此測試系統(tǒng)支持TD—LTE和TD—SCDMA兩種制式，所以儀表和器件的選型基本原則是滿足2測試系統(tǒng)圖TD—LTE和TD—SCDMA系統(tǒng)的技術指標要求，如測試功率、測試頻段等指標。由于儀表之間是通過射頻線纜和射頻接口箱進行連接，所以引入了一定的線損，加大了儀表和器件選型的難度。在儀表和器件選型方面，需要考慮以下幾點。
7、(1)微波信號源和矢量信號源的選取問題。微波信號源最重要的指標是最大發(fā)射功率和頻率范圍。測試標準中要求CW(連續(xù)波)干擾功率最大值為一15dBm，如果這條測試鏈路的實際線損過大，則要求進一步提高微波源的發(fā)射功率，甚至可能超過儀表的發(fā)射電平范圍。至于微波源的最小發(fā)射功率，如圖1測試系統(tǒng)圖果不夠可以通過外加衰減器來解決。在選取微波源時，需要考慮微波源的功率范圍是否滿足測試標準和鏈路損耗的要求。此外帶外阻塞測試要求的CW圖1是TD—LTE／TD—SCDMA多頻多模終端射頻率范圍為1MH
