微電子器件ppt課件.ppt

微電子器件ppt課件.ppt

ID:59273979

大?。?21.50 KB

頁數(shù):39頁

時間:2020-09-22

微電子器件ppt課件.ppt_第1頁
微電子器件ppt課件.ppt_第2頁
微電子器件ppt課件.ppt_第3頁
微電子器件ppt課件.ppt_第4頁
微電子器件ppt課件.ppt_第5頁
資源描述:

《微電子器件ppt課件.ppt》由會員上傳分享,免費在線閱讀,更多相關(guān)內(nèi)容在教育資源-天天文庫。

1、PN結(jié)在正向電壓下電流很大,在反向電壓下電流很小,這說明PN結(jié)具有單向?qū)щ娦?,可作為二極管使用。2.2PN結(jié)的直流電流電壓方程PN結(jié)二極管的直流電流電壓特性曲線,及二極管在電路中的符號為本節(jié)的重點1、中性區(qū)與耗盡區(qū)邊界處的少子濃度與外加電壓的關(guān)系。這稱為“結(jié)定律”,并將被用做求解擴散方程的邊界條件;2、PN結(jié)兩側(cè)中性區(qū)內(nèi)的少子濃度分布和少子擴散電流;3、PN結(jié)的勢壘區(qū)產(chǎn)生復(fù)合電流P區(qū)N區(qū)xn-xp平衡PN結(jié)的能帶圖N區(qū)P區(qū)面積為Vbi2.2.1外加電壓時載流子的運動情況外加正向電壓V后,PN結(jié)勢壘高度由

2、qVbi降為q(Vbi-V),xd與減小,PNx0平衡時外加正向電壓時外加電場內(nèi)建電場面積為Vbi-V使擴散電流大于漂移電流,形成正向電流。勢壘高度的降低不能再阻礙N區(qū)電子向P區(qū)的擴散及P區(qū)空穴向N區(qū)的擴散,于是形成正向電流。由于正向電流的電荷來源是多子,所以正向電流很大。VP區(qū)N區(qū)0正向電流密度由三部分組成:1、空穴擴散電流密度Jdp(在N區(qū)中推導)2、電子擴散電流密度Jdn(在P區(qū)中推導)3、勢壘區(qū)復(fù)合電流密度Jr(在勢壘區(qū)中推導)外加反向電壓V(V<0)后,PN結(jié)的勢壘高度由qVbi增高到q(Vb

3、i-V),xd與都增大。PNx0平衡時外加反向電壓時外加電場內(nèi)建電場面積為Vbi-V面積為Vbi多子面臨的勢壘提高了,難以擴散到對方區(qū)域中去了,但是少子面臨的勢阱反向更深了,所以容易被反向電場拉入對方區(qū)域,從而形成反向電流。由于反向電流的電荷來源是少子,所以反向電流很小。VP區(qū)N區(qū)0反向電流密度也由三部分組成:1、空穴擴散電流密度Jdp2、電子擴散電流密度Jdn3、勢壘區(qū)產(chǎn)生電流密度Jg(Jg與Jr可統(tǒng)稱為Jgr)外加電壓V后,從而得:2.2.2勢壘區(qū)兩旁載流子濃度的玻爾茲曼分布可知平衡時在N型區(qū)與耗盡

4、區(qū)的邊界處即xn處的空穴濃度為根據(jù)平衡PN結(jié)內(nèi)建電勢Vbi的表達式上式說明:當PN結(jié)有外加電壓V時,中性區(qū)與耗盡區(qū)邊界處的少子濃度等于平衡時的少子濃度乘以exp(qV/kT)。以上兩式常被稱為“結(jié)定律”,對正、反向電壓均適用。但在正向時只適用于小注入。因此,在N型區(qū)與耗盡區(qū)的邊界處,即xn處,同理,在P型區(qū)與耗盡區(qū)的邊界處,即–xp處,(2-44)(2-45)2.2.3擴散電流求擴散電流的思路:首先確定少子濃度的邊界條件;結(jié)合邊界條件求解少子的擴散方程,得到中性區(qū)內(nèi)非平衡少子濃度分布;將少子濃度分布代入

5、略去漂移電流后的少子電流密度方程,即可得到少子擴散電流密度Jdp與Jdn。P區(qū)N區(qū)xn-xp假設(shè)中性區(qū)的長度遠大于少子擴散長度,則根據(jù)結(jié)定律可得少子濃度的邊界條件為對于非平衡少子,其邊界條件為1、少子濃度的邊界條件外加正向電壓且V>>kT/q(室溫下約為26mV)時,非平衡少子的邊界條件是外加反向電壓且

6、V

7、>>kT/q時,非平衡少子的邊界條件是直流情況下,又因,故可得由第一章的式(1-23),N區(qū)中的空穴擴散方程為式中,,稱為空穴的擴散長度,典型值為10?m。(1-23)2、中性區(qū)內(nèi)的非平衡少子濃度分

8、布P區(qū)內(nèi)的非平衡少子電子也有類似的分布,即當N區(qū)足夠長(>>Lp)時,利用?pn(x)的邊界條件可解出系數(shù)A、B,于是可得N區(qū)內(nèi)的非平衡少子空穴的分布為擴散方程的通解為外加正向電壓時PN結(jié)中的少子分布圖P區(qū)N區(qū)注入N區(qū)后的非平衡空穴,在N區(qū)中一邊擴散一邊復(fù)合,其濃度隨距離作指數(shù)式衰減。衰減的特征長度就是空穴的擴散長度Lp。每經(jīng)過一個Lp的長度,非平衡空穴濃度降為1/e。P區(qū)N區(qū)外加反向電壓時PN結(jié)中的少子分布圖N區(qū)中勢壘區(qū)附近的少子空穴全部被勢壘區(qū)中的強大電場拉向P區(qū),所以空穴濃度在勢壘區(qū)邊界處最低,隨

9、距離作指數(shù)式增加,在足夠遠處恢復(fù)為平衡少子濃度。減少的空穴由N區(qū)內(nèi)部通過熱激發(fā)產(chǎn)生并擴散過來補充。假設(shè)中性區(qū)內(nèi)無電場,所以可略去空穴電流密度方程中的漂移分量,將上面求得的?pn(x)同理,P區(qū)內(nèi)的電子擴散電流密度為(2-52a)(2-52b)3、擴散電流代入空穴擴散電流密度方程,得N區(qū)內(nèi)的空穴擴散電流密度為PN結(jié)總的擴散電流密度Jd為當V=0時,Jd=0,當V>>kT/q時,當V<0且

10、V

11、>>kT/q時,Jd=-J0室溫下硅PN結(jié)的J0值約為10-10A/cm2的數(shù)量級。由于當V<0且

12、V

13、>>kT/

14、q后,反向電流達到飽和值I0,不再隨反向電壓而變化,因此稱I0為反向飽和電流。IVI00J0乘以PN結(jié)的結(jié)面積A,得4、反向飽和電流對J0的討論與材料種類的關(guān)系:EG↑,則ni↓,J0↓;與摻雜濃度的關(guān)系:ND、NA↑,則pn0、np0↓,J0↓,主要取決于低摻雜一側(cè)的雜質(zhì)濃度;與溫度T的關(guān)系:T↑,則ni↑,J0↑,因此J0具有正溫系數(shù)。這是影響PN結(jié)熱穩(wěn)定性的重要因素。2.2.4勢壘區(qū)產(chǎn)生復(fù)合電流由式(1-17),凈復(fù)合率U可表為已知在

當前文檔最多預(yù)覽五頁,下載文檔查看全文

此文檔下載收益歸作者所有

當前文檔最多預(yù)覽五頁,下載文檔查看全文
溫馨提示:
1. 部分包含數(shù)學公式或PPT動畫的文件,查看預(yù)覽時可能會顯示錯亂或異常,文件下載后無此問題,請放心下載。
2. 本文檔由用戶上傳,版權(quán)歸屬用戶,天天文庫負責整理代發(fā)布。如果您對本文檔版權(quán)有爭議請及時聯(lián)系客服。
3. 下載前請仔細閱讀文檔內(nèi)容,確認文檔內(nèi)容符合您的需求后進行下載,若出現(xiàn)內(nèi)容與標題不符可向本站投訴處理。
4. 下載文檔時可能由于網(wǎng)絡(luò)波動等原因無法下載或下載錯誤,付費完成后未能成功下載的用戶請聯(lián)系客服處理。