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《超聲波探傷儀器、試塊 課件》由會(huì)員上傳分享，免費(fèi)在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在教育資源-天天文庫。
1、2021/6/2513.3超聲波探傷用儀器、探頭和試塊3.3.1超聲波探傷儀ultruasonicflawdetector2021/6/252主動(dòng)型超聲波檢測儀器2021/6/253被動(dòng)型超聲波檢測儀器2021/6/2543.3.1.1儀器的種類1.按缺陷的顯示方式分類1）A型顯示(A-scope)示波屏上縱坐標(biāo)代表反射波的波幅，橫坐標(biāo)代表超聲波傳播的距離或時(shí)間，根據(jù)缺陷波的波高和水平刻度來進(jìn)行缺陷的定量和定位。2021/6/2552）B型顯示(B-scope)示波屏上橫坐標(biāo)代表探頭移動(dòng)距離，縱坐標(biāo)代表超聲波
2、傳播距離或時(shí)間。整個(gè)示波屏上可顯示入射平面內(nèi)的缺陷斷面形狀。2021/6/2563）C型顯示(C-scope)示波屏顯示工件中缺陷的水平投影情況，不能顯示缺陷的深度位置。用于定性測試。2021/6/2572.按聲波特征分1）脈沖波周期性的發(fā)射和接受超聲脈沖信號(hào)。2021/6/2582）連續(xù)波連續(xù)的發(fā)射和接收頻率和振幅都不變的超聲信號(hào)。2021/6/2593.按儀器的通道數(shù)目分（1）單通道由一個(gè)或一對(duì)探頭單獨(dú)工作（2）多通道由多個(gè)或多對(duì)探頭交替工作目前實(shí)際超聲波探傷常用的是A型脈沖式單通道超聲波探傷儀。2021
3、/6/25103.3.1.2A型脈沖超聲波探傷儀器工作原理同步電路發(fā)射電路接受放大電路時(shí)基電路（掃描電路）顯示電路電源電路2021/6/25113.3.1.3.超聲波探頭(probe,transducer)1.探頭的基本結(jié)構(gòu)和各部分的作用超聲探頭是由壓電晶片、楔塊、阻尼塊、接頭等組成。2021/6/25121)壓電晶片(crystal)當(dāng)高頻電脈沖激勵(lì)壓電晶片時(shí)，發(fā)生逆壓電效應(yīng)，將電能轉(zhuǎn)化為聲能，發(fā)射超聲波；當(dāng)探頭接收超聲波時(shí)，發(fā)生正壓電效應(yīng)，將聲能轉(zhuǎn)化為電能。正壓電效應(yīng)和逆壓電效應(yīng)統(tǒng)稱壓電效應(yīng)(piezoe
4、lectriceffect)。探頭也被稱為換能器。壓電晶片的振動(dòng)頻率即為探頭的工作頻率，晶片在共振條件下工作：t＝λ/2t為晶片厚度。2021/6/2513壓電材料：Crystal單晶材料、多晶材料(壓電陶瓷)居里溫度。2021/6/25142）保護(hù)膜、斜楔(protectivecover,wedge)硬保護(hù)膜：由氧化鋁、藍(lán)寶石或碳化硼制成，用于表面較平滑的試件。軟保護(hù)膜：零點(diǎn)幾毫米厚的可更換塑料，用于表面粗糙的工件。斜楔：波型轉(zhuǎn)換，使被探工件中只存在折射橫波。一般用有機(jī)玻璃做成。斜楔的縱波速度必須小于工件中
5、的縱波速度。2021/6/25153）阻尼塊(dampingblock)使共振的晶片盡快停下來，利于形成窄脈沖，提高分辨力，并吸收晶片背面發(fā)出的雜波，另外還起到支撐晶片的作用。2021/6/25162.探頭種類1)縱波直探頭(normalprobe)主要用于探測與探測面（testsurface）平行的平面型或立體型缺陷，如板材、鍛件等。2021/6/25172）斜探頭（angleprobe）斜探頭按入射角可分為縱波斜探頭（longitudinalwaveprobe）橫波斜探頭（shearwaveprobe）表
6、面波斜探頭（surfacewaveprobe）2021/6/2518橫波斜探頭 主要用于探測與探測面垂直或成一定角度的缺陷，如焊縫探傷、氣輪機(jī)葉輪探傷等。 直探頭和斜楔組成。2021/6/25193）雙晶探頭雙晶探頭有兩塊壓電晶片。根據(jù)入射角不同，又可分為雙晶縱波探頭和雙晶橫波探頭。雙晶探頭的優(yōu)點(diǎn)：1.靈敏度高；2.雜波少盲區(qū)??；3.近場區(qū)長度??；4.探測范圍可調(diào)。主要用于探傷近表面缺陷。2021/6/25204）聚焦探頭（focusingtypeprob）聚焦探頭有直探頭和聲透鏡組成，分為點(diǎn)聚焦和線聚焦。點(diǎn)
7、聚焦聲透鏡為球面，線聚焦則為柱面。焦距F與聲透鏡曲率半徑r之間存在以下關(guān)系：F＝c1r/(c1－c2)2021/6/25213.探頭的型號(hào) 頻率晶片材料晶片尺寸探頭種類特征如2.5B20Z,5P6*6K3,5T20FG10Z2021/6/25223.3.2試塊（testblock）按一定作用設(shè)計(jì)制作的具有簡單幾何形狀人工反射體的試樣，稱為試塊。試塊按來歷分：標(biāo)準(zhǔn)試塊和參考試塊；按試塊上人工反射體分：平底孔試塊橫孔試塊槽形試塊2021/6/25233.3.2.1IIW試塊IIW試塊是國際焊接學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)試塊，也稱荷
8、蘭試塊和船形試塊。尺寸如圖所示。2021/6/2524用途1.調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度；2.測儀器的水平線形、垂直線形和動(dòng)態(tài)范圍；3.廁直探頭和儀器的分辨力；4.測直探頭和儀器組合后的穿透能力；5.測直探頭和儀器的盲區(qū)；6.測斜探頭的入射點(diǎn)；7.測斜探頭的入射角；8.測斜探頭和儀器的靈敏度余量；9.調(diào)整橫波探測范圍和掃描速度。2021/6/25253.3.2.2半圓試塊半圓試塊是目前廣泛應(yīng)用的一種
