精密位移量的激光干涉測量方法及實驗

精密位移量的激光干涉測量方法及實驗

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1、激光實驗學生姓名:陳延新學號:111050104班級:應(yīng)用物理1101實驗項目名稱:激光實驗一、實驗?zāi)康模?.了解激光干涉測量的原理2.掌握微米及亞微米量級位移量的激光干涉測量方法3.了解激光干涉測量方法的優(yōu)點和應(yīng)用場合二、實驗原理本實驗采用泰曼-格林(Twyman-Green)干涉系統(tǒng),T-G干涉系統(tǒng)是著名的邁克爾遜白光干涉儀的簡化。用激光為光源,可獲得清晰、明亮的干涉條紋,其原理如圖1所示。激光通過擴束準直系統(tǒng)L1提供入射的平面波(平行光束)。設(shè)光軸方向為Z軸,則此平面波可用下式表示:(1)式中A??平面波的振幅,為波數(shù),l??激光波長此平面波經(jīng)半反射鏡BS分為二束,一束經(jīng)參考

2、鏡M1,反射后成為參考光束,其復(fù)振幅UR用下式表示(2)式中AR??參考光束的振幅,fR(zR)??參考光束的位相,它由參考光程zR決定。另一束為透射光,經(jīng)測量鏡M2反射,其復(fù)振幅Ut,用下式表示:(3)式中At??測量光束的振幅,ft(zt)??測量光束的位相,它由測量光程Zt決定。此二束光在BS上相遇,由于激光的相干性,因而產(chǎn)生干涉條紋。干涉條紋的光強I(x,y)由下式?jīng)Q定(4)式中,而U*,UR*,Ut*為U,UR,Ut的共軛波。當反射鏡M1與M2彼此間有一交角2q,并將式(2),式(3)代入式(4),且當q較小,即sinq@q時,經(jīng)簡化可求得干涉條紋的光強為:(5)式中I0

3、??激光光強,??光程差,。式(5)說明干涉條紋由光程差l及q來調(diào)制。當q為一常數(shù)時,干涉條紋的光強如圖2所示。當測量在空氣中進行,且干涉臂光程不大,略去大氣的影響,則(6)式中N??干涉條紋數(shù)因此,記錄干涉條紋移動數(shù),已知激光波長,由式(6)即可測量反射鏡的位移量,或反射鏡的軸向變動量DL。干涉條紋的計數(shù),從圖1中知道,定位在BS面上或無窮遠上的干涉條紋由成像物鏡L2將條紋成在探測器上,實現(xiàn)計數(shù)。測量靈敏為:當N=1,則(He-Ne激光),則如果細分N,一般以1/10細分為例,則干涉測量的最高靈敏度為三、實驗光路激光器1發(fā)出的激光經(jīng)衰減器2(用于調(diào)節(jié)激光強度)后由二個定向小孔3,

4、5引導(dǎo),經(jīng)反射鏡6,7進入擴束準直物鏡8,10(即圖1中的L1),由分光鏡14(即圖1中BS)分成二束光,分別由反射鏡16(即圖1中的M1),18(M2)反射形成干涉條紋并經(jīng)成像物鏡20(即圖1中L2)將條紋成于CMOS23上(即D),這樣在計算機屏上就可看到干涉條紋,實現(xiàn)微位移的測量。四、實驗步驟1.開機,激光器1迅速起輝,待光強穩(wěn)定;2.打開驅(qū)動電源開關(guān);3.檢查CMOS23上電信號燈亮否;4.調(diào)整光路時若移開反射鏡4,13,擴束激光;移入反射鏡4,13,不擴束激光。進入實驗室后,首先要熟悉實驗臺所用到的儀器和光學元件,注意不要用手七月觸摸光學表面,并且要輕拿輕放,本實驗不使用

5、的器件應(yīng)事先移開。打開電源開關(guān),點亮he-Ne激光器預(yù)熱,并等待其光強穩(wěn)定,同時檢查CCD上電信號燈是否點亮,打開PZT控制電源。1、激光擴束。在反射鏡4的中間位置處,能夠看到明亮的激光光斑,觀察通過擴束透鏡5后,出射光斑是否,并經(jīng)透鏡6準直,調(diào)節(jié)光路時,可使用螺絲刀配合調(diào)節(jié)反射鏡背后的螺絲,使光斑均勻并能夠正直通過透鏡6.2、正確安裝分光棱鏡7,并在多功能試件夾8和組合工作臺9上,分別裝平面反射鏡,使光線通過分,光棱鏡獲得的反射光和折射光能夠正常到達成像物鏡10.3、調(diào)節(jié)工作臺8,9上調(diào)平調(diào)向測微器,使二路反射光較好重合(在成像物鏡10后焦面上,兩反射光會聚的光斑重合),由于光線

6、經(jīng)過多次的反射和折射,聚焦光斑不容易調(diào)節(jié)至完全重合,所以要求實驗者足夠的熟悉調(diào)平向測微器,以便的到較好的干涉條紋。4、打開計算機,進入Csylaser綜合軟件系統(tǒng)。5、調(diào)整CCD11在軌道上的位置,使干涉條紋清晰,后鎖定CCD位置,在成像物鏡10前,可以選擇安置可調(diào)光闌,便于濾除分光鏡寄生干涉光,避免雜散光和環(huán)境光的干擾,從而影響圖像的分辨能力。6、實驗采用壓電陶瓷組合臺裝配反光鏡9,隨著壓電陶瓷PZT在壓電下形變,帶動反光鏡產(chǎn)生微小位移,引起干涉條紋的移動,來測量微小微小位移量。采用程序界中的PZT手動掃描,逐漸加電壓,可以觀察到條紋的移動,界面下方就會出現(xiàn)移動條紋數(shù)和所對應(yīng)的反

7、光鏡移動距離。7、記錄實驗數(shù)據(jù),并計算出微小位移量,進行適當?shù)恼`差分析。五、實驗注意事項1、不可以用眼睛直視激光器出口,以免造成視網(wǎng)膜的損傷。2、光學的光學表面(如平面反射鏡,分光棱鏡的鏡面)不得玷污或觸摸,若不小心碰觸元件的光學表面不可擅自處理,應(yīng)報告實驗室人員按操作規(guī)程妥善處理。3、玻璃器件應(yīng)輕拿輕放,不要將玻璃器件移離桌面,以免落地損壞。4、調(diào)節(jié)光路之前,先適當調(diào)節(jié)衰減器,使光強變大,以利于調(diào)節(jié)光路,當光路調(diào)整完成,接入CCD前,應(yīng)再將光強調(diào)節(jié)小,以免損壞CCD

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