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《半導(dǎo)體探測(cè)器與氣體探測(cè)器性能分析6》由會(huì)員上傳分享，免費(fèi)在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在教育資源-天天文庫(kù)。
1、成都理工大學(xué)工程技術(shù)學(xué)院畢業(yè)論文半導(dǎo)體探測(cè)器與氣體探測(cè)器性能分析作者姓名：孟慶彥專(zhuān)業(yè)名稱：核工程與核技術(shù)指導(dǎo)教師：李泰華教授半導(dǎo)體探測(cè)器與氣體探測(cè)器性能分析摘要輻射粒子探測(cè)器是粒子物理、核物理、放射性測(cè)量等領(lǐng)域研究的重要儀器，可以有效地保證財(cái)產(chǎn)和人身安全，而且廣泛應(yīng)用于國(guó)民經(jīng)濟(jì)和國(guó)防等多種領(lǐng)域。氣體探測(cè)器、閃爍體探測(cè)器和半導(dǎo)體探測(cè)器是近幾十年來(lái)先后發(fā)展起來(lái)的三類(lèi)主要探測(cè)器。文中詳細(xì)介紹了半導(dǎo)體探測(cè)器和氣體探測(cè)器的原理，并對(duì)相關(guān)的設(shè)備儀器和放射源做了簡(jiǎn)短的介紹。半導(dǎo)體探測(cè)器可以探測(cè)到衰變放射的X射線，
2、氣體探測(cè)器里面含有放射源，繼續(xù)使用作為樣品，會(huì)影響探測(cè)器的性能，因此使用錳粉和淀粉配置的樣品代替，實(shí)驗(yàn)需要進(jìn)行樣品的研磨與壓片。分別使用探測(cè)器對(duì)X射線進(jìn)行測(cè)量并用能譜儀分析能譜，主要研究?jī)煞N探測(cè)器的相關(guān)性能，了解它們各自的能量分辨率及其使用范圍，目的在于加強(qiáng)對(duì)兩種探測(cè)器的能量分辨率的認(rèn)識(shí)，給人們?cè)谝院蟮墓ぷ骱蛯W(xué)習(xí)中一個(gè)有益的指導(dǎo)。關(guān)鍵詞：半導(dǎo)體探測(cè)器氣探測(cè)器能量分辨率II半導(dǎo)體探測(cè)器與氣體探測(cè)器性能分析AbstractRadiationparticledetectorisanimportantins
3、trumentoftheresearchinthefieldofparticlephysics,nuclearphysics,radioactivitymeasurements,caneffectivelyensurethepropertyandpersonalsafety,andarewidelyusedinavarietyofareasofthenationaleconomyandnationaldefense.Gas,scintillationandsemiconductordetectors
4、havebeendevelopedthreemaintypesofdetectorsinrecentdecades.Theprincipleofsemiconductordetectorsandgasdetectorsisdescribedinthispaper;abrieftotheassociatedapparatusandradioactivesourcesisintroduced.Si-PINsemiconductordetectorcandetecttheX-rayradiationfro
5、m55Fe,gasdetectorscontain238Pusources,souse55Feasasamplecanaffecttheperformanceofthedetectorandusemanganesepowderandstarchsamplesinsteadofthem,theexperimentneedtogrindingandtablettingsample.TheX-rayweremeasuredandanalyzedbydetectorseparatelyandspectrom
6、eterwasanalyzedbyenergyspectrum,mainlystudiestwokindsofrelativeperformance,understandtheirenergyresolutionanditsuserange,theprincipalpurposeistoenhancetheunderstandingoftheenergyresolutionofthetwodetectors,givepeopleausefulguidanceforfutureworkandlearn
7、ing.Keywords:semiconductordetector,gasdetectors,energyresolutionII半導(dǎo)體探測(cè)器與氣體探測(cè)器性能分析目錄摘要IAbstractII目錄III前言11探測(cè)器概述31.1探測(cè)器簡(jiǎn)介31.2輻射探測(cè)器發(fā)展歷史31.3輻射探測(cè)器發(fā)展現(xiàn)狀42半導(dǎo)體探測(cè)器52.1半導(dǎo)體探測(cè)器的基本原理52.2半導(dǎo)體探測(cè)器的儀器應(yīng)用53氣體探測(cè)器73.1氣體探測(cè)器的基本原理73.2氣體探測(cè)器的工作區(qū)間84實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)104.1實(shí)驗(yàn)材料和儀器104.1.1Si-PIN
8、半導(dǎo)體探測(cè)器104.1.2充Xe（或充Ar）薄Be窗窗柱型側(cè)窗正比計(jì)數(shù)管114.1.3ADC4096多道γ能譜儀114.1.4多道分析儀114.1.5238Pu114.2實(shí)驗(yàn)方法124.2.1實(shí)驗(yàn)原理13IV半導(dǎo)體探測(cè)器與氣體探測(cè)器性能分析4.2.2樣品的制備144.2.3測(cè)量145實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)及處理165.1實(shí)驗(yàn)所得數(shù)據(jù)165.2數(shù)據(jù)處理及分析195.3結(jié)論21總結(jié)22致謝23參考文獻(xiàn)24IV半導(dǎo)體探測(cè)器與氣體探測(cè)器性能分析前言核輻射，或通常稱之為放射性，存在于所有的物
