lcm行業(yè) ic質(zhì)量檢查標(biāo)準(zhǔn)

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1、文件編號(hào)KL-QAR-WI-004生效日期2008/3/8版本A頁碼第4頁共4頁文件名稱IC質(zhì)量檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)IC品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)ICInspectionSpecificationDEPARTMENTNAMESIGNATUREDATE品質(zhì)部生產(chǎn)部廠務(wù)經(jīng)理文件編號(hào)KL-QAR-WI-004生效日期2008/3/8版本A頁碼第4頁共4頁文件名稱IC質(zhì)量檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)修訂頁修訂日期修訂版本修訂內(nèi)容準(zhǔn)備檢查文件編號(hào)KL-QAR-WI-004生效日期2008/3/8版本A頁碼第4頁共4頁文件名稱IC質(zhì)量檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)1.0目的：明確IC品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，確保IC質(zhì)量符合本公

2、司要求。2.0適用范圍：除特別說明外，本標(biāo)準(zhǔn)適用于BondingIC來料檢驗(yàn)。3.0定義：3.1IC---積成電路4.0使用文件及參考資料4.1IC資料5.0檢驗(yàn)儀器設(shè)備及治、工具：5.1顯微鏡6.0抽樣方案,檢驗(yàn)條件,注意事項(xiàng)：6.1抽樣方案6.1.1抽樣計(jì)劃:依《抽樣檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書》抽樣檢驗(yàn)。6.1.2判定方法:A主要缺點(diǎn):主要指功能,性能以及嚴(yán)重的外觀缺陷,依AQL:0.4接收。B次要缺點(diǎn):主要指輕微的外觀缺陷,依AQL:1.0判定接收。6.2檢驗(yàn)條件6.2.1光照條件：20W白熾燈或者40W熒光燈下，周圍光亮度為800LUX。6.

3、2.2檢驗(yàn)員視力要求良好，目視距離：30±5cm，目測方向：斜上45度6.3注意事項(xiàng)6.3.1作業(yè)人員應(yīng)佩帶防靜電手環(huán)，并在防靜電工作臺(tái)上作業(yè)6.3.2使用放大鏡檢查時(shí)需要同包裝盒一同拿到放大鏡下檢查。6.3.3邦定IC暴露在空氣下的時(shí)間要盡可能的短7.0檢查項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)注：由于條件暫時(shí)不允許,所有IC暫不做功能檢查，由IC型號(hào)確定。文件編號(hào)KL-QAR-WI-004生效日期2008/3/8版本A頁碼第4頁共4頁文件名稱IC質(zhì)量檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)NO項(xiàng)目判定標(biāo)準(zhǔn)缺陷等級(jí)1規(guī)格，型號(hào)核對(duì)外包裝型號(hào)標(biāo)示與BOM/或物料替代表是否一致主要2包裝混裝，錯(cuò)裝，

4、放置不規(guī)則,包裝破損、臟污不允許拒收主要3IC本體標(biāo)示在顯微鏡下核對(duì)本體標(biāo)示是否與文件（IC標(biāo)示圖）一致*注1：真空包裝之IC須拆封在顯微鏡下抽驗(yàn)。*注2：對(duì)已經(jīng)開封之IC或散裝IC,盡可能在顯微鏡下全檢，檢驗(yàn)是否混裝。主要4IC本體外觀1.IC本體上有任何劃傷，劃痕，臟污拒收2.ICPADS氧化拒收次要5ICPAD探測點(diǎn)1.ICPAD上無測試痕跡拒收2.在IC的同一PAD上有3個(gè)或3個(gè)以上測試痕跡拒收主要8.0相關(guān)文件：《抽樣檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書》（YTL-QAR-WI-003）