晶硅進料檢驗規(guī)范

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1、晶硅進料檢驗規(guī)范質量管理部晶硅進料檢驗規(guī)范(初稿)編制:審核:批準:發(fā)布日期:實施日期:19(共12頁)晶硅進料檢驗規(guī)范質量管理部19(共12頁)晶硅進料檢驗規(guī)范質量管理部1目的1.1為規(guī)范所有生產原材料進廠檢驗的標準,驗證進廠原輔材料是否滿足規(guī)定要求,正確地開展檢驗工作,確保未經檢驗或不合格的原輔材料不入庫、不投入生產。2適用范圍2.1與本公司產品有關的原輔材料、外調品等均適用。3術語3.1嚴重缺點:(CRITICALDEFECT)影響人身安全、產品安全的缺陷,違反相關法律法規(guī)要求。3.2主要缺點:(MAJORDEFECT)使用后喪失其功能,或不能

2、達到設計者所期望的目的、顯著降低其實用性的缺陷。3.3次要缺點:(MINORDEFECT)不影響產品的使用性能,在使用和操作效果上無影響的缺陷。4職責4.1質量管理部:進料檢驗員負責原輔材料的檢驗及判定。4.2采購物流部:負責與供應商處理來料檢驗不合格事項及追蹤不良改善效果。4.3調度中心:負責對質量管理部檢驗合格的產品清點數(shù)量后入庫管理。5工作內容5.1抽樣檢驗時取樣原則依《抽樣計劃》規(guī)定要求執(zhí)行。5.1.1外觀檢驗依據(jù)《GB/T2828.1-2003/ISO2859-1:1999正常檢驗單次抽樣計劃表》正常單次抽樣。嚴重缺點:CR=0;主要缺點:

3、MA(AQL)=0.40;次要缺點MI(AQL)=0.65進行檢驗。檢驗項目包裝外觀尺寸抽檢比例AQL=0.65AQL=0.405樣本/批缺陷類別次要缺點(MI)主要缺點(MA)主要缺點(MA)判定結果依AQL執(zhí)行依AQL執(zhí)行Ac=0,Re=119(共12頁)晶硅進料檢驗規(guī)范質量管理部5.2外觀檢測條件:檢驗光源:一般日光燈光源之正下方30cm左右。距離:眼睛離被測物約20~50cm。角度:上下左右45度觀察。檢測位置:產品六個面均需檢驗。6技術規(guī)格及相關內容6.1產品外型檢驗要求及質量等級分類。6.2正面印刷質量與反面印刷質量的檢測與分類。6.3性

4、能測試。19(共12頁)晶硅進料檢驗規(guī)范質量管理部6.1:外型尺寸要求序號項目幾何形狀尺寸規(guī)格等級尺寸公差等級檢驗方式1長×寬正方形A級B級A級B級抽檢156mm×156mm156mm×156mm邊長±0.5mm;垂直度±0.3o邊長±0.5mm垂直度±0.3o2倒角無1.0~1.5mm;45±10o1.0~1.5mm;45±10o無無抽檢19(共12頁)晶硅進料檢驗規(guī)范質量管理部3彎曲度無≤1.87mm(由于工藝的特點,對應電池片儲存后彎曲度為1.5mm)1.87mm<彎曲度≤2.5mm無無全檢6.1.2:外觀要求序號缺陷種類質量要求檢驗方式A級B

5、級1缺角不允許有缺角,但保證正面四個角印刷框線完整全檢2裂紋不允許不允許全檢3V缺口不允許不允許全檢19(共12頁)晶硅進料檢驗規(guī)范質量管理部4非V缺口不允許尺寸≤0.5mm×1.0mm,總數(shù)≤5個全檢5穿孔不允許不允許全檢6正面崩邊崩邊深度≤0.5mm,長度≤1.0mm,總數(shù)不超過3個崩邊深度≤0.5mm,長度≤1.0mm,3<總數(shù)≤5個全檢7顏色電池為深藍、藍色、淺藍或淺淺藍,目視均勻,色差面積≤1㎝2,不允許明顯發(fā)黃電池為深藍、藍色、淺藍或淺淺藍,1cm2<色差面積≤2cm2,目視均勻全檢8沾污無明顯沾污不允許全檢9劃傷刮傷寬度≤1㎜,總長度≤

6、10㎜,不允許破壞減反射層不允許全檢10吸嘴小白圈無明顯印跡不允許全檢19(共12頁)晶硅進料檢驗規(guī)范質量管理部11水紋無明顯水紋不允許全檢12斑點面積≤1.0mm2時,總數(shù)≤1個;面積≤0.2mm2時,總數(shù)≤5個;其余微型斑點,在正常檢驗情況下不明顯即可1.0mm2<面積≤2.0㎡全檢19(共12頁)晶硅進料檢驗規(guī)范質量管理部6.2:正面印刷質量序號檢驗項目質量要求檢驗方式1印刷偏移(左右偏移,角偏移)非MWTMWTA級B級A級B級兩邊距離差≤0.5mm,柵線不能印刷到電池片邊緣0.5mm<兩邊距離差≤0.8mm,柵線不能印刷到電池片邊緣兩邊距離差

7、≤0.4mm,柵線不能印刷到電池片邊緣,主柵交點與孔間距≤0.2mm0.4mm<兩邊距離差≤0.6mm,柵線不能印刷到電池片邊緣,0.2mm≤主柵交點與孔間距≤0.3mm全檢19(共12頁)晶硅進料檢驗規(guī)范質量管理部2正面主柵線缺損面積<0.5mm×3mm,缺損處≤1個缺損面積<0.5mm×3mm,個<缺損處≤2個缺損面積<0.4mm×0.4mm,缺損處≤1;邊緣主柵與主柵第一個交點以外部分主柵不能有斷柵0.4mm×0.4mm<缺損面積≤0.5mm×0.5mm,缺損處≤1,邊緣主柵與主柵第一個交點以外部分主柵允許有1處斷柵全檢3次柵線斷柵(MWT包括

8、主柵)A級B級全檢斷柵長度≤0.5mm,斷柵數(shù)≤3個,且不能在同一條柵線上,不能在平行且相鄰三條柵線的同一個

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