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《巴西mbr粉礦的燒結(jié)基礎(chǔ)特性》由會(huì)員上傳分享，免費(fèi)在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在教育資源-天天文庫(kù)。
1、前言：燒結(jié)生產(chǎn)實(shí)踐和大量的試驗(yàn)研究證明，燒結(jié)生產(chǎn)的產(chǎn)質(zhì)量指標(biāo)與所用粉礦的化學(xué)成份，粒度組成，微觀特征（包括礦物類型、結(jié)晶顆粒的大小，晶體形貌和脈石賦存狀態(tài)、熱分解特性等）和燒結(jié)基礎(chǔ)特性（包括粉礦的同化性、液相流動(dòng)性、粘結(jié)相強(qiáng)度、連晶固結(jié)特性等）是分不開(kāi)的。因此，一種礦物用于燒結(jié)生產(chǎn)，應(yīng)該對(duì)其燒結(jié)基礎(chǔ)特性作一個(gè)全面的測(cè)試和研究，以利實(shí)現(xiàn)科學(xué)合理配礦，本報(bào)告將對(duì)MBR粉礦的燒結(jié)基礎(chǔ)特性作全面介紹。巴西MBR粉礦的燒結(jié)基礎(chǔ)特性許滿興1.MBR粉礦的化學(xué)成份及粒度組成。1.1.MBR粉礦的化學(xué)成份（%）原料TFeFeOCaOSiO2Al2O3MgOTiO2K2OKa2OPS燒損
2、MBR粉礦67.647.940.182.550.610.270.140.0170.0050.0220.0220.031.2.MBR粉礦的粒度及粒度組成（%）粒徑范圍(㎜)0.5-0.5～0.28-0.28～0.154-0.154～0.105-0.105～0.074-0.074MBR粉礦1.721.004.503.1518.5371.10不同種類的鐵礦粉，由于成礦的地質(zhì)作用不同，在成礦過(guò)程中所受的壓力、溫度及環(huán)境等其它因素的影響也不同，故反映在各自的礦物組成和顯微結(jié)構(gòu)上有很大差異。例如，鐵礦粉在成礦過(guò)程中所受的溫度較高時(shí)，礦物結(jié)晶程度高，則鐵礦物的晶粒尺寸就比較大；又如，
3、鐵礦粉在成礦中所受的壓力較高時(shí),鐵礦粉的空隙率小，質(zhì)地就比較致密。而這些微觀特性方面的差異必然會(huì)導(dǎo)致它們?cè)跓Y(jié)性能上的不同。因此，為了燒結(jié)合理配礦，有必要從微觀角度出發(fā)，把握所用鐵礦粉的含鐵礦物類型、晶體形貌、結(jié)晶粒度、脈石賦存狀態(tài)等特性。2.粉礦微觀特性的實(shí)驗(yàn)研究常用的礦物組成及結(jié)構(gòu)測(cè)試方法有：晶體的X射線分析法、微束分析法等。其中微束分析法主要有：透射電子顯微鏡（TEM）、電子探針X射線顯微分析（EPMA）、掃描電子顯微鏡（SEM）等。本實(shí)驗(yàn)研究采用X射線衍射分析和掃描電子顯微鏡加能譜分析的方法。X射線衍射分析法主要是對(duì)鐵礦粉的礦物組成進(jìn)行鑒定，掃描電鏡加能譜分析主
4、要是提供鐵礦粉的顯微結(jié)構(gòu)以及有關(guān)脈石礦物存在狀態(tài)的更為詳細(xì)的信息。X射線衍射分析的工作原理是：高能電子束轟固體樣品表面時(shí)，可以產(chǎn)生被激發(fā)元素的特征X射線。特征X射線是元素原子中的電子層受到加速電子轟擊，入射電子的能量大于該元素的臨界激發(fā)能量時(shí)，可把某一軌道上的電子轟擊出來(lái)產(chǎn)生空穴。在這種情況下，高能級(jí)的外層電子就會(huì)立即向低能級(jí)的電子層中的空穴躍遷。同時(shí)，多余的能量以X射線2.1研究方法的形式釋放出來(lái)，由于不同元素的原子結(jié)構(gòu)不同，電子躍遷的方式和多余能量的大小各異，不同元素所產(chǎn)生的同一線系的X射線的波長(zhǎng)就有明顯的差別。不同的波長(zhǎng)代表不同的元素，因此稱之為特征X射線。利用元
5、素的特征X射線，可以進(jìn)行元素的成分分析。掃描電鏡的工作原理是：高能電子束轟擊固體樣品表面時(shí)，可以產(chǎn)生被激發(fā)物的二次電子和背散射電子，應(yīng)用二次電子和背散射電子所表達(dá)的信息，可以對(duì)被測(cè)物質(zhì)的微觀特征進(jìn)行測(cè)定。二次電子是指高能電子束轟擊在樣品表層原子的電子殼上，將電子層中的電子激發(fā)出樣品表面，這部分逸出樣品表面的電子稱為二次電子。由于樣品的凹凸不平，熒光屏上的電子束對(duì)樣品進(jìn)行步掃描時(shí),各點(diǎn)所激發(fā)的二次電子的數(shù)目不同，這樣就構(gòu)成了圖像襯度,反映出樣品表面的形貌。掃描電鏡利用二次電子顯示出的樣品圖像叫二次電子像（SEI）。背散射電子是指入射到樣品表面的高能電子樣品接觸時(shí)，有一部分
6、電子會(huì)幾乎不損失其能量地在樣品表面被散射出去，這部分電子稱為背散射電子，由于低原子序數(shù)的元素反射效率低、高原子序數(shù)的元素反射效率高，背散射電子可構(gòu)成元素組成的形貌圖像。掃描電鏡利用背散射電子顯示出樣品圖像稱為背散射圖像（QBSD）。由于二次電子具有較高的空間分辨率，因此二次電子像（SEI）的效果比背散射像（QBSD）的效果好。但是，有的樣品的二次電子容易產(chǎn)生放電，使成像質(zhì)量極差，這時(shí)就只能利用背散射電子從而獲得清晰的圖像。能譜儀的工作原理是通過(guò)檢測(cè)的特征X射線的強(qiáng)度進(jìn)行元素的定性、定量分析。因?yàn)樵氐奶卣鱔射線不但具有一定的波長(zhǎng)，而且有一定的能量；相同元素不僅波長(zhǎng)相同，
7、而且能量也相同，不同元素的特征X射線的波長(zhǎng)的能量完全不同。利用鋰漂移硅檢測(cè)器檢測(cè)樣品發(fā)出的特征X射線，經(jīng)過(guò)一系列的信號(hào)轉(zhuǎn)化，使特征X射線的能量以譜線的形式顯示在熒光屏上。根據(jù)譜線在不同的能量位置，就可定性地確定所測(cè)元素。用求出的相應(yīng)譜線的強(qiáng)度與標(biāo)樣強(qiáng)度的比值經(jīng)過(guò)校正，即可得到各元素的重量百分比。本實(shí)驗(yàn)研究所使用的X射線衍射分析儀型號(hào)為D/MAX-2500；掃描電鏡分析儀及其附屬設(shè)備的型號(hào)為L(zhǎng)EO-435VP2.2實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析2.2.1X射線衍射圖2.1MBR粉礦的X射線衍射圖譜。圖中，橫軸為衍射角，縱軸為衍射強(qiáng)度。表2.1給出了MBR粉
