【7A文】陸源碎屑巖的粒度分析.ppt

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1、陸源碎屑巖的粒度分析目錄一、實驗?zāi)康呐c要求二、實驗內(nèi)容三、實驗指導(dǎo)四、粒度分析的方法五、利用粒度分析結(jié)果作圖六、粒度分析參數(shù)的計算一、實驗?zāi)康呐c要求1、了解粒度分析的常用方法。2、學(xué)會并掌握應(yīng)用粒度分析結(jié)果進行計算和作圖的方法。3、學(xué)會并掌握運用計算和作圖成果，初步分析樣品的形成環(huán)境。二、實驗內(nèi)容1.用給定的粒度分析數(shù)據(jù)表繪制直方圖、頻率曲線、累積曲線和概率累積曲線。2.利用薩胡判別公式計算粒度參數(shù)。3.根據(jù)曲線圖和粒度參數(shù)的計算結(jié)果分析樣品的形成環(huán)境。三、實驗指導(dǎo)粒度分析即是測量顆粒大小，并按粒級分類，分別計算各粒級碎屑的百分含量。粒度分析也可以用于

2、粘土巖和碳酸鹽巖。粒度分析的目的是為了分析巖石的形成條件，為沉積相分析提供重要的依據(jù)，同時也為旋回分析、地層對比提供資料。另外巖石的分選性與巖石的孔隙度、滲透率有密切關(guān)系，因此粒度分析資料對水文地質(zhì)與石油地質(zhì)也有很大意義。四、粒度分析的方法粒度分析方法很多，主要決定于粒度大小和樣品情況，其常用方法有以下幾種：1.直接測量法對粗大的礫石或礫巖采用直接測量法。直接用尺測量A軸或A、B、C三軸。測后按粒級分別歸類，并求得各粒級百分含量。要求測150－300個顆粒。如要求精度高可測量A、B、C三軸，用公式求得直徑，然后分別按粒級計算百分含量。2.篩析法篩析法是

3、用一套具不同粒級孔徑的篩子將碎屑分開的方法。選用篩子的間距可根據(jù)研究程度要求而定,一般選用1/2φ或1/4φ間距,應(yīng)用結(jié)果作圖和解釋形成條件效果較好。篩析法實用范圍是：①細礫和砂樣，②松散的或可解離的巖石。軟的和脆性碎屑樣不宜做篩析，以免在篩析過程中破碎變細，影響效果。表3-1是某樣品經(jīng)篩析后所得數(shù)據(jù)。3.顯微鏡下薄片粒度分析法對于固結(jié)又難于解離開的砂巖和粉砂巖只有采用薄片粒度分析法。它是測定一定粒度的顆粒數(shù)的百分比，而不是重量百分比，是屬于粒算法。（1）顯微鏡下鑒定和測量粒度大小的方法①換上帶有目鏡微尺的目鏡。微尺每小格代表的長度不固定，不同放大倍數(shù)

4、格值大小不同。②將物臺微尺置于物臺上，使物臺微尺進入視域并對好焦距，然后使物臺微尺零線對齊目鏡微尺的一端橫線，并與縱絲重合平行（物臺微尺有刻2mm長的和1mm長的）。③計算目鏡微尺每小格的數(shù)值。因物鏡放大倍數(shù)不同，因此目鏡微尺的每一格所代表的數(shù)值也不同，不同放大倍數(shù)的物鏡均需換算;例如，用中倍鏡(x10)計算目鏡微尺一小格數(shù)值：目鏡微尺80小格等于物臺微尺1mm∴目鏡微尺一小格=1/80＝0.0125mm高倍鏡和低倍鏡目鏡微尺小格數(shù)計算方法相同。注意，用各種型號顯微鏡時均要重新計算。（附各種型號顯微鏡的不同物鏡的目鏡微尺格值）④取去物臺微尺換上薄片即可

5、測量碎屑顆粒的大小。如碎屑顆粒直徑為5個小格，則該顆粒大小為5×0.0125mm=0.0625mm屬微粒砂級。注意的問題：目測或在顯微鏡下測量碎屑顆粒直徑時，均要注意全面觀察巖石，注意碎屑顆粒大小是否均勻，分布如何，如果是不均勻的，則應(yīng)在觀察和描述時需指出最大顆粒直徑和含量及其分布；最小顆粒直徑和含量；一般顆粒直徑及含量，以及分布（成層或是遞變或是均勻分布）等。江南牌XP－213型顯微鏡各種技術(shù)參數(shù)序號顯微鏡物鏡放大倍數(shù)（目鏡為×10倍）視域內(nèi)物鏡微尺1mm對應(yīng)目鏡微尺的格子數(shù)14×3.9格/mm210×10格/mm325×25格/mm序號顯微鏡物鏡放

6、大倍數(shù)（目鏡為×10倍）視域內(nèi)目鏡微尺1格對應(yīng)的毫米數(shù)14×0.2564mm/格210×0.1mm/格325×0.04mm/格（2）顯微鏡下薄片中的顆粒選擇方法抽樣方法：是選擇欲測顆粒時方法，是粒度分析的重要一環(huán)，包括：點計法線計法帶計法①點計法：使用網(wǎng)格目鏡，凡是網(wǎng)格交點遇到的顆粒均為要測定的顆粒（見圖）。按粒徑分別計數(shù)?？陕?lián)合使用點計目鏡和電動計數(shù)器或點計機械臺和自動點計器。網(wǎng)格間距要大于薄片內(nèi)最大顆粒的粒徑。②線計法：使用機械臺等距離移動薄片，測定縱絲或橫絲通過的全部顆粒的粒徑，并分別計數(shù)。線間距要大于最大顆粒的粒徑。③帶計法：測定一個帶內(nèi)的全部

7、顆粒的粒徑。帶的寬度應(yīng)大于薄片內(nèi)最大顆粒的粒徑。選擇包括顆粒較多的薄片中間部分，使之有代表性。然后在垂直目鏡微尺的方向上慢慢移動薄片，按粒徑分別計數(shù)。測量數(shù)目：一般測300－500顆粒即可達到穩(wěn)定頻率。但測量時注意測線布置要均勻，不能太集中，特別是對分選差、分布不均勻的巖石。（3）薄片粒度分析步驟a、在巖石薄片鑒定的基礎(chǔ)上，根據(jù)工作需要選擇抽樣方法和確定線間距，并確定好統(tǒng)計粒級間距是1/2φ或1/4φ，制粒度分析統(tǒng)計計算表（見表3－0）。b、測定不同放大倍數(shù)的顯微鏡目鏡微尺的格直。并計算好各粒級不同放大倍數(shù)的目鏡格數(shù)填入粒度分析統(tǒng)計計算表相應(yīng)格中。c、

8、將機械臺裝在顯微鏡的物臺上，夾好薄片。將機械臺的南北軸固定在零點或薄片的最左邊。d、轉(zhuǎn)動機械臺