聚酰亞胺介孔分子篩低介電常數(shù)復合薄膜的制備及性能研究

聚酰亞胺介孔分子篩低介電常數(shù)復合薄膜的制備及性能研究

ID:33663082

大?。?.10 MB

頁數(shù):66頁

時間:2019-02-28

聚酰亞胺介孔分子篩低介電常數(shù)復合薄膜的制備及性能研究_第1頁
聚酰亞胺介孔分子篩低介電常數(shù)復合薄膜的制備及性能研究_第2頁
聚酰亞胺介孔分子篩低介電常數(shù)復合薄膜的制備及性能研究_第3頁
聚酰亞胺介孔分子篩低介電常數(shù)復合薄膜的制備及性能研究_第4頁
聚酰亞胺介孔分子篩低介電常數(shù)復合薄膜的制備及性能研究_第5頁
資源描述:

《聚酰亞胺介孔分子篩低介電常數(shù)復合薄膜的制備及性能研究》由會員上傳分享,免費在線閱讀,更多相關內容在學術論文-天天文庫。

1、北京化工大學碩士研究生畢業(yè)論文聚酰亞胺/介孔分子篩低介電常數(shù)復合薄膜的制備及性能研究摘要隨著超大規(guī)模集成電路(ULSI)器件集成度的提高,亟需開發(fā)新型低介電常數(shù)(10w.k)材料來降低由于特征尺寸的降低所帶來的信號容阻(RC)延遲、串擾以及能耗等問題。聚合物基復合薄膜在微電子行業(yè)具有廣闊的應用前景,氧化硅介孔分子篩MCM.4l具有超低介電常數(shù),使其成為比較合適的低介電復合材料的填料。本文主要研究了聚酰亞胺/介孔分子篩(P蹦CM41)復合薄膜的制備方法及其性能。采用溶膠.凝膠法制備了MCM41分子篩,分別通過原位分散聚合工藝和球磨分散工藝將具有超低介電常數(shù)的MCM.4l粒子復合到PI

2、基體中以制備低介電常數(shù)PⅢCM.41復合薄膜。采用TEM、SEM、U譏Ⅵs、TGA、阻抗分析儀等對復合薄膜的微觀結構、熱性能、電性能等進行了研究。結果顯示:無機粒子在P瑚CM.4l復合薄膜中分散均勻,介電常數(shù)降至2.58,體積電阻率和擊穿場強均得到提高,分別達到3.139×1016Q皿和255.45MVm~。球磨工藝得到的復合薄膜性能要優(yōu)于原位分散聚合得到的復合薄膜性能。這樣的低介電復合材料有望在集成電路中得到應用。關鍵詞:聚酰亞胺,MCM-41,低介電常數(shù),擊穿強度,電阻率北京化工大學碩士研究生畢業(yè)論文PREPARATIoNANDPRoPERTIESoFPoLyIMIDE/MES

3、oPoRoUSSILICASIEVECoMPoSITEFILMSWITHLoWDIELECTIUCCoNSTANTABSTRACTLowdielectricconstantmaterialswereexploredinordertoreducetheresistancecapacitancetime(RC)delay,cross—tall(sandpowerconsumptioncausedbytheincreasingdeVicedensitiesinultra-1a唱e—scaleintegrated(ULSI)cirCuits.P01ymer-baseddielectricc

4、oII]lposite矗1msheVebeenproVedt0bepromisingforuseinmeInicroelectronicsindus略TheMCM一41withmeultralowdielectdcconstantwaSmixedintOp01yIllerstoobtainthe10w-kcompositefilms.Inthiswork,pr印arationandpropeniesofp01),imide/mesoporoussieve(PI/MCM一41)compositcfilmswerestudied.ThemesoporoussieveMCM-41wass

5、yIlthesizedbyⅡlesol·gelmethod,andlow-kPUMCM一4lcompositefilmswithdi蜀f.erentloadingofMCM一4lpanicleswerepr印aredusingthemethodsofin—situpolylnerizationand北京化工大學碩士研究生畢業(yè)論文ball—milling,respectiVely.TEM,SEM,themalconstantsanalyzer'impedanceanalyzerwereusedtocharacterizethemicrostructuresandmeasurethem

6、e咖alanddielectricpropeniesoftheachievedPI/MCM一41Compositefilms.TheresultsshowedthatMCM4lpaniclesweredispersedweninPImatrixandthedielectricconstantofP聊訂CM-41conlpositefilmswasdecreasedto2.58.Meanwhile,t11ev01umeresistivityandbreakdownstrengmwereincreasedto3.139×1016Q.mand255.45MVm~,respectively

7、ItwasobviousthatthedielectricpropertiesofP們MCM一4lcompositefilmsbyball·millingarebetterthanthosepreparedbyin-situdispersionpolyIllerization.Therefore,thiskindofPI/,MCM一41coInpositefilmshaspotentialandbroadapplicationsinmicroelectronicind

當前文檔最多預覽五頁,下載文檔查看全文

此文檔下載收益歸作者所有

當前文檔最多預覽五頁,下載文檔查看全文
溫馨提示:
1. 部分包含數(shù)學公式或PPT動畫的文件,查看預覽時可能會顯示錯亂或異常,文件下載后無此問題,請放心下載。
2. 本文檔由用戶上傳,版權歸屬用戶,天天文庫負責整理代發(fā)布。如果您對本文檔版權有爭議請及時聯(lián)系客服。
3. 下載前請仔細閱讀文檔內容,確認文檔內容符合您的需求后進行下載,若出現(xiàn)內容與標題不符可向本站投訴處理。
4. 下載文檔時可能由于網絡波動等原因無法下載或下載錯誤,付費完成后未能成功下載的用戶請聯(lián)系客服處理。