cpk教材(ppt 21)

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1、CPK教材一.統(tǒng)計(jì)制程管制1.統(tǒng)計(jì)(Statistics):搜集,整理,分析,解析數(shù)據(jù),以小看大,并做成結(jié)論2.統(tǒng)計(jì)制程管制(SPC:StatisticalProcessControl):依計(jì)劃收集制程連續(xù)數(shù)據(jù)資料,提供各種統(tǒng)計(jì)分析及管制圖之處理,計(jì)算,圖示與列表,以達(dá)成預(yù)防,避免不良的管制要求.3.統(tǒng)計(jì)方法:設(shè)計(jì)抽樣計(jì)劃,由樣本推測母體二.相關(guān)知識(shí)介紹1.數(shù)據(jù)分類(Datacategory)計(jì)量值(Variables):連續(xù)性,即兩數(shù)值間有無限可能數(shù)字.計(jì)數(shù)值(Attribues):間斷性,即兩數(shù)值間只容許有限可能數(shù)字2.名詞介紹:批(Lot):在相同條件下生產(chǎn)之一群東西的集合樣本(Sam

2、ple):要研究某種特性的部分個(gè)之集合.不良率P=d/n=不良數(shù)/檢驗(yàn)數(shù)影響度=(某種不良的各數(shù)/不良總數(shù))*100%PPM(PartsPerMillion):每百萬個(gè)單位的不合格數(shù).三.品質(zhì)變異原因1.機(jī)遇原因(chancecauses)不可避免之原因、非人為原因等.如:(1)同一量測工具由同一人量測同一位置,在短時(shí)間內(nèi)所量測值亦有差異存在.(2)在生產(chǎn)操作條件容許範(fàn)圍內(nèi)所生產(chǎn)之產(chǎn)品變異.(3)氣候或是環(huán)境變化.三.品質(zhì)變異原因2.非機(jī)遇原因(AssignableCauses)可避免之原因,人為原因,異常原因等如:(1)人的變異:操作人員變動(dòng)、教育訓(xùn)練不足、未依MI規(guī)定操作等(2)機(jī)臺(tái)變異

3、:設(shè)備變動(dòng)、老化等.(3)材料變異:混料、原材不良、變更等(4)工作方法變化:MI不完善、量具或手法不正確等四.制程能力分析AnalysisforProcessCapability1.主要是為了要了解一個(gè)穩(wěn)定的制程系統(tǒng)中機(jī)遇原因之變異程度2.用簡單的數(shù)字與等級(jí)來評(píng)價(jià)生產(chǎn)的實(shí)際生產(chǎn)能力3.進(jìn)行制程能力分析前提(1)制造工程的能力是由許多因素造成,從品質(zhì)設(shè)計(jì)開始,包含原材、機(jī)器、作業(yè)方法、檢驗(yàn)員技能、檢驗(yàn)設(shè)備等因素,而這些因素里有任何變化即可影響其制程能力.(2)將上述會(huì)影響的因素予以標(biāo)準(zhǔn)化后,徹底的實(shí)施,直到該制程的測定值均在穩(wěn)定的狀態(tài)下,才可調(diào)查其制程能力.4.制程能力分析的用途(1)提供資

4、料數(shù)據(jù),使設(shè)計(jì)門能利用目前制程能力設(shè)計(jì)最適合生產(chǎn)的產(chǎn)品(2)驗(yàn)收全新或是經(jīng)過修理后的設(shè)備(3)利用機(jī)臺(tái)能力去安排適當(dāng)?shù)墓ぷ?4)選擇生產(chǎn)因素最佳組合(5)改善人、機(jī)、料、法,逐步設(shè)法減少制程中的變異使制程能符合要求或規(guī)格,如設(shè)備不穩(wěn)定、不合理公差、制程變異大,零件變異大,操作錯(cuò)誤,測定偏差.(6)提供最經(jīng)濟(jì)的生產(chǎn).五.CPK概論一.名詞介紹CPK:制程能力指數(shù)CapabilityofprocessCa:制程準(zhǔn)確度(偏離度)CapabilityofAccuracyCp:制程精密度(一致性)CapabilityofPrecisionσ:標(biāo)準(zhǔn)差SU:規(guī)格上限SL:規(guī)格下限μ:規(guī)格中心值T:規(guī)格公差

5、=SU-SLX:平均數(shù)=ΣX/n所有數(shù)據(jù)集合之重心Σ:加總二.常見的規(guī)格分類:雙邊規(guī)格:如18±0.5單邊規(guī)格:如18+0.5(18-0)、18+0.7(18+0.2)、400克以上、0.3mm以下不平衡規(guī)格:如18+0.7(18-0.2)σ(標(biāo)準(zhǔn)差)σ是指所有數(shù)據(jù)與平均數(shù)的平均距離(或離散度)計(jì)算公式:1.由樣本特性值計(jì)算:*如樣本為整體,則計(jì)算公式2(∑X)Σ22(X)∑X?ΣX2?nσ=σ=nn?1n2.由次數(shù)分配表計(jì)算:22(∑fu)∑fu?∑fσ=∑f?13.由管制圖計(jì)算:sample2345R系數(shù)1.1281.6932.0593.326σ=d2Ca(制程準(zhǔn)確度)Ca:表示制程生產(chǎn)

6、所產(chǎn)出的產(chǎn)品所獲得的實(shí)際平均值(X)與規(guī)格中心值(μ)之間偏移的程度.X計(jì)算公式:x?μμCa=T2Ca越大,平均值(X)與規(guī)格中心值(μ)偏移就越大.正常的制程所生產(chǎn)出的產(chǎn)品是以規(guī)格中心為中心成左右對(duì)稱之常態(tài)分配單邊規(guī)格無CaGradeofCa(Ca等級(jí)化分)GradeCavalueA│Ca│≦12.5%B12.5%<│Ca│≦25.0%C25.0%<│Ca│≦50.0%D50.0%<│Ca│Cp(制程精密度)Cp:表示制程生產(chǎn)所產(chǎn)出產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)差(σ)─以抽樣來計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)差(樣本n>=50),用6σ與規(guī)格公差(T)間的比較計(jì)算公式:TCp=雙邊規(guī)格:6σS?XUSUSL單邊規(guī)格:Cp=3σ6

7、σX?SLCp=3σ不平衡規(guī)格:轉(zhuǎn)變?yōu)殡p邊來計(jì)算GradeofCP(CP等級(jí)化分)GradeCpvalueA1.33≦CpB1.00≦Cp<1.33C0.83≦Cp<1.00DCp<0.83CPK(制程能力指數(shù))CPK是總合Ca與Cp二值之指數(shù),即同時(shí)考慮數(shù)據(jù)的偏移度與一致程度.計(jì)算公式:Cpk=(1?│Ca│)Cp若規(guī)格為單邊則CPK=CPGradeofCPKGradeCpkvalueA1.33≦CpkB1

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