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1、LED驅(qū)動(dòng)電源性能退化評(píng)估及測(cè)試方法研究重慶大學(xué)碩士學(xué)位論文（專業(yè)學(xué)位）學(xué)生姓名：王燕指導(dǎo)教師：程森林副教授兼職導(dǎo)師：鄧玉金高工學(xué)位類別：工程碩士（控制工程領(lǐng)域）重慶大學(xué)自動(dòng)化學(xué)院二O一六年四月ResearchonMethodofPerformanceDegradationEvaluationandTestforLEDDrivePowerSupplyAThesisSubmittedtoChongqingUniversityinPartialFulfillmentoftheRequirementforProfessionalDegreeByWangYa
2、nSupervisedbyAss.Prof.ChengSenlinPluralisticSupervisedbySeniorEng.DengYujinSpecialty:ME(ControlEngineeringField)CollegeofAutomationofChongqingUniversity,Chongqing,ChinaApril2016重慶大學(xué)碩士學(xué)位論文中文摘要摘要隨著LED技術(shù)的快速發(fā)展，LED燈具已廣泛應(yīng)用于家居照明、道路照明、工業(yè)照明及商業(yè)照明等領(lǐng)域，其壽命也越來越受到人們的關(guān)注。在與企業(yè)合作的過程中，發(fā)現(xiàn)目前LED產(chǎn)品壽命測(cè)
3、試方面存在以下問題：老化試驗(yàn)測(cè)試時(shí)間過長(zhǎng)、多以光源的壽命作為整燈的壽命而忽略了LED驅(qū)動(dòng)電源壽命對(duì)整燈壽命的影響等。針對(duì)上述問題，課題以室內(nèi)LED燈具的驅(qū)動(dòng)電源作為獨(dú)立研究對(duì)象，研究了基于性能退化的LED驅(qū)動(dòng)電源壽命預(yù)測(cè)相關(guān)技術(shù)，主要完成了以下工作：針對(duì)產(chǎn)品溫度應(yīng)力加速退化試驗(yàn)基礎(chǔ)薄弱，分析了關(guān)鍵元器件性能退化機(jī)理，重點(diǎn)分析了溫度對(duì)LED照明產(chǎn)品驅(qū)動(dòng)電路中各元器件的影響，在PSpice仿真環(huán)境下分析了表征電源退化的性能參數(shù)。通過對(duì)幾類加速退化試驗(yàn)方案的比較研究，建立了針對(duì)LED驅(qū)動(dòng)電源的溫度步進(jìn)應(yīng)力加速退化試驗(yàn)(SSADT)方案，以試驗(yàn)費(fèi)用為約束條件
4、，在試驗(yàn)應(yīng)力水平、試驗(yàn)時(shí)間和樣品數(shù)量等方面對(duì)試驗(yàn)方案進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)。針對(duì)實(shí)際LED驅(qū)動(dòng)電源的具體規(guī)格和性能退化特性，搭建了性能退化參數(shù)監(jiān)測(cè)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，根據(jù)獲得的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，確定了電源正常工作時(shí)的應(yīng)力水平和表征其退化的性能參數(shù)?；诨貧w模型進(jìn)行電源退化性能分析與描述，建立了退化模型和加速模型，基于定量計(jì)算，對(duì)LED驅(qū)動(dòng)電源做了性能退化評(píng)估，獲得了LED電源壽命預(yù)測(cè)值和可靠度曲線。上述開發(fā)的LED驅(qū)動(dòng)電源性能退化參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)和提出的溫度步進(jìn)應(yīng)力加速退化試驗(yàn)方法，可在較短時(shí)間內(nèi)完成對(duì)LED驅(qū)動(dòng)電源的壽命預(yù)測(cè)，為L(zhǎng)ED整燈壽命預(yù)測(cè)提供了一種可供借鑒參考的途徑。關(guān)
5、鍵詞：LED驅(qū)動(dòng)電源，性能退化，SSADT，回歸模型，壽命預(yù)測(cè)I重慶大學(xué)碩士學(xué)位論文英文摘要ABSTRACTWiththerapiddevelopmentofLEDtechnology,LEDlightinghavebeenwidelyappliedinhome,road,industrialandcommercialandsoon.Duringcooperatingwithenterprise,someproblemsonproductlifetimetestinghavebeenfound,suchastoolongtesttime,common
6、lyignoringinfluenceofLEDdrivepoweronwholelampwhenadoptingthelifespanoflightingsourceastheoneofthewholeLEDlamp.Tosolvetheseproblems,basedontheLEDdrivepowerlocatedintheinteriorastheseparateresearchobject,lifetimetestingtechnologyofLEDdrivepowerwasresearched.Theworkshavebeenmainly
7、completedasfollows.AimedattheweakfoundationoftemperaturestressaccelerateddegradationtestforthetargetLEDproduct,itanalyzedperformancedegradationmechanismofthekeycomponentsinthecircuit,especiallytheinfluenceoftemperatureonthecomponents,andalsoanalyzedtheperformanceparameterswhich
8、couldcharacterizethedegradationofdriversinPSpicesimula
