各種近遠場天線測量系統(tǒng)比較

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1、各種近遠場天線測量系統(tǒng)比較按照天線場區(qū)的劃分，天線測量系統(tǒng)可分為遠場測量系統(tǒng)和近場測量系統(tǒng)。1.遠場測量系統(tǒng)遠場測量系統(tǒng)按使用環(huán)境可分為室外遠場測量系統(tǒng)和室內遠場測量系統(tǒng)。室外遠場需要較長的測量距離，通常用天線高架法來盡量減小地面反射，其他架設方法還有地面反射法和斜距法。室外遠場測量需要在合適的外部環(huán)境和天氣下進行，同時，室外遠場對安全和電磁環(huán)境有較高要求。室內遠場在微波暗室中進行，暗室四周和上下鋪設吸波材料來減小電磁反射。如果暗室條件滿足遠場測量條件，可選擇傳統(tǒng)遠場測量法，如果測量距離不夠遠場條件，可以選擇緊縮場，通過反射天線在被測天線處形成平面電磁波。2.近場測量系統(tǒng)近場測量在天

2、線輻射近場區(qū)域實施。在三至五個波長的輻射近場區(qū)，感應場能量已完全消退。采集這一區(qū)域被測天線輻射的幅度和相位數(shù)據(jù)信息，通過嚴格的數(shù)學計算就可以推出被測天線測遠場方向圖。按照掃描方式的不同，常用的近場測量系統(tǒng)可以分為平面近場系統(tǒng)、柱面近場系統(tǒng)和球面近場系統(tǒng)。（1）近場測量系統(tǒng)平面近場測量系統(tǒng)在輻射近場區(qū)的平面上采集幅相信息，這種類型的測試系統(tǒng)適用于增益>15dBi的定向天線、陣列天線等，最大測量角度<±70º。（2）柱面測量系統(tǒng)柱面近場測量系統(tǒng)在輻射近場區(qū)的柱面上采集幅相信息，這種類型的測試系統(tǒng)適用于扇形波束和寬波瓣的天線。（3）球面測量系統(tǒng)球面近場測量系統(tǒng)在輻射近場區(qū)的球面上

3、采集幅相信息，這種類型的測試系統(tǒng)適用于低增益的寬波瓣或全向天線。3.如何選擇天線測量系統(tǒng)，需要考慮到的幾個重要的特性和指標：1.天線應用領域；2.遠場角度范圍：遠場波瓣圖坐標系、各種天線性能參數(shù)定義、副瓣和后瓣特性；3.電尺寸：根據(jù)電尺寸和計算出遠場距離；4.方向性指標：寬波瓣或窄波瓣；5.工作頻率和帶寬：工作頻率設計到吸波材料尺寸和暗室工程設計及造價；6.環(huán)境和安全性要求：天氣、地表環(huán)境等因素；7.其他因素：轉臺或鉸鏈、通道切換開關等。????????????????近場（平面、柱面、球面）測量系統(tǒng)與遠場

4、（室外、室內、緊縮場）測量系統(tǒng)的能力比較近場遠場平面柱面球面室外室內緊縮場高

5、增益天線優(yōu)秀良好良好足夠足夠優(yōu)秀低增益天線較差良好良好足夠良好優(yōu)秀高頻優(yōu)秀優(yōu)秀優(yōu)秀良好較差優(yōu)秀低頻較差較差良好良好一般較差增益測量優(yōu)秀良好良好優(yōu)秀良好優(yōu)秀近區(qū)副瓣優(yōu)秀優(yōu)秀優(yōu)秀良好較差優(yōu)秀遠區(qū)副瓣足夠優(yōu)秀優(yōu)秀良好較差良好低副瓣優(yōu)秀優(yōu)秀優(yōu)秀不定較差良好軸比優(yōu)秀優(yōu)秀優(yōu)秀良好較差良好零深優(yōu)秀較差良好較差較差較差多路徑良好良好良好足夠足夠良好天氣影響優(yōu)秀優(yōu)秀優(yōu)秀較差優(yōu)秀優(yōu)秀安全性優(yōu)秀優(yōu)秀優(yōu)秀較差優(yōu)秀優(yōu)秀設備成本低中等中等高中等非常高運行成本中等中等中等高中等中等速度（全部）優(yōu)秀良好一般一般一般一般速度（切面）良好一般一般優(yōu)秀優(yōu)秀優(yōu)秀機械表面測量優(yōu)秀無無無無無天線對準容易一般困難一般一般困難