天瑞瓷器古玩古董鑒定儀器

《天瑞瓷器古玩古董鑒定儀器》由會員上傳分享，免費在線閱讀，更多相關內(nèi)容在行業(yè)資料-天天文庫。

1、EDX3600L古玩古董鑒定斷代檢測儀器EDX3600L古玩古董鑒定斷代檢測儀器EDX3600L古玩古董鑒定斷代檢測儀器EDX3600L古玩古董鑒定斷代檢測儀器供應天瑞EDX3600L古玩古董鑒定斷代檢測儀器的詳細信息·品牌：天瑞·型號：EDX3600L·類型：其他·電源電壓：220VEDX3600L古玩古董鑒定斷代檢測儀器·適用范圍：鈉-鈾元素·加工定制：是·外形尺寸：800×710×1360mm·重量：280㎏·供應天瑞EDX3600L古玩古董鑒定斷代檢測儀器一、文物簡介????文物因其特殊的屬性而具有較高

2、的觀賞價值和經(jīng)濟價值，正因為這樣，大量的假貨、贗品充斥市場也就在所難免了，為了辯識文物的真?zhèn)?，文物鑒定工作越來越受到社會各界的廣泛關注。文物鑒定在中國大百科全書中被定義為：運用科學方法分析、辯識文物年代、真?zhèn)?、質地、用途和價值的工作。這里所說的科學方法包括通常所說的傳統(tǒng)鑒定方法和現(xiàn)代儀器分析方法，傳統(tǒng)的鑒定方法是指憑借自古以來人們在對文物進行長期的研究、鑒識中積累的經(jīng)驗，基于器型學、金石學以及考古地層學的理論，以分類、比較、辯識的方法對器物進行直觀的綜合考察，此方法對鑒定人員的閱歷、經(jīng)驗有較高的要求。其鑒定的真

3、實性、可靠性和權威性已然受到越來越多的贗品和高仿復制品的挑戰(zhàn)，現(xiàn)在，越來越多的人開始將眼光投向了更為客觀的儀器分析方法。二、文物鑒定????斷源與斷代是古陶瓷科學技術研究中的兩個重要方面，其中必定要使用到對古陶瓷標本的化學組成以及記錄其年代信息的載體進行測定的科學方法。測定古陶瓷標本與各地制陶原料的化學組成可以確定古陶瓷的產(chǎn)地，并可在一定程度上幫助判斷古陶瓷的燒造年代；而通過檢測保留在古陶瓷內(nèi)部的記錄其年代信息的各種載體，則可以較準確的進行斷代。????能量色散X熒光能譜(EDXRF)是以X射線照射到樣品表面，

4、利用能譜儀測定各種元素的特征X射線光子的能量和強度，以此來進行定性和定量分析。這種方法樣品處理很簡單，分析速度快，測量元素范圍廣，配合適當?shù)臉藴蕝⒖嘉锟傻玫捷^好的準確度，對樣品表面基本無損傷，如果在儀器定制時加裝真空大樣品室，就可以進行大器物的無損測試了。綜合這些優(yōu)點，可以認為它是目前進行古陶瓷無損鑒定比較好的一種方法。????陶瓷器的鑒定曾經(jīng)一度受到不可采樣的限制，僅對一些大型器物底部取樣作些熱釋光的年代分析工作，一些造假者甚至利用射線源對新燒的仿制品進行輻照處理，以期對熱釋光的檢測造成假象，干擾測試結果的結

5、論。自打八十年代以來，大樣品室的X射線熒光能譜儀問世，瓷器的釉表面成分原位無損檢測既成事實，為瓷器的真?zhèn)闻袆e引入了一種全新的方法。最近一兩年，由于河南汝窯遺址的發(fā)現(xiàn)，文物市場上一時間汝窯瓷器泛濫，各種形制、顏色的汝窯器著實讓人眼花繚亂。在使用X射線熒光能譜儀對其瓷釉表面成分進行無損分析的過程中粗略統(tǒng)計了一下，民間收藏的待測品九成以上都是假貨，其中大多數(shù)瓷釉成分中含有現(xiàn)代瓷釉制造的添加劑，而這些組分是宋代瓷釉中不可能出現(xiàn)的成分，用能譜儀檢測此類器物可謂是輕而易舉、手到擒來。我們知道絕大多數(shù)瓷釉的基本組分是由十種元

6、素即：鈉、鎂、鋁、硅、磷、鉀、鈣、鈦、錳、鐵的氧化物構成，不同時代、窯口燒造的瓷釉其組成成分的配比是有區(qū)別的，正因如此，我們可對大量經(jīng)科學考古發(fā)掘的有確定年代和出土地點依據(jù)的參考瓷片釉層成分做出成分配比的數(shù)值分布范圍，將受鑒定樣品的成分配比與相應時代的參考片成分進行比對，據(jù)此判斷被檢樣品在成分構成上的可靠性，實踐證明，當前文物市場中周轉的陶瓷器文物，有半數(shù)以上成分配比與古瓷片有較大差距，另有相當一部EDX3600L古玩古董鑒定斷代檢測儀器分含有古代瓷器瓷釉中所沒有的組成成分，如氧化鋅、氧化鋇、氧化鋯等現(xiàn)代瓷釉添

7、加劑，對于這類贗品瓷器，通過成分檢測可以非常容易的認定其屬性。如仿汝瓷釉含氧化鋯、氧化鋅。三、解決方案我公司生產(chǎn)的EDX3600L系列的儀器是一款專門針對于古文物檢測而量身定做的無損測量的能量色散X熒光分析儀器，其技術參數(shù)如下：產(chǎn)品名稱：SkyrayX熒光光譜儀?型號：EDX3600L??????測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）元素含量分析范圍：1ppm—99.99%?分析精度：0.05%?同時分析元素：幾十種元素同時分析測量鍍層：鍍層厚度測量最薄至0.01微米測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體?測量時間：60

8、s—200s??管壓：5KV—50KV?管流：50uA—1000uA?輸入電壓：AC110V/220V??消耗功率：200W???環(huán)境溫度:15-26℃??相對濕度:≤70%?標準配置電制冷UHRD探測器內(nèi)置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍可自動切換型準直器和濾光片?光路增強系統(tǒng)?內(nèi)置高清晰攝像頭加強的金屬元素感度分析器?智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。