單片機(jī)外文翻譯

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1、畢業(yè)設(shè)計(jì)（論文）譯文及原稿譯文題目：使用8051單片機(jī)驗(yàn)證和測試單粒子效應(yīng)的加固工藝原稿題目：ValidationandTestingofDesignHardeningforSingleEventEffectsUsingthe8051Microcontroller原稿出處：作者：Howard,J.W.,Jr.LaBel,K.A.Carts,M.A.Seidleck,C.Gambles,J.W.Ruggles,S.L.國家：NASA-GSFC,Greenbelt,MD,USA出處：RadiationEffectsDataWorkshop,2005.IEEE浙江工業(yè)大學(xué)之江學(xué)院

2、畢業(yè)設(shè)計(jì)（論文）外文翻譯使用8051單片機(jī)驗(yàn)證和測試單粒子效應(yīng)的加固工藝摘要隨著代工業(yè)務(wù)（抗輻射加固設(shè)計(jì)的芯片制造加工廠專門從事的一項(xiàng)業(yè)務(wù)）的減少，使用非專用代工業(yè)務(wù)的新技術(shù)逐步發(fā)展起來。在這篇論文中，我們將在空間環(huán)境中討論單粒子效應(yīng)（SEE）的驗(yàn)證方法。課題包括需要測試的類型和設(shè)計(jì)覆蓋面（即他們是否需要驗(yàn)證設(shè)計(jì)庫的每個(gè)應(yīng)用程序？）。文章所提到的8051單片機(jī)核心是根據(jù)美國航天局的高級(jí)微電子研究所（IAμE）的CMOS超低功耗輻射容錯(cuò)技術(shù)（CULPRiT）設(shè)計(jì)的。它是評價(jià)兩個(gè)8051工業(yè)用設(shè)備單粒子效應(yīng)緩和技術(shù)的一項(xiàng)設(shè)計(jì)。索引詞單粒子效應(yīng)，加固工藝，微控制器，輻射效應(yīng)。一導(dǎo)

3、言美國航天局要在空間輻射環(huán)境中最低限度地使用資源條件下，不斷努力提供最好科學(xué)方法[1,2]。然而，擁有最先進(jìn)的技術(shù)的工業(yè)用抗輻射加固微電子器件，幾代產(chǎn)品中都有相對局限性，所以美國航天局的這一任務(wù)很有挑戰(zhàn)性。本文所介紹的方法是使用加固微創(chuàng)設(shè)計(jì)技術(shù)的工業(yè)代工。這通常稱為加固工藝（HBD）。這種使用設(shè)計(jì)程序庫和自動(dòng)化設(shè)計(jì)工具設(shè)計(jì)的常規(guī)加固工藝器件可為美國宇航局提供一種解決方法，它能及時(shí)滿足嚴(yán)格的科學(xué)性能規(guī)格，具有成本低，和可靠性高的特點(diǎn)。但是，仍然存在一個(gè)問題：常規(guī)輻射加固器件有許多和/或硅片輻射條件測試，加固工藝的驗(yàn)證需要哪些類型的試驗(yàn)？二加固工藝檢測設(shè)備的考慮美國的測試技術(shù)是

4、要使單個(gè)器件通過如ASTM，JEDEC的，和MIL-STD–883等的標(biāo)準(zhǔn)和組織的測試。通常情況下使用的是TID（Co-60）和SEE（重離子和/或質(zhì)子）來驗(yàn)證器件。那么，什么是HBD器件所獨(dú)有的驗(yàn)證呢？由于不采用“常規(guī)”工業(yè)現(xiàn)成（COTS）裝置或沒有固化的專用集成電路（ASIC），加固工藝的器件需要確定如何驗(yàn)證設(shè)計(jì)程序庫而不是設(shè)備硬度。也就是說，有了測試芯片，我們是不是就可以在未來器件上使用相同的程序庫了？試想，如果賣主A的設(shè)計(jì)的新的固化工藝程序庫可移植性可比賣主B和C的都好，那么A設(shè)計(jì)，測試的測試芯片就是可接受的了。9個(gè)月后，美國航天局飛行項(xiàng)目就會(huì)使用賣主A的程序庫設(shè)計(jì)

5、了新器件進(jìn)行組合了。這是否需要完成輻射條件測試？回答這個(gè)問題之前，先看一下其他的問題。16浙江工業(yè)大學(xué)之江學(xué)院畢業(yè)設(shè)計(jì)（論文）外文翻譯如何完整地測試芯片？所有程序庫元素來驗(yàn)證每個(gè)單元是否有足夠的統(tǒng)計(jì)覆蓋？如果美國航天局新的設(shè)計(jì)部分使用了設(shè)計(jì)程序庫或使用了沒有充分描述的部分，可能就需要全部測試了。當(dāng)然，如果固化的部分工藝依靠一個(gè)進(jìn)程的固有抗輻射硬度，也可以放棄一些測試（如SEL早先的樣本）。另外，其他考慮因素還包括運(yùn)作速度和工作電壓。例如，如果在電源電壓3.3V的條件下，用測試芯片靜態(tài)地測試單粒子效應(yīng)，所測得的數(shù)據(jù)在電源電壓2.5V操作頻率100MHz的條件下是否適用？動(dòng)態(tài)因

6、素（即非靜態(tài)操作）包括單粒子瞬變（SETs）的普及效果。更高的頻率可能更關(guān)注這些。需要考慮的因素是，設(shè)計(jì)程序庫，測試范圍，鑄造特點(diǎn)必須是已知的，并且深刻理解測試用途。如果所有這些因素都已經(jīng)具備或測試芯片已被驗(yàn)證，那么測試就沒有必要了。美國航天局的電子零件封裝（NEPP）計(jì)劃是為了探討這些因素的類型。三用8051單片機(jī)評估加固工藝由于性能的不斷提高和功耗的不斷降低，微控制器在美國航天局和國防部的系統(tǒng)設(shè)計(jì)上的應(yīng)用正越來越多。現(xiàn)在，美國航天局和國防部計(jì)劃正在不斷地改進(jìn)固化工藝。微控制器是一個(gè)這樣的工具，正在深入量化抗輻射固化的改進(jìn)。這些計(jì)劃的實(shí)例是Mission研究公司（MRC）

7、與高級(jí)微電子研究所（這項(xiàng)研究的重點(diǎn)）所研制的8051微控制器。在自然空間輻射環(huán)境中，由于這些固化工藝的使用，美國宇航局在航天飛行中系統(tǒng)中使用驗(yàn)證技術(shù)成為必要。8051單片機(jī)是一個(gè)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)架構(gòu)，被廣泛接受和應(yīng)用，并作為一種開發(fā)工具。有許多工業(yè)供應(yīng)商，他們供應(yīng)這種控制器或把這種控制器集成到某種類型的系統(tǒng)芯片的結(jié)構(gòu)。醫(yī)學(xué)研究理事會(huì)和高級(jí)微電子研究所都選擇這個(gè)設(shè)備，但他們論證的是兩種截然不同固化工藝。醫(yī)學(xué)研究理事會(huì)的實(shí)例是使用時(shí)間鎖存，需要具體時(shí)間以確保單粒子效應(yīng)減少到最低限度。高級(jí)微電子研究所采用超低功耗，以及布局和建筑