EN1435中文版

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1、第26卷第4期無(wú)損檢測(cè)Vol.26No.42004年4月NDTApr.2004EN1435:1997無(wú)損檢測(cè)———焊縫射線照相檢驗(yàn)NONDESTRUCTIVETESTING:RADIOGRAPHICEXAMINATIONOFWELDEDJOINTS　　中圖分類號(hào):TG115.28　　　文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:C　　　文章編號(hào):100026656(2004)0420202210EN584—1　工業(yè)射線照相膠片　1　工業(yè)射線1　范圍照相膠片系統(tǒng)分類本歐洲標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定射線照相的基本方法,旨在可經(jīng)EN584—2　工業(yè)射線照相膠片　2　采用參考濟(jì)地獲得符合要求且有重復(fù)性的結(jié)果。這些方法是值控制膠片處理根據(jù)一般公

2、認(rèn)的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)和專業(yè)基礎(chǔ)理論制定的。EN25580　工業(yè)射線照相觀片燈的最低要求本標(biāo)準(zhǔn)適用于金屬材料熔化焊焊接接頭的射線(ISO5580:1985)照相檢驗(yàn)。3　定義本標(biāo)準(zhǔn)可用于板、管的焊接接頭。本標(biāo)準(zhǔn)中使用的“管子”一詞,除一般意義外,還應(yīng)理解為包括其本標(biāo)準(zhǔn)使用的術(shù)語(yǔ)定義如下:它圓筒體,如管道、管節(jié)、鍋爐汽包和壓力容器等。3.1　標(biāo)稱厚度t本標(biāo)準(zhǔn)依從EN444。僅指母材的標(biāo)稱厚度,不考慮制造偏差。本標(biāo)準(zhǔn)不規(guī)定缺陷的驗(yàn)收級(jí)別。3.2　透照厚度W若簽約單位采用較低的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),則所得質(zhì)量根據(jù)標(biāo)稱厚度算出的射線透照方向的材料厚度。將明顯低于嚴(yán)格使用本標(biāo)準(zhǔn)時(shí)得到的質(zhì)量。對(duì)多壁透照法,透照厚度由標(biāo)

3、稱厚度算出。3.3　工件至膠片距離b2　規(guī)范性引用文件射線源側(cè)工件表面到膠片表面沿射線束中心線其它文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本測(cè)出的距離。標(biāo)準(zhǔn)的條款,這些規(guī)范性文件引述于文中相應(yīng)處,篇3.4　源尺寸d名如下。凡注明日期的引用文件,只有含修改條文射線源的尺寸。的修訂版才適用于本標(biāo)準(zhǔn)。凡不注明日期的引用文3.5　源至膠片距離(SFD)件,其最新版適用于本標(biāo)準(zhǔn)。射線源到膠片沿射線束中心線測(cè)出的距離。EN444　金屬材料X射線和γ射線照相檢驗(yàn)通3.6　源至工件距離f則射線源到工件表面沿射線束中心線所測(cè)距離。EN462—1　射線照相影像質(zhì)量　1　絲型像質(zhì)3.7　直徑De計(jì)及像質(zhì)數(shù)值的確定

4、管子的標(biāo)稱外徑。EN462—2　射線照相影像質(zhì)量　2　階梯孔型4　射線照相技術(shù)分級(jí)像質(zhì)計(jì)及像質(zhì)數(shù)值的確定EN462—3　射線照相影像質(zhì)量　3　黑色金射線照相技術(shù)分兩種等級(jí):屬的像質(zhì)等級(jí)A級(jí)　普通法;B級(jí)　優(yōu)化法。EN462—4　射線照相影像質(zhì)量　4　像質(zhì)數(shù)值B級(jí)法用于A級(jí)靈敏度不夠的時(shí)候。的實(shí)驗(yàn)評(píng)價(jià)及像質(zhì)表如存在比B級(jí)更優(yōu)的技術(shù),簽約雙方可通過(guò)規(guī)EN473　無(wú)損檢測(cè)人員資格鑒定和認(rèn)證通則定適宜的全部檢測(cè)參數(shù)采用比B級(jí)更優(yōu)的技術(shù)?！?02·EN1435:1997　無(wú)損檢測(cè)———焊縫射線照相檢驗(yàn)射線照相技術(shù)的選定,應(yīng)由簽約各方商定。所用IQI應(yīng)優(yōu)先置于射源側(cè)工件表面以及被檢由于技術(shù)原因,不

5、可能滿足B級(jí)規(guī)定的某一項(xiàng)區(qū)中心焊縫附近的母材上。IQI應(yīng)緊貼工件表面。條件,如射源類型或射源至工件距離時(shí),經(jīng)簽約單位應(yīng)使IQI位于厚度均勻的區(qū)段,即在底片上能同意,也可選用A級(jí)規(guī)定的條件。靈敏度的損失可顯示出均勻光學(xué)密度的區(qū)段。通過(guò)將最小黑度增至3.0或選用對(duì)比度更高的膠片應(yīng)按所用IQI型式考慮以下兩種情況:系統(tǒng)來(lái)補(bǔ)償。由于此時(shí)靈敏度優(yōu)于A級(jí),可認(rèn)為該(1)用絲型IQI時(shí),絲的長(zhǎng)度方向應(yīng)垂直于焊工件是按B級(jí)檢驗(yàn)的。但不適用于6.1.4和6.1.5縫,其位置應(yīng)確保至少有10mm絲長(zhǎng)顯示在黑度均1)所示透照布置時(shí),采用6.6所述fmin的特定減小值勻的區(qū)段———通常在焊縫附近母材上。按6.

6、1.6和的情況。6.1.7的透照布置曝光時(shí),IQI可采用絲橫跨管軸的2)方式放置,不得投影在焊縫影像上。5　一般要求(2)用階梯孔型IQI時(shí),應(yīng)使所要求的孔號(hào)靠近5.1　電離輻射的防護(hù)焊縫。須注意的是,人體任何部分受到X射線或γ射按6.1.6和6.1.7透照布置曝光時(shí),所用IQI可線的照射均可能危及健康。無(wú)論何處使用X射線置于射源側(cè),也可置于膠片側(cè)。IQI若不能按上述條設(shè)備或放射源,均須遵循相應(yīng)的法規(guī)要求。件放置時(shí),可放在膠片側(cè),但至少應(yīng)進(jìn)行一次在同樣使用電離輻射時(shí),必須嚴(yán)格遵循地方、國(guó)家或國(guó)透照條件下IQI放在射線源側(cè)與膠片側(cè)的比較,以際安全條例。確定影像質(zhì)量。5.2　表面處理和檢驗(yàn)

7、時(shí)機(jī)雙壁透照時(shí),當(dāng)IQI放在膠片側(cè),可不作上述對(duì)一般無(wú)需作表面處理,但當(dāng)表面缺陷或涂層有比試驗(yàn),此時(shí)應(yīng)參照附錄B給出的表確定?？赡芤鹑毕輽z出困難時(shí),就應(yīng)將表面修磨光滑或IQI置于膠片側(cè)時(shí),IQI附近應(yīng)放置“F”標(biāo)記,并將涂層去除。除非另有規(guī)定,射線照相應(yīng)在制造的在檢驗(yàn)報(bào)告中注明。最后階段進(jìn)行,即在打磨或熱處理后進(jìn)行。若所采用的方法能保證對(duì)同類工件或類似區(qū)域5.3　射線底片上的焊縫定位的透照底片是用相同的曝光和沖洗方法得出的,且影射線底片上無(wú)法