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《無機(jī)非金屬材料材料的顯微結(jié)構(gòu)觀察與相關(guān)礦物認(rèn)識(shí)實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書》由會(huì)員上傳分享，免費(fèi)在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在工程資料-天天文庫。
1、無機(jī)非金屬材料的顯微結(jié)構(gòu)觀察與相關(guān)礦物認(rèn)識(shí)實(shí)驗(yàn)實(shí)習(xí)指導(dǎo)書一、口的與意義材料的顯微結(jié)構(gòu)與材料制備中的物理化學(xué)變化密切相關(guān)，通過顯微結(jié)構(gòu)分析，可以將材料的“組成■工藝過程■結(jié)構(gòu)■性能”等因素冇機(jī)的結(jié)合起來，對(duì)控制材料性能、開發(fā)新材料特別重要。利用偏光顯微鏡進(jìn)行晶體光學(xué)鑒定，是研究材料的重要方法。1、認(rèn)識(shí)相關(guān)礦物；2、學(xué)習(xí)用偏光顯微鏡觀察礦物的顯微結(jié)構(gòu)；3、粒徑測(cè)量。二、基本原理認(rèn)識(shí)相關(guān)礦物，利用顯微鏡的放大及偏光鏡的功能，通過光性鑒定觀察相應(yīng)的礦物材料顯微結(jié)構(gòu)特征。三、實(shí)驗(yàn)器材及相關(guān)礦物偏光顯微鏡（XP200上海光學(xué)儀器廠）、礦物玻片、相關(guān)礦物。偏光顯
2、微鏡的構(gòu)成：鏡臂；光源；鎖光圈；載物臺(tái)；鏡筒；物鏡；目鏡；偏光鏡。利用偏光顯微鏡的上述部件可以組合成單偏光、止交偏光用來鑒定晶體的光學(xué)性質(zhì)。四、顯微結(jié)構(gòu)觀察1、偏光顯微鏡用試樣制備用切片機(jī)從有代表性的礦物試樣上切下一小塊（定向或不定向的），先將一面磨光（磨料有SiC或AL2O3粉），用加拿大樹膠或光學(xué)樹膠把這一平而粘在載玻片上，在磨另一面，磨到厚度為0.03mm,用樹膠把蓋玻片粘在該面烘干即可。2、試樣觀察偏光顯微鏡可觀察晶體形態(tài)、礦物顆粒大小、百分含量、突起、解理、顏色等。操作過程，先將試樣玻片放置到載物臺(tái)上用彈性壓片固定，將顯微鏡物鏡用旋紐下降
3、肉眼觀察放置到靠近試樣玻片，然后通過目鏡觀察同時(shí)用旋紐上升直至鏡下物彖最清晰，利用偏光鏡可以觀察到礦物的光學(xué)特性。A單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)：可觀察的內(nèi)容有：晶體形態(tài)、晶體顆粒大小、百分含量、解理、突起、糙面、貝克線以及顏色等。(1)晶體形態(tài)：每一種晶體往往貝有一定的結(jié)晶習(xí)性，構(gòu)成一定的形態(tài)。在偏光顯微鏡中見到的晶體形態(tài)并不是整個(gè)立體形態(tài)，僅僅是晶體的某一切片，切片的方向不同，晶體的形態(tài)可以完全不同?？蓪⒕w按其形貌特征分為：自形晶一光片屮晶形完整,一般呈規(guī)則的多邊形，邊棱全為直線，析晶早；半自形晶一光片中晶形較自形晶差，部分品棱為直線，部分為不規(guī)
4、則的曲線，一般是析品較晚；他形晶一光片中晶形呈不規(guī)則粒形，晶棱均為他形曲線，析晶最晚或溫度卜?降較快時(shí)析出的晶體。(a)自形晶;⑹半自形晶;??■wwa.-可以通過測(cè)定解理角來鑒定礦物。(3)顏色和多色性：光片屮晶體的顏色是晶體對(duì)白色光小七色光波選擇吸收的結(jié)(2)晶體的解理及解理角：晶體沿著一定方向裂開形成光滑平面的性質(zhì)稱為解理。裂開的而稱為解理而。解理而一般平行丁品而。許多品體都具有解理，但解理的方向、組數(shù)及完善程度不一樣。晶體的解理在光片中是一些平行或交叉的細(xì)縫，稱為解理縫。根據(jù)解理發(fā)育的完善程度口J以劃分為：極完全解理、完全解理和不完全解理三
5、類。冇些晶體具有兩組以上解理,果。若同等程度吸收則仍為口光，只是強(qiáng)度有所減弱，此時(shí)晶體不具有顏色。若對(duì)七色光波選擇吸收程度不同則品體將呈現(xiàn)特定的顏色。均質(zhì)體品體的顏色和濃度不因光波振動(dòng)方向而發(fā)生變化，非均質(zhì)體品體的顏色和濃度隨光波振動(dòng)方向而發(fā)生變化。(4)貝克線：在兩個(gè)折射率不同的物質(zhì)接觸處，可以看到比較黑暗的邊緣，成為晶體的輪廓。在輪廓附近可以看到一條比較明亮的細(xì)線，當(dāng)升降鏡筒吋，亮線發(fā)生移動(dòng),這條較亮的細(xì)線稱為貝克線。其產(chǎn)生的原因主要是由于相鄰兩物質(zhì)的折射率不等，光通過接觸而時(shí)發(fā)生折射和反射所引起的。B止交偏光鏡卜?的晶體光學(xué)性質(zhì)所謂正交偏光鏡
6、就是下偏光鏡和上偏光鏡聯(lián)合使用，并且兩偏光鏡的振動(dòng)面處于互相垂直位置。在正交偏光鏡的物臺(tái)上，如不放任和晶體光片時(shí)，其視域是黑暗的。這是由于上卜?偏光鏡的振動(dòng)方向互相垂直，光無法透過。若在正交偏光鏡的物臺(tái)上放置品體光片時(shí),由于晶體的性質(zhì)和切片方向不同將出現(xiàn)消光現(xiàn)象。消光現(xiàn)象包括全消光和四次消光兩種。八上偏光鏡"上偏光鏡乙上偏光鏡晶體切片/光鏡(b)正交偏光鏡的裝置觥學(xué)特點(diǎn)晶體在正交偏光鏡下的消光現(xiàn)象(1)全消光：旋轉(zhuǎn)物臺(tái)，消光現(xiàn)彖不改變?yōu)槿?。非品體、等軸品系的品體和非均質(zhì)體晶體垂直光軸的切片均為全消光。(2)四次消光：旋轉(zhuǎn)物臺(tái)360°鏡下出現(xiàn)四次
7、明暗相間的變化為四次消光。呈現(xiàn)四次消光的，一定是非均質(zhì)體晶體。3、礦物含量測(cè)定由于質(zhì)量百分?jǐn)?shù)與面積百分?jǐn)?shù)成止比關(guān)系，故可用顯微鏡視閾的礦物面積測(cè)定礦物含量，此法稱為面積法。測(cè)定方法為通過顯微鏡的一定視閾內(nèi)礦物所占面積來計(jì)算其百分含量，BP：面積百分?jǐn)?shù)二礦物所占面積/視閾總面積而積法測(cè)量時(shí)至少要2—3塊試樣玻片，試樣數(shù)目越多，結(jié)呆越準(zhǔn)確。4、礦物粒徑測(cè)量顯微鏡法是少數(shù)能對(duì)單個(gè)顆粒同吋進(jìn)行觀察和測(cè)量的方法。其測(cè)量下限取決于顯微鏡的分辨距離。測(cè)量下限為0.5-0.8微米。粒徑測(cè)量通常有點(diǎn)計(jì)法一對(duì)樣區(qū)中位于網(wǎng)絡(luò)交點(diǎn)處的那些顆粒進(jìn)行計(jì)數(shù)和測(cè)量；線計(jì)法一對(duì)樣區(qū)
8、中位于直線上的顆粒進(jìn)行計(jì)數(shù)和測(cè)量；帶計(jì)法一對(duì)樣區(qū)中位于兩平行線上的顆粒進(jìn)行計(jì)數(shù)和測(cè)量；框計(jì)法一對(duì)樣區(qū)屮位于某一框形區(qū)域屮的
