基于CRIO系統(tǒng)的捷聯(lián)慣組快速自動測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

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1、2012年第6期導(dǎo)彈與航天運(yùn)載技術(shù)No.62012總第323期MISSILESANDSPACEVEHICLESSumNo.323文章編號:1004-7182(2012)06-0015-05基于CRIO系統(tǒng)的捷聯(lián)慣組快速自動測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)王志偉,侯書銘,許哲(第二炮兵工程學(xué)院,西安,710025)摘要:通過對某型導(dǎo)彈捷聯(lián)慣性測量組合測試系統(tǒng)現(xiàn)狀的分析,提出一套基于CRIO(Compact-RIO)嵌入式系統(tǒng)的捷聯(lián)慣性測量組合通用快速自動化測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案;確定系統(tǒng)的硬件組成,給出軟件流程圖和軟件模

2、塊組成,并基于LabVIEW編程環(huán)境對主要程序進(jìn)行程序設(shè)計(jì)。與傳統(tǒng)的慣組測試系統(tǒng)相比較,該系統(tǒng)的突出優(yōu)點(diǎn)在于其功能全面,具備通用性,另外還具有技術(shù)先進(jìn),數(shù)據(jù)處理能力強(qiáng),可靠性高等特點(diǎn)。該系統(tǒng)采用人工粗調(diào)平免對北標(biāo)定方法,并將速率標(biāo)定與位置標(biāo)定融合在一起進(jìn)行,大大縮短了測試時間。關(guān)鍵詞:CRIO;LabVIEW;捷聯(lián)慣組;嵌入式系統(tǒng);自動測試系統(tǒng)中圖分類號:TP274文獻(xiàn)標(biāo)識碼:AInertialMeasurementUnit’sRapidAuto-testSystemDesignBasedonC

3、RIOWangZhiwei,HouShuming,XuZhe(SecondArtilleryEngineeringCollege,Xi’an,710025)Abstract:ThispaperanalyzesthecurrentcombinedtestsystemofsomemissileInertialMeasurementUnit(IMU),presentsadesignschemeofthecommonIMUauto-testsystembasedonCRIOinbuiltsystem,a

4、ndintroducesthecompositionofthesystembothinhardwareandsoftware,describesthemethodofdevelopingapplicationprogramofthesystembasedonLabVIEW.Comparingtotheformertestsystem,thenewsystemhasthemainadvantagesofcomprehensivefunctionsanduniversalism,withthecha

5、racteristicoftechnologyadvancement,highabilityofdataprocessingandhighreliability.Thesystemadoptsamethodofnot-aiming-north-and-rough-leveling,whichintegratesthecalibrationsoftherateandtheposition.Andthus,thetest-timeisshortenedlargely.KeyWords:CRIO;La

6、bVIEW;Inertialmeasurementunit;Inbuiltsystem;Auto-testsystem0引言制的通用轉(zhuǎn)接子系統(tǒng),構(gòu)成通用慣組測試系統(tǒng)。該測新時期復(fù)雜的戰(zhàn)場環(huán)境對導(dǎo)彈武器的適應(yīng)性、機(jī)試系統(tǒng)可以自動完成位置標(biāo)定、速率標(biāo)定等慣組測試動性和快速反應(yīng)能力提出了更高要求。而目前的慣組任務(wù),且具有集成化程度高、可靠性強(qiáng)、測試精度高、單元測試儀主要由分離元件組成,體積龐大、測試工擴(kuò)展性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。對導(dǎo)彈武器適應(yīng)新戰(zhàn)場環(huán)境、節(jié)省序多、操作復(fù)雜,很容易引起誤操作,成了制約導(dǎo)彈人力財(cái)力具

7、有重要的意義。[1]武器適應(yīng)新戰(zhàn)場環(huán)境的最大障礙。另外,由于慣組型號的不同,現(xiàn)有的測試系統(tǒng)具有很強(qiáng)的專用性,測試1CRIO嵌入式系統(tǒng)介紹過程耗費(fèi)了很大的人力物力。隨著虛擬儀器技術(shù)的飛CRIO是一款工業(yè)級嵌入式系統(tǒng),集成了嵌入式實(shí)速發(fā)展,CRIO(Compact-RIO)嵌入式系統(tǒng)越來越多時控制器(RT)、可編程硬件邏輯(FPGA)和可重地被應(yīng)用到各種大型數(shù)據(jù)采集和系統(tǒng)測試中。配置的I/O模塊。支持熱插拔的I/O模塊具備工業(yè)級的為了解決上述問題,并適應(yīng)通用化要求,本文基隔離設(shè)計(jì),可直接與外部傳感器

8、/驅(qū)動器連接。CRIO于CRIO嵌入式系統(tǒng)進(jìn)行了通用慣組測試系統(tǒng)研究,嵌入式系統(tǒng)和LabVIEW開發(fā)環(huán)境的無縫連接,使用戶采用CRIO嵌入式系統(tǒng)及其標(biāo)準(zhǔn)化模塊,配合自行研可以輕松通過圖形化開發(fā)環(huán)境訪問底層硬件,快速建收稿日期:2011-07-06;修回日期:2011-08-09作者簡介:王志偉(1984-),男,碩士生,主要研究方向?yàn)榭刂瓶茖W(xué)與工程16導(dǎo)彈與航天運(yùn)載技術(shù)2012年立嵌入式系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)采集應(yīng)用,可大大縮短系統(tǒng)以設(shè)計(jì)滿足被測對象要求的通用硬件測試平臺。CRIO[2]設(shè)計(jì)時間,降低開

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