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《光柵莫爾條紋信號細(xì)分方法設(shè)計(jì)與Simulink仿真》由會員上傳分享，免費(fèi)在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在學(xué)術(shù)論文-天天文庫。
1、2016年12月宇航計(jì)測技術(shù)Dec．，2016第36卷第6期JoumalofAstronautieMetrologyandMeasurementv01．36，No．6文章編號：1000—7202(2016)06—0029—06中圖分類號：TP391．9文獻(xiàn)標(biāo)識碼：A光柵莫爾條紋信號細(xì)分方法設(shè)計(jì)與Simulink仿真楊華暉1’2馮偉利3劉福2(1．軍械工程學(xué)院，石家莊050003；2．軍械技術(shù)研究所，石家莊050003；3．北京航天計(jì)量測試技術(shù)研究所，北京100076)摘要根據(jù)計(jì)量光柵莫爾條紋信號高精度細(xì)分的要求，提出了一種基于
2、ADc幅值采樣和相位解算的光柵細(xì)分方法，并利用simulink搭建仿真模型，使兩路正余弦信號通過正余切變換、幅值采樣、固定相位步長細(xì)分等處理后輸出為兩路正交編碼信號。仿真實(shí)驗(yàn)表明，該細(xì)分方法在輸入理想信號情況下細(xì)分倍數(shù)主要與ADc采樣精度有關(guān)，提高ADc采樣位數(shù)可有效提高最大細(xì)分倍數(shù)。通過在兩路時(shí)變sin／cos信號中添加幅值不等、相位不正交以及高次諧波分量等干擾噪聲的仿真實(shí)驗(yàn)，驗(yàn)證了該方法的細(xì)分精度與信號質(zhì)量有關(guān)。關(guān)鍵詞仿真建模幅值采樣相位解算莫爾條紋細(xì)分噪聲干擾SubdiVisionDesignofGratingMoire
3、FringesandSimulationbySimulinkYANGHua—huil，2FENGWei．1i3LIUFu2(1．0rdnanceEngineeringcollege，S心i齔huang050003；2．0rdnanceTechnologicalResearchInstitute，S11ijiazhuang050()03；3．BeijingAerospaceInstituteforMetrologyaIldMeasurementTechnology，Beijingl蝴6)AbstractAccordingtoth
4、ehighprecisionsubdivisionrequirementsofmetrological鏟atingMoir6fhnges，asubdivisionmethodofgratingbasedonADCamplitudesamplingandphaseresolutionwases—tablished．AndthesimulationmodelofthissubdivisionmethodwasestablishedtoconveItthesin&cosinesignalsjntotwoquadratureencod
5、ingsignalsafterpositivecotangenttransfomling，theamplitudesamplingphasedividinginfixedstepsizeandotherprocessingmethod．TheresultsofsimulationexperimentsshowthattheinterpolationofthismethodisrelatedtoaccuracyofADCwiththeidealsignalinputtingandthemaximalinterpolationca
6、nbeincreasedupto1000byimpmvingtheADCs踟plingdi舀t．ThesimulationexperimentalsoverifiedthatsubdivisionprecisionmainlydependsonthesignalqualitybyaddingnoiseinteIferenceincludingunequalamplitudeen．or，quadraturephaseshifte11_{0randhjgh-orderha瑚oniccomponentstothedynamicsin
7、&cosineidealsignals．KeywordsSimulationmodelingAmplitudesamplingPhaseresolutionSubdiVisionofmoire儷ngeNoiseinterference收稿日期：2016—05—24，修回日期：2016—11—15作者簡介：楊華暉(1992一)，男，碩士研究生，主要研究方向：裝備計(jì)量技術(shù)。宇航計(jì)測技術(shù)2016年1引言在精密儀器與測試領(lǐng)域，計(jì)量光柵以其穩(wěn)定性好、抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)而得到廣泛應(yīng)用，并且隨著精密檢測技術(shù)對儀器分辨率以及測試速度要求的提高
8、，光柵莫爾條紋細(xì)分技術(shù)需要在高速追蹤和納米級測量方面有所突破‘1qJ。光柵測量技術(shù)在位移、角度計(jì)量方面的應(yīng)用主要是以光柵迭合所形成的莫爾條紋信號為基礎(chǔ)的，經(jīng)光電元件轉(zhuǎn)換，使輸出轉(zhuǎn)變?yōu)殡S透射光強(qiáng)周期變化的電信號‘4J。光柵細(xì)分可分為光學(xué)細(xì)分、機(jī)械細(xì)分和電子細(xì)分三種方法，當(dāng)前基于
