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《量具之再現(xiàn)度與再生.doc》由會員上傳分享，免費在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在行業(yè)資料-天天文庫。
1、授課目錄第一章質(zhì)量管理概說第二章統(tǒng)計學(xué)概論第三章機率概論及機率分配第四章統(tǒng)計制程管制與管制圖第五章計量值管制圖第六章計數(shù)值管制圖第七章制程能力分析第八章允收抽樣的基本方法第九章計數(shù)值抽樣計劃第十章計量值抽樣計劃第十一章量具之再現(xiàn)度與再生度第十二章質(zhì)量管理之新七大手法第十三章質(zhì)量成本第十一章量具之再現(xiàn)度與再生度Ref.[JamesR.EvansandWilliamM.Lindsay,TheManagementandControlofQuality,pp.658-663,FifthEdition,South-W
2、esternThomsonLearning.]方法(本章以”度”，而非”性”譯之，即量化也)◎準(zhǔn)確度(Accuracy)是指觀察值與可接受的標(biāo)準(zhǔn)值之間的密合度(Closeness)，精確度太低反映出量測系統(tǒng)有所偏差(Bias)，如量具(Gage)刻度超出了標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格須校正(Calibration)---歸零、量具磨損、使用者不當(dāng)?shù)牟僮?。◎?zhǔn)確度是量測所得的誤差總值與量測的所有尺寸的比例。誤差值愈小精確度愈高?！蚓珳?zhǔn)度(Precision)是指隨機抽樣的個別量測值之間的密合度。棈準(zhǔn)度與重復(fù)量測值變異性相關(guān)。變異
3、性低的量具的精準(zhǔn)度比變異性高的量具的精準(zhǔn)度高。精準(zhǔn)度太低主要是由于量具本身所產(chǎn)生的隨機變異。這種隨機的變異有可能是由于量具設(shè)計不良或缺乏保養(yǎng)。準(zhǔn)確度及精準(zhǔn)度之范例：以2個量具量測一尺寸，其正確值為0.25in，其中量具A所測得的值為0.248in，量具B所得的值為0.259in?！蛄烤逜的誤差值為(0.250-0.248)/0.250=0.8%、量具B的誤差值為(0.259-0.250)/0.250=3.6%，因此量具A的準(zhǔn)確度比量具B高?！蛎恳涣烤邷y該尺寸3次，量具A所得的測量值為0.248、0.246、
4、0.251，量具B所得的值為0.259、0.258、0.259，量具B的精準(zhǔn)度比量具A高，因為量具B所得的值比較接近。FrequencyValueTrueValuePreciseandnotaccurateFrequencyValueTrueValueNotpreciseandnotaccurateFrequencyValueTrueValuePreciseandaccurateFrequencyValueAccuratebutnotpreciseTrueValue當(dāng)同一位檢驗員或技師量測相同的對象多次時，
5、其結(jié)果顯示多樣的變化程度。再現(xiàn)度或設(shè)備變異(Repeatability,orEquipmentVariation)◎一個人以相同的儀器量測相同的對象多次稱為再現(xiàn)度，其表示設(shè)備(Equipment)精準(zhǔn)度和準(zhǔn)確度。再生度或人為變異(Reproducibility,orAppraisalVariation)◎不同的人以相同的儀器量測相同的對象稱為再生度，其表示量測過程中操作人員和環(huán)境的穩(wěn)健性(Robust)?！虿涣嫉脑佻F(xiàn)度可能是由于人員訓(xùn)練不足或量具未校準(zhǔn)。量測分析的數(shù)學(xué)式如下：s2Total=s2Proces
6、s+s2Measurement總變異=過程(制)變異+測量變異上式即生產(chǎn)輸出之總變異是真正的過程變異(實際上須要量測者)加上量測變異。倘量測的變異太高，所得的觀測值必然會有所偏差且表示過程(制)能力測量比實際的情形還糟。因此質(zhì)量控制的目的是為了減少量測誤差。量測系統(tǒng)分析任何量測系統(tǒng)的準(zhǔn)確度、再現(xiàn)度、再生度都必需被量化(Quantified)和評估。準(zhǔn)確度可由比較一組量測觀測值之平均與標(biāo)準(zhǔn)值得知，而再現(xiàn)度與再生度是一種變異程度的研究，是可以經(jīng)由統(tǒng)計系統(tǒng)分析得知。再現(xiàn)度和再生度的研究方法如下：1.選m個操作員及
7、n個待測物?；旧献钌傩枰?位操作員及1待測物。2.校準(zhǔn)(Calibrate)量具。3.使每位操作員以隨機的方式測量待測物并記錄結(jié)果。重復(fù)以上的測量過程共r次。4.計算每位操作員量測的平均值。=(Mijk)/nr最大與最小平均值之差為5.計算每位操作員及每一待測物的全距值。以上的值表示相同的操作員測量相同的待測物的重復(fù)測量值的變異。下一步，計算每位操作員的平均全距值。計算總平均全距6.計算出個別的全距之控制界限Controllimit=D4其中D4是依抽樣大小(測試次數(shù)r)而定的一個常數(shù)值。超出控制界限者為
8、于異因(AssignableCause)造成，并非隨機誤差(RandomError)，其造成之任何可能原因都需調(diào)查并且予以更正。操作員重復(fù)量測相同的待測物，倘無發(fā)現(xiàn)異因則可開始分析再現(xiàn)度及再生度。再現(xiàn)度或設(shè)備變異(EV)計算公式：EV=K1再生度或人為變異(AV)計算公式：AV=[(K2)2-(EV)2/(nr)]0.5其中K1及K2常數(shù)值分別依量測次數(shù)和操作員人數(shù)而定，這些常數(shù)值列表如下：這些常數(shù)值在統(tǒng)計上有9
