50nm氮吸附法孔分析的有效范圍0.35~500nm微孔測試技術微孔的常規(guī)分析方法判斷介孔主要靠:做物理吸附XRDTEM來判斷,1介孔物理吸附會出現(xiàn)第4類吸附等溫線,而且口徑分布集中在介孔區(qū)域;但出">
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1、微孔<2nm中孔(介孔)2~50nm大孔>50nm氮吸附法孔分析的有效范圍0.35~500nm微孔測試技術微孔的常規(guī)分析方法判斷介孔主要靠:做物理吸附XRDTEM來判斷,1介孔物理吸附會出現(xiàn)第4類吸附等溫線,而且口徑分布集中在介孔區(qū)域;但出現(xiàn)以上結果卻不一定就是介孔,有可能是納米材料堆積造成的。2介孔XRD圖譜會在1到2°出現(xiàn)衍射峰;其他樣品基本不會有這種現(xiàn)象;3判斷介孔的最直接最可靠的證據應該是TEM圖,若可以看到規(guī)則的介孔結構基本上就可以下結論。XRD的小角出現(xiàn)峰,未必是介孔材料的。有較長周期的結構應該就有可能出現(xiàn)小角衍

2、射。如果在小角出現(xiàn)峰,但很弱,這種情況有可能純粹是制樣引起的。有這樣一種情況:樣品制備不平整,中間略突起,當實驗開始時,x射線的角度很低,此時x射線被樣品擋住,因此衍射強度小,隨后越過這一高度后,衍射變強,這樣即形成一個峰。這種峰顯然不能說明問題。當然,這只是一種可能。小角只能表明材料長程有序在接近小角的部分原本就有可能直射,所以一般的樣品在較小角度都會從很高往下落,但不一定是峰,另樣品的制備對于小角的衍射影響較大,一般來講,用XRD表征的是層狀結構,就是從小角度能夠有周期性的一些特征峰,至于孔好像不能表征,用BET可以表征

3、孔結構分布對于小角有峰的問題樓上的幾位朋友說的都非常有道理,即XRD是給出有空的可能而孔吸附是表征多孔材料的唯一手段(蘇寶廉教授說的),所以很多材料可以稱作是多孔結構的(mesostructured)而不是多孔的(mesoporous)。無論XRD有峰有否,氮氣吸附是IV型等溫線就說明是介孔材料了。但是孔的分布不一定均勻,也就是說可能是無序排列的均勻孔道,所以電鏡可能看不到結構(很可能是蠕蟲結構)。這時候可以參考XRD的衍射角的正弦平方比是否符合1:3:4:7等的空間群規(guī)律了。如果小角出峰角度比較小,0.6-0.9??赡苁菢?/p>

4、品孔道引起的嗎?還是散射峰?或者測試時操作引起的呢?謝謝指教。主要根據TEM看晶格條紋還有BET吸附脫附曲線XRD做小角是用來分析樣品中是否有有序的孔結構,如非有序結構,XRD小角衍射是沒有峰的,具有有序介孔結構的大多是介孔分子篩、層狀粘土等有納米級周期性結構的材料,而且有序結構的小角也不是掃到一個峰即可認定是有序介孔結構,比如SBA-15這種介孔分子篩,就有100(0.9~1.0)、110(1.4~1.5)、200(1.7~2.0)三個明顯的峰。如只想知道是否有孔結構的話,那只需做氮吸附分析即可。小角的峰必須排除4樓所說的

5、幾種可能,即制樣不標準和操作錯誤的可能,否則就可能得到錯誤結論,而且只出一個峰不能說明就有有序孔,可以細掃找到別的峰的話才能確定,而且BET結果中孔徑分布也要很窄才能說明有有序介孔。不知helenhao要的是是么結果,只是孔呢還是有序孔,只是孔的話只需BET結果,有序介孔結構如在0.5~3.0間有峰,不用HRTEM,普通TEM就能看到清晰的條紋或者有序的孔點陣結構。

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