第二章 CMOS集成電路工藝ppt課件.ppt

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1、第二章CMOS集成電路工藝與版圖2008年9月第一節(jié)CMOS集成電路工藝簡介第二節(jié)幾何設(shè)計規(guī)則第三節(jié)CMOS版圖設(shè)計第一節(jié)CMOS集成電路工藝簡介一、半導(dǎo)體IV類元素:硅(Si)、鍺(Ge)純晶體稱為本征半導(dǎo)體,是一種絕緣體。摻雜,V類元素--》n-型半導(dǎo)體,電子III類元素--》p-型半導(dǎo)體,空穴第一節(jié)CMOS集成電路工藝簡介二、工藝類型前工序:包括從晶片開始加工到中測之前的所有工序后工序:包括從中測開始到器件完成的所有工序輔助工序:為保證整個工藝流程的進行,還需要一些輔助性的工序第一節(jié)CMOS集成電路工藝簡介1

2、、前工序(1)薄膜制備工藝:包括氧化、外延、化學(xué)汽相淀積、蒸發(fā)、濺射。(2)摻雜工藝:包括離子注入和擴散。(3)圖形加工技術(shù):包括制版和光刻。第一節(jié)CMOS集成電路工藝簡介2、后工序中間測試劃片貼片焊接封裝成品測試第一節(jié)CMOS集成電路工藝簡介3、輔助工序(1)超凈環(huán)境的制備(2)高純水、氣的制備(3)材料準(zhǔn)備:包括制備單晶、切片、磨片、拋光等工序,制成IC生產(chǎn)所需要的單晶圓片。三、集成電路制造工藝1、氧化工藝生成SiO2薄膜2、摻雜工藝在半導(dǎo)體基片的一定區(qū)域摻入一定濃度的雜質(zhì)元素,形成不同類型的半導(dǎo)體層,來制作各

3、種器件。(1)擴散工藝(2)離子注入工藝3、光刻工藝借助于掩膜版,并利用光敏的抗蝕涂層發(fā)生光化學(xué)反應(yīng),結(jié)合刻蝕方法在各種薄膜上(如SiO2薄膜、多晶硅薄膜和各種金屬膜)刻蝕出各種所需要的圖形,實現(xiàn)掩膜版圖形到硅片表面各種薄膜上圖形的轉(zhuǎn)移。第一節(jié)CMOS集成電路工藝簡介光刻工藝步驟(負(fù)膠)第一節(jié)CMOS集成電路工藝簡介三、N阱CMOS工藝CMOS反相器版圖N阱擴散確定有源區(qū)沉積硅柵n+擴散p+擴散生成接觸孔產(chǎn)生金屬連線第二節(jié)版圖設(shè)計規(guī)則設(shè)計規(guī)則規(guī)定了掩膜版各層幾何圖形寬度、間隔、重疊及層與層之間的距離等的最小容許值。

4、設(shè)計規(guī)則的作用:是設(shè)計和生產(chǎn)之間的一個橋梁,是一定的工藝水平下電路的性能和成品率的最好的折中。設(shè)計規(guī)則描述方法:微米設(shè)計規(guī)則λ設(shè)計規(guī)則λ設(shè)計規(guī)則:λ是一個歸一化單位,使柵極寬度為2λ,其他尺寸都是λ的整數(shù)倍。最小線寬2λ,即:2μm工藝,λ=1μm金屬線寬:2λ,間隔:3λ第三節(jié)CMOS版圖設(shè)計一、靜態(tài)CMOS版圖設(shè)計第三節(jié)CMOS版圖設(shè)計靜態(tài)CMOSNAND版圖設(shè)計CMOS與門二、動態(tài)CMOS版圖設(shè)計三、傳輸門(TransmissionGates)Passtransistorsproducedegradedout

5、putsTransmissiongatespassboth0and1well2選1電路2:1multiplexerchoosesbetweentwoinputsY=D1S+D0SSD1D0Y0X000X1110X011X12選1的門級設(shè)計Howmanytransistorsareneeded?20用傳輸門設(shè)計只用四個晶體管三、標(biāo)準(zhǔn)單元版圖

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