RE輻射干擾測(cè)試.doc

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1、輻射干擾的測(cè)試，是檢驗(yàn)受試設(shè)備通過(guò)空間傳播的輻射干擾場(chǎng)強(qiáng)。按標(biāo)準(zhǔn)要求應(yīng)在開(kāi)闊場(chǎng)地或半電波暗室進(jìn)行。然而，符合要求的開(kāi)闊場(chǎng)很難找到，故一般多在屏蔽電波暗室內(nèi)測(cè)試。測(cè)量主要采用天線法和診斷法。?1、天線法?天線法是將輻射干擾信號(hào)通過(guò)測(cè)量天線接收，由同軸電纜傳送到測(cè)量接收機(jī)，并測(cè)出干擾電壓，再加上天線系數(shù)，即得到所測(cè)量的場(chǎng)強(qiáng)值。?測(cè)量所需的主要設(shè)備有測(cè)量接收機(jī)（或頻譜分析儀）、測(cè)量天線及予放大器等。利用HP-84110B予測(cè)試系統(tǒng)以天線法測(cè)試輻射干擾的配置及連接，如圖4－3－4所示。?????????????????????????

2、測(cè)量要點(diǎn)：?1）輻射干擾的測(cè)量受環(huán)境的影響較大。而予相容測(cè)試的場(chǎng)地條件又不可能完全符合要求，因此，要特別注意對(duì)環(huán)境電平的監(jiān)測(cè)。測(cè)試前，先切斷EUT(被測(cè)設(shè)備)電源，對(duì)所關(guān)心的頻段進(jìn)行掃描，檢查環(huán)境電平是否低于極限值6dB。在測(cè)試中要能分辨是環(huán)境的干擾信號(hào)還是EUT的輻射干擾；?2）根據(jù)測(cè)試的不同要求，在頻譜儀上進(jìn)行正確的配置掃描間隔、天線系數(shù)和極限線等；?3）不同的測(cè)試頻段，應(yīng)選用不同的天線，如在25HZ-100KHZ頻段內(nèi)測(cè)量磁場(chǎng)輻射時(shí)，需要采用環(huán)形磁場(chǎng)接收天線；對(duì)于電場(chǎng)輻射發(fā)射則是在10KHZ-18GHZ頻段內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，其

3、間需更換不同的天線（10KHZ-30MHZ選用拉桿天線，20MHz~200MHz選用雙錐天線；200MHz~1000MHz選用對(duì)數(shù)周期天線，1－18GHZ選用雙脊喇叭天線）；?4）不同的標(biāo)準(zhǔn)對(duì)測(cè)量天線到EUT之間的距離要求不同，如國(guó)軍標(biāo)為1m，其它則為3m，10m或30m等，相應(yīng)的極限值也不同。?5）由于EUT的輻射不可能是均勻的，所以應(yīng)找出最強(qiáng)的發(fā)射部位(是EUT的前面板還是后面板或縫隙等)；?6）超出極限線的所有信號(hào)，仍需進(jìn)行峰值和準(zhǔn)峰值測(cè)量(因?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)規(guī)定的極限值多建立在準(zhǔn)峰值檢波方式的基礎(chǔ)上)。對(duì)超出極限線的EUT發(fā)射信

4、號(hào)，進(jìn)行具體分析和診斷，以便排除故障或修改設(shè)計(jì)。圖4-3-5示出了采用?CISPR-A-3m標(biāo)準(zhǔn)的極限線情況下，輻射干擾在30MHz~300MHz范圍內(nèi)的頻譜特性。??????????2、診斷法?除了用天線法以遠(yuǎn)場(chǎng)接收EUT的輻射發(fā)射是否超標(biāo)外，還可用近場(chǎng)探頭對(duì)EUT的輻射源進(jìn)行定位或診斷性測(cè)試。?EMI的診斷方法很多，現(xiàn)介紹HP-84110B系統(tǒng)用頻譜分析儀與近場(chǎng)探頭進(jìn)行診斷測(cè)量的方法。測(cè)試連接如圖4-3-6所示。圖中，近場(chǎng)探頭、寬帶放大器和頻譜分析儀構(gòu)成了EMI診斷系統(tǒng)。??????????測(cè)試要點(diǎn)：?1）近場(chǎng)探頭猶如環(huán)形

5、結(jié)構(gòu)的小天線，對(duì)EUT磁場(chǎng)源比較敏感，EUT中的電場(chǎng)也會(huì)伴隨感應(yīng)磁場(chǎng)，所以，探頭接收的信號(hào)經(jīng)頻譜儀測(cè)量和處理后，以磁場(chǎng)強(qiáng)度表示(單位為dBμA/m)；?2）探頭小的幾何尺寸和端頭的絕緣(可達(dá)1000V)，可以使其直接觸及EUT的電路系統(tǒng)。如印制電路板的布線就是典型的磁場(chǎng)源。探頭距受試點(diǎn)越近越靈敏；?3）診斷時(shí)探頭除對(duì)EUT電路系統(tǒng)進(jìn)行搜索外，還應(yīng)對(duì)相關(guān)的電纜線、箱體接縫和開(kāi)口處、CRT面板、鍵盤、電源線等進(jìn)行反復(fù)的、變換方位的探測(cè)，以找出輻射干擾的強(qiáng)點(diǎn)。在測(cè)量孔徑的輻射時(shí)，探頭應(yīng)沿孔的邊沿和繞孔旋轉(zhuǎn)，直到耦合最大的場(chǎng)強(qiáng)；?4）

6、根據(jù)測(cè)試頻率的需要，選擇不同指標(biāo)的探頭(HP-11941A或11940A)；?5）診斷系統(tǒng)需要提高探測(cè)的靈敏度時(shí)，可加入前置放大器，但在測(cè)試結(jié)果中應(yīng)扣除放大器的增益。?6）探頭由跟蹤信號(hào)源驅(qū)動(dòng)，可以作為場(chǎng)源發(fā)射，用來(lái)測(cè)定局域的輻射敏感度。?7）探頭設(shè)計(jì)工藝精細(xì)、小巧，電磁兼容操作時(shí)應(yīng)小心，以免損壞。予相容測(cè)試：以頻譜分析儀為核心的予相容檢測(cè)系統(tǒng)，可以快捷、準(zhǔn)確的進(jìn)行電磁輻射干擾的測(cè)量。這也是被認(rèn)為最難判定和測(cè)試的電磁兼容參量。不過(guò)隨著EMC技術(shù)的發(fā)展，EMC掃描儀（EMC-Scanner）和各種電磁場(chǎng)分析軟件的出現(xiàn)，再配以頻譜

7、儀，便可實(shí)現(xiàn)電磁輻射發(fā)射的可視化測(cè)量。對(duì)EUT的單個(gè)器件、PCB板、整機(jī)與電纜等進(jìn)行全方位的三維測(cè)試，并可直觀地顯示真實(shí)的電磁輻射情況（電磁場(chǎng)的變化、干擾的傳播等），從而，快速找出減少和抑制干擾的方法。予相容測(cè)試，盡管不可能保證產(chǎn)品通過(guò)所有項(xiàng)目的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試，但至少可以消除絕大部分的電磁干擾，并能指出如何改進(jìn)設(shè)計(jì)、抑制EMI的發(fā)射，從而提高產(chǎn)品的質(zhì)量與可信度。??EMC測(cè)試是EMC設(shè)計(jì)中不可缺少的技術(shù)手段。這種測(cè)試技術(shù)又完全體現(xiàn)在新制訂的各類標(biāo)準(zhǔn)之中。隨著電磁兼容技術(shù)的發(fā)展和國(guó)內(nèi)外技術(shù)市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)的需要，對(duì)EMC測(cè)試的要求會(huì)愈來(lái)愈高。

8、EMC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的出現(xiàn)，大大簡(jiǎn)化了EMC測(cè)試的過(guò)程，提高了測(cè)試的效率和精度。電磁兼容測(cè)試自動(dòng)掃描技術(shù)和虛擬儀器技術(shù)都將推動(dòng)EMC測(cè)試技術(shù)的發(fā)展。crt（陰極射線管）CRT是一種使用陰極射線管(CathodeRayTube）的顯示器，主要有五部分組成：電子槍(Electron