特種設(shè)備無損檢測RTⅢ級人員專業(yè)理論考核試卷.doc

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1、考核號：　　　　　　　姓　名：密封線特種設(shè)備無損檢測RTⅢ級人員專業(yè)理論考核試卷(開卷)（參考答案）　　　　　　　　成績：　　　　　題號題型分值扣分閱卷人簽章一是非題30二單項選擇題20三多項選擇題15四工藝題20五綜合題15總計1002006年6月16日北京全國特種設(shè)備無損檢測人員資格考核委員會10一、是非題（在括號內(nèi)，正確的畫○，錯誤的畫×，每題1.5分，共30分）1．JB/T4730.1－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：缺陷評定區(qū)是在質(zhì)量分級評定時，為評價缺陷的性質(zhì)、數(shù)量和密集程度而設(shè)置的一定尺寸的區(qū)域。（×）2．JB/T47

2、30.2－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：對外徑DO≥100mm的環(huán)向?qū)雍附咏宇^進行100％檢測，所需要的最少透照次數(shù)與透照方式和透照厚度比有關(guān)。（×）3．JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：現(xiàn)場進行γ射線檢測時，應(yīng)按GB18465的規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)、設(shè)置警告標(biāo)志，檢測作業(yè)時，應(yīng)圍繞監(jiān)督區(qū)邊界測定輻射水平。（×）4．JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：筒體縱縫的一次透照長度應(yīng)按透照厚度比K值進行控制，A級、AB級為K≤1.03，此規(guī)定的目的是為了增大透照厚度寬容度。（×）5．對規(guī)格為Φ133×5mm且焊縫余高為1.5

3、mm的管子環(huán)向?qū)雍附咏宇^，采用AB級檢測技術(shù)雙壁單影透照方式進行100％射線照相，按JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，底片上至少應(yīng)識別的絲號是14（絲徑0.160mm）。（○）6．按JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，由透照次數(shù)曲線圖確定透照次數(shù)時，如交點在兩區(qū)域的分界線上，則所需的最少透照次數(shù)應(yīng)取較大數(shù)值。（○）7．JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：對小徑管進行雙壁雙影透照橢圓成像時，應(yīng)控制影像的開口寬度（上下焊縫投影最大間距）在1倍焊縫寬度左右，其主要目的是提高橫向裂紋的檢出率。（×）8．對規(guī)格為

4、Φ76×7mm且焊縫寬度為20mm的管子環(huán)向?qū)雍附咏宇^100％射線照相時，按JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，應(yīng)采用雙壁雙影傾斜透照相隔90°透照2次。（×）9．承壓設(shè)備在用檢測中，由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面限制，檢測條件不能滿足AB級射線檢測技術(shù)的要求時，經(jīng)技術(shù)負責(zé)人批準(zhǔn)，在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）的前提下，若底片的像質(zhì)計靈敏度達到了AB級射線檢測技術(shù)的規(guī)定，則可認為按AB級射線技術(shù)進行了檢測。（〇）10．按JB/T4730.2－2005規(guī)定，用大于12MeV高能X射線照相時，可不使用后

5、屏。其原因是在高能射線照相中，后屏對增感并不重要，有時不使用后屏清晰度反而有所提高。（〇）11．某管道規(guī)格為Φ600×48mm，對環(huán)向?qū)雍附咏宇^采用源在外單壁透照，焦距F為700mm，按JB/T4730.2－2005規(guī)定，AB級檢測技術(shù)，至少要透照11次。（×）1012．按JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，雙壁單影透照像質(zhì)計置于源側(cè)時，最小透照厚度范圍與檢測技術(shù)等級有關(guān)。（×）13．按JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，對于外徑DO＞100mm的容器根部內(nèi)凹和根部咬邊深度也可采用附錄H（規(guī)范性附錄）規(guī)定的一

6、般對比試塊（Ⅱ）進行測定。（○）14．按JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，當(dāng)采用高能X射線照相時，透照厚度范圍的確定與檢測技術(shù)等級無關(guān)。（×）15．JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：當(dāng)?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度D≤2.5時，透過底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于30cd/m2；當(dāng)?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度D＞2.5時，透過底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于10cd/m2，這一規(guī)定與檢測技術(shù)等級有關(guān)。（×）16．JB/T4730.1－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：采用同種檢測方法按不同檢測工藝進行檢測時，如果檢測結(jié)果不一致，應(yīng)對該工藝重新進行鑒

7、定。（×）17．按JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，B級檢測技術(shù)，當(dāng)采用Co-60γ射線照相時，不能使用鉛增感屏。（○）18．JB/T4730.1－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：當(dāng)應(yīng)用高能X射線照相時，可以采用T3類膠片。（×）19．對單個條形缺陷最大長度的下限值和一組條形缺陷累計最大長度的下限值，JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)均作出了明確的規(guī)定。（○）20．JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：當(dāng)Ⅲ級對接焊接接頭允許的缺陷點數(shù)連續(xù)存在，并超過評定區(qū)尺寸的3倍時，對接焊接接頭的質(zhì)量應(yīng)評定為Ⅳ級。（○）二、單項選擇題（將

8、唯一正確答案的序號填在括號內(nèi)，每題2分，共20分）1．JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：采用多膠片方法時，AB級、B級檢測技術(shù)不允許雙片疊加觀察，這一規(guī)定的主要理由是（C）A、雙片疊加觀察時，底片黑度達不到標(biāo)準(zhǔn)的有關(guān)要求。B、雙片疊加觀察時，底片靈敏度達不到標(biāo)準(zhǔn)的有關(guān)要求。C、雙片疊加觀察時，由于單片的黑度較低，底片對比度小