半透明材料涂層紅外檢測(cè)

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1、第17卷第7期光學(xué)精密工程Vol_17NO.7OpticsandPrecisionEngineering2009年7月Ju1.2009文章編號(hào)1004—924X(2009)07—1502—05半透明材料涂層的紅外檢測(cè)李艷紅,趙躍進(jìn),張存林(1.北京理工大學(xué)光電學(xué)院,北京100086;2.首都師范大學(xué)物理系,北京100048)摘要:為了能快速、大面積檢測(cè)不同基底材料上半透明材料涂層的厚度,研究了主動(dòng)式紅外熱成像技術(shù)測(cè)量涂層厚度的方法。用脈沖可見(jiàn)光熱源激勵(lì)涂層試件表面,紅外熱像儀實(shí)時(shí)監(jiān)控表面脈沖激勵(lì)前后溫度的變化。由于半透明的

2、涂層材料吸收可見(jiàn)光能量不滿足面吸收的條件,對(duì)其表面進(jìn)行了噴涂黑漆處理。比較噴漆前后的對(duì)數(shù)溫度時(shí)間變化曲線和微分對(duì)數(shù)溫度時(shí)間變化曲線,并根據(jù)噴漆后的二階微分曲線的峰值時(shí)間來(lái)測(cè)量涂層厚度。實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示:半透明涂層材料表面處理后滿足紅外測(cè)量要求,厚度范圍在0.8~1.7mm的涂層,測(cè)量精度達(dá)0.09mrll,表明紅外檢測(cè)方法可以非接觸、快速、大面積、定量地進(jìn)行半透明材料涂層厚度的測(cè)量。關(guān)鍵詞:半透明涂層;紅外檢測(cè)中圖分類(lèi)號(hào):TN219文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:AInfraredtestingfortranslucentmaterialcoat

3、ingLIYan—hong,ZHAOYue—jin,ZHANGCun—lin(1.SchoolofOptoelectronics,BeOingInstituteofTechnology,Beijing100086,China;2.DepartmentofPhysics,CapitalNormalUniversity,Beijing100048,China)Abstract:Inordertomeasurethecoatingthicknessesonvarioussubstratematerialsatahighspeed

4、andalargearea,anactiveinfraredthermographictechniquewaspresented.Alightpulsewasusedtoheattothesurfaceofthecoatingandaninfraredcamerawasutilizedtocapturethesurfacetempera—turechangeonrealtime.Foratranslucentcoating,visiblelightcouldnotbeabsorbedwellonthesurface,SOa

5、water-solubleblackpaintwaspaintedonthesurfaceofthecoating.ComparedwiththedifferentiallnT—lntcurveswithoutpaintingthecoating,thethicknessofthepaintedcoatingcanbemeasuredaccordingtothepeaktimeofseconddifferentialInT—Intcurves.Experimentresultsindi—catethatthetranslu

6、centcoatingafterpaintingsatisfiesinfraredtestingrequirements,andthemeas—urementprecisioniS0.09mmforthethicknessrangesof0.8—1.7mm.Thesedatashowthatthein—fraredtestingcanbeusedinmeasurementofthecoatingthicknessathighspeeds,largeareas,noncon—tactandquantificati0n.Key

7、words:translucentcoating;infraredtesting收稿日期:2008—07—15;修訂日期:2008—10—19.基金項(xiàng)目:國(guó)防科技工業(yè)技術(shù)基礎(chǔ)“十一五”規(guī)劃重點(diǎn)項(xiàng)目(No.Z032006A003)第7期李艷紅,等:半透明材料涂層的紅外檢測(cè)6.5引言6.05.5\\5.0涂層的厚度不但是表征涂層本身幾何尺寸的4.5.4.0一個(gè)參量,而且對(duì)涂層的性能及壽命均有很大的3.5影響,因此成為涂層質(zhì)量評(píng)價(jià)中至關(guān)重要的參數(shù)3.0一一一之一。目前常用的涂覆層無(wú)損測(cè)厚方法包括磁性測(cè)厚法、渦流測(cè)厚法和超聲測(cè)厚法

8、。磁性測(cè)厚法0僅適用導(dǎo)磁性材料上的非導(dǎo)磁層厚度的測(cè)量;渦a0流測(cè)厚法僅適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度的測(cè)G0量,對(duì)于非導(dǎo)電材料基體不適用;超聲測(cè)厚法需要口耦合劑,是接觸性測(cè)量,有可能對(duì)涂覆層表面造成損害口]。紅外熱波無(wú)損檢測(cè)技術(shù)可單向、不接觸lnt地對(duì)涂層厚度進(jìn)行測(cè)量,同時(shí)直觀快速顯示出內(nèi)0.5O.4部缺

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