最新過套管電阻率測井解釋ppt課件.ppt

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1、過套管電阻率測井解釋過套管電阻率測井是一種電阻率測井方法,它實(shí)現(xiàn)了在套管內(nèi)對套管外地層電阻率的測量,因具有比核測井更好的探測特性和動(dòng)態(tài)探測范圍等優(yōu)勢,逐漸成為套管井看好的測井新技術(shù),為解決儲層泥漿污染、發(fā)現(xiàn)遺漏油氣層、準(zhǔn)確評價(jià)儲層含油性提供了有效技術(shù)手段,為在套管井中監(jiān)測剩余油飽和度開辟了一條新途徑。概述過套管電阻率測井和裸眼電阻率測井在物理上的顯著區(qū)別是井眼套管本身就是一個(gè)巨大的導(dǎo)體。在鋼套管內(nèi)絕大部分電流沿套管流到地面回路電極,而在鋼套管內(nèi)壁以極低頻率流動(dòng)的電流將鋼套管視為傳輸線,由于鋼套管周圍地層介質(zhì)可視為導(dǎo)

2、電介質(zhì),所以將有極小部分電流滲漏到地層,再流回到地面回路電極。通過檢測滲漏到地層中的這部分電流,就可以計(jì)算出地層電阻率。俄羅斯過套管電阻率測井原理1、過套管電阻率測井資料解釋標(biāo)準(zhǔn):過套管電阻率大于或近似等于裸眼井電阻率:過套管電阻率與裸眼電阻率相當(dāng)或略有升高,地層保持原始狀態(tài)或油運(yùn)移所致,但應(yīng)依據(jù)裸眼井解釋為油層、含水油層和油水同層,或在一次解釋中因疏忽、漏判、錯(cuò)判而解釋為水層導(dǎo)致遺失的油氣層,才能采取進(jìn)一步增產(chǎn)措施。過套管電阻率小于裸眼井電阻率:過套管電阻率明顯低于裸眼井電阻率,或考慮地層水礦化度的影響,用油田提

3、供的產(chǎn)出水礦化度計(jì)算剩余油飽和度,結(jié)合每口井的生產(chǎn)簡史,解釋水淹程度較高的層,建議采取措施進(jìn)行封堵;而仍有較大的剩余油飽和度,即水淹程度較低的層,仍可能提高單井產(chǎn)能,建議采取措施求產(chǎn)。過套管電阻率測井資料解釋分析2、過套管電阻率測井資料定性解釋:油田初期注水一般采用淡水水驅(qū)方式,注入水礦化度小于地層水礦化度,油層水淹電阻率下降不明顯,利用自然電位變化特征定性解釋水淹層,如自然電位基線偏移、自然電位偏頭等。油田開發(fā)中后期采用污水回注的方式注水,注入水礦化度接近地層水礦化度,但仍然小于地層水礦化度,自然電位受地層壓力等

4、因素影響不能完全反映水淹特征,主要利用電阻率的變化解釋水淹層。過套管電阻率小于裸眼井電阻率,根據(jù)電阻率下降幅度的大小,解釋不同級別的水淹層。解釋水淹級別高的儲層,建議采取措施進(jìn)行封堵;解釋水淹級別低的儲層,可能仍有一定的產(chǎn)油能力,建議采取措施求產(chǎn)。過套管電阻率高于裸眼井電阻率,應(yīng)該是受水驅(qū)影響,油氣再次運(yùn)移所至,可及時(shí)采取措施求產(chǎn)。過套管電阻率測井資料解釋分析3、利用烴類衰竭指數(shù)定性解釋水淹層:衰竭指數(shù)=SWoh/SWecos=(Recos/Roh)1/2Roh——裸眼井時(shí)的地層電阻率;Recos——套管井條件下得

5、到的地層電阻率;SWoh——裸眼井時(shí)的含水飽和度;SWecos——套管井條件下含水飽和度。衰竭指數(shù)一般在0~1之間變化。衰竭指數(shù)越低,說明油層水淹程度越高,這種方法的優(yōu)點(diǎn)是不需要知道地層孔隙度的大小,但必須假定地層水礦化度相同。過套管電阻率測井資料解釋分析X井單層分析第37層:該層套后地層電阻率明顯低于套前電阻率,原因是泥漿增阻侵入影響,還是其它因素影響雖有待于分析考察,但可以肯定該層含油性不好,否則套后地層電阻率數(shù)值不會這么低,因此從增加產(chǎn)量的角度出發(fā),該層沒有必要射孔,但從認(rèn)識的角度出發(fā),該層可以試油。單層分析

6、第36層:該層上部油層在2206.5-2208.0m井段套后地層電阻率雖低于套前電阻率,但下降幅度不大,電阻率數(shù)值仍然很高,表明該段儲層動(dòng)用程度低,建議對該段地層進(jìn)行補(bǔ)孔。單層分析第27層:該層套后地層電阻率在不受泥漿侵入影響情況與套前地層電阻率基本一致,數(shù)值較高,綜合其它資料分析該層應(yīng)該含油,建議對該層進(jìn)行射孔求產(chǎn)。單層分析第7層:該層套后地層電阻率低于套前電阻率,原因是泥漿增阻侵入影響,還是其它因素影響還有待于分析考察,但從裸眼完井資料綜合分析,該層應(yīng)該含油,建議對該層進(jìn)行射孔求產(chǎn)。單層分析第1層:該層套后地層

7、電阻率在不受泥漿侵入影響情況與套前地層電阻率基本一致,數(shù)值低主要為巖性影響,儲層具有一定厚度,建議對該層進(jìn)行射孔求產(chǎn)。1、過套管電阻率測井曲線與裸眼井地層電阻率曲線相比,由于測井儀器、測井時(shí)間和測井環(huán)境的不同,造成一定程度的差異是正常的??傮w上,過套管電阻率測井儀器測量結(jié)果可靠,能夠反映地層電阻率變化情況。2、固井質(zhì)量、套管等不可預(yù)見性對過套管電阻率測井曲線有影響。在個(gè)別層段出現(xiàn)套后電阻率大于套前電阻率現(xiàn)象,還不能確定是儀器本身的噪聲影響,還是資料對井筒周圍真實(shí)性的反映,對過套管電阻率測井成果的去偽存真分析是資料應(yīng)

8、用過程中的關(guān)鍵。3、過套管電阻率測井儀器對1m以內(nèi)的薄層適應(yīng)性有待于進(jìn)一步考察。結(jié)論謝謝!病例分析陳某,女,13歲。就診日期:2002年4月15日。主訴:惡寒,發(fā)熱2天?,F(xiàn)病史:患兒昨天放學(xué)后覺惡寒、發(fā)熱,曾到附近衛(wèi)生院就診,服用先鋒霉素,上述癥狀未減,今日就診中醫(yī)。診時(shí)惡寒,發(fā)熱(T38.9℃),咽痛,頭痛,鼻塞,咳嗽,痰黃,舌淡紅,苔薄黃,脈浮數(shù)。病例1

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