ic測試儀測試方案

《ic測試儀測試方案》由會(huì)員上傳分享，免費(fèi)在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在學(xué)術(shù)論文-天天文庫。

1、IC測試儀及其配套軟件測試方案電子科技大學(xué)IC測試儀及其配套軟件測試方案一、軟件調(diào)試二、軟硬件通信測試方案三、測試儀功能測試方案電子科技大學(xué)2007年7月第19頁共19頁IC測試儀及其配套軟件測試方案電子科技大學(xué)一、軟件調(diào)試測試儀軟件是基于VC++6.0設(shè)計(jì)生成的基于Windows2000的視窗軟件平臺(tái)，其大部分功能可在與硬件無關(guān)的條件下，在VC++6.0內(nèi)調(diào)試，部分功能需與測試儀硬件結(jié)合進(jìn)行調(diào)試。1．1界面調(diào)試1.參數(shù)軟件調(diào)試手段：軟件調(diào)試。調(diào)試目標(biāo)：集成pattern編輯器，可按與TR6010兼容的pattern的書寫格式錄入pattern，非法錄入時(shí)有信息提示，錄入過

2、程中可隨時(shí)存儲(chǔ)為project.ptn文件。調(diào)試手段：軟件調(diào)試。2.測試程序設(shè)置界面，分測試儀資源設(shè)置和測試程序生成部分。?測試儀資源設(shè)置部分調(diào)試手段：軟件調(diào)試。調(diào)試目標(biāo)：集成資源設(shè)置圖形窗口，完成原TR6010對(duì)不同測試bin的測試模式設(shè)置、測試時(shí)間設(shè)置、通道設(shè)置、電平位移設(shè)置（Vih、Vil、Voh、Vol設(shè)置）、PMU設(shè)置（relay設(shè)置、force設(shè)置、measure設(shè)置）等，并可存儲(chǔ)為project.test；?測試程序生成部分調(diào)試手段：軟件調(diào)試。調(diào)試目標(biāo)：集成編譯系統(tǒng)，讀取project.test及project.ptn文件，生成對(duì)應(yīng)于測試儀的測試指令程序pro

3、ject.prog。3.生產(chǎn)界面，分待測項(xiàng)目選擇、待測項(xiàng)目運(yùn)行、芯片測試狀態(tài)實(shí)時(shí)顯示部分。?待測項(xiàng)目選擇調(diào)試手段：軟件調(diào)試。調(diào)試目標(biāo)：能在用戶指定的目錄下選定待測項(xiàng)目。第19頁共19頁IC測試儀及其配套軟件測試方案電子科技大學(xué)?待測項(xiàng)目運(yùn)行調(diào)試手段：軟件調(diào)試。調(diào)試目標(biāo)：調(diào)用PCI通信系統(tǒng)，將待測項(xiàng)目指令程序下載至測試儀，調(diào)用RS232通信系統(tǒng)，獲取prober狀態(tài)，為測試控制函數(shù)（見第2節(jié)）提供測試儀是否運(yùn)行測試程序的控制標(biāo)志。?芯片測試狀態(tài)實(shí)時(shí)顯示調(diào)試手段：軟件調(diào)試。調(diào)試目標(biāo)：對(duì)讀回的測試結(jié)果進(jìn)行譯碼，實(shí)時(shí)顯示測試結(jié)果，存儲(chǔ)設(shè)計(jì)結(jié)果；生成統(tǒng)計(jì)報(bào)告文件、map文件、位圖文件

4、。2.報(bào)表輸出界面調(diào)試手段：軟件調(diào)試。調(diào)試目標(biāo)：選擇并顯示測試報(bào)告文件、map文件及位圖文件。3.幫助界面調(diào)試手段：軟件調(diào)試。調(diào)試目標(biāo)：集成簡單的軟件操作說明頁面。4.定位回測界面調(diào)試手段：軟件調(diào)試。調(diào)試目標(biāo)：具體功能實(shí)現(xiàn)在第一階段中暫不涉及，僅設(shè)計(jì)基本界面。1．2后臺(tái)函數(shù)調(diào)試1.測試控制函數(shù)調(diào)試手段：軟件調(diào)試。調(diào)試目標(biāo)：通過調(diào)用PCI通信函數(shù)、RS232通信函數(shù)，獲得相應(yīng)的控制字，完成測試儀與PC的數(shù)據(jù)交互，以及測試儀與prober的協(xié)調(diào)控制。2.PCI通信函數(shù)調(diào)試手段：軟硬件調(diào)試。調(diào)試目標(biāo)：對(duì)測試儀進(jìn)行寫操作，下載測試項(xiàng)目程序，返回標(biāo)志字至測試控制函數(shù)；對(duì)測試儀進(jìn)行讀操

5、作，讀回測試結(jié)果，返回標(biāo)志字至測試控制程序。第19頁共19頁IC測試儀及其配套軟件測試方案電子科技大學(xué)1.RS232通信函數(shù)調(diào)試手段：軟硬件調(diào)試。調(diào)試目標(biāo)：對(duì)prober進(jìn)行讀操作(寫操作在第一階段中暫不涉及)，返回prober狀態(tài)標(biāo)志字至測試控制函數(shù)。二、軟硬件通信測試方案通信部分的整體電路如圖2-1所示，它由兩塊板卡組成，第一塊板卡為PCI板卡，它由PCI9054，F(xiàn)PGA1，電平位移電路，邏輯組合電路以及部分LVDS電路構(gòu)成。第二塊板卡由測試卡，F(xiàn)PGA2以及電平位移電路和部分LVDS電路組成。從圖2-1可以看出此通信通路涉及到PC與PCI9054的通信，PCI905

6、4與FPGA1的，F(xiàn)PGA1與FPGA2的通信以及FPGA2與測試卡的通信。通信的過程是相當(dāng)復(fù)雜的，為了測試各部分是否滿足相應(yīng)的功能，特制定了前、中、后期的測試方案來檢測。第19頁共19頁IC測試儀及其配套軟件測試方案電子科技大學(xué)圖2-1讀數(shù)據(jù)原理圖（測試卡向PC機(jī)傳送數(shù)據(jù)）※前期的測試方案前期主要調(diào)試PC與PCI9054，以及PCI9054與FPGA1的通信。PCI9054與PC機(jī)的接口的連接都是標(biāo)準(zhǔn)接法，它們的聯(lián)接是否正確不便直接的測試，可以通過PCI9054與FPGA1的通信來驗(yàn)證。所以我們只要關(guān)注PCI9054與FPGA1的通信就即可。首先我們必須了解它們之間有哪些

7、信號(hào)的聯(lián)接以及各自具有哪些相應(yīng)的功能。第19頁共19頁IC測試儀及其配套軟件測試方案電子科技大學(xué)信號(hào)列表：信號(hào)名功能ADS#地址選通信號(hào)，有效時(shí)表示一次傳輸?shù)拈_始。BLAST#突發(fā)結(jié)束信號(hào)線，有效時(shí)表示本次突發(fā)傳輸已到最后一個(gè)數(shù)據(jù)周期，下一個(gè)周期結(jié)束本次突發(fā)傳輸。LW/R#讀/寫選擇信號(hào)，當(dāng)它為高時(shí)為寫，為低時(shí)為讀。LCLK時(shí)鐘信號(hào)。LBE[3：0]#通過它來控制數(shù)據(jù)長度。LBE3#使能LD[31：24]，LBE2#使能LD[23：16]，LBE1#使能LD[15：8]，LBE1#使能LD[7：0]。CCS#它是一