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《JBT9495.4-1999光學(xué)晶體應(yīng)力雙折射測量方法》由會員上傳分享，免費在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在行業(yè)資料-天天文庫。
1、ICS17.180;31.030N05JI}中華人民共和國機械行業(yè)標準JB/T9495.4-1999光學(xué)晶體應(yīng)力雙折射測量方法Measuringmethodforstress一birefringenceofopticalcrystal1999一08一06發(fā)布2000一01一01實施國家機械工業(yè)局發(fā)布JB/T9495.4-1999前言本標準是對ZBN05001.4-堿光學(xué)晶體應(yīng)力雙折射測量方法》的修訂。本標準根據(jù)GB/T1.1-1993和GB/T1.22-1993的要求對原標準作了編輯、文字上的修改，主要技術(shù)內(nèi)容沒有變化。本標準自實施之日起，代替ZBN05001.4-86,本標準由儀表功
2、能材料標準化技術(shù)委員會提出并歸口。本標準由北京玻璃研究所負責起草。本標準主要起草人:王維民。本標準1986年6月首次發(fā)布。中華人民共和國機械行業(yè)標準光學(xué)晶體應(yīng)力雙折射測且方法JB/r時的.4-1999代替ZBN05001.4一96M自曰.么電皿.山目forAM.一場吐比甲水e叮雌自口.口1S目范圍本標準適用于立方晶體的應(yīng)力雙折射側(cè)f，包括定性、定1R兩種測盆方法。2引用標準下列標準所包含的條文，通過在本標準中引用而構(gòu)成為本標準的條文。本標準出版時，所示版本均為有效。所有標準都會被修訂，使用本標準的各方應(yīng)探討使用下列標準最新版本的可能性。JB/P9495.1-1999光學(xué)晶體3原理晶體一
3、般具有各向異性的特點，當光通過時會產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象。但就立方晶系的光學(xué)晶體而言，應(yīng)該沒有雙折射現(xiàn)象。當立方晶系的晶體存在有應(yīng)力時，也可以產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象，應(yīng)力的大小就用尋常光(0光)和非尋常光(e光)在晶體內(nèi)的光程差來衡盆通常用單位厚度的光程差來表示。測量方法有兩種，一種是定性的方法，用偏振光的干涉色來判斷光程差的大小;一種是定量的方法，也稱1/4波片法，它通過檢偏器的旋轉(zhuǎn)角度B直接計算出光程差的數(shù)值計算公式如下:S二支B??，.二，.‘............??，二、1式中:8—光程差.舊;z—測量用單色光波長，nun;0-檢偏器旋轉(zhuǎn)角度、(。)4儀器4.1定性測試方法采用應(yīng)力儀，其光
4、路如圖1所示。起偏鏡、檢偏鏡互相正交。補償片光程差為5沁二不放徉品時視場呈紫紅色。并附有比色板-4.2定量測試采用雙折射儀，其光路如圖2所示。它采用1/4波片法用濾光片采形成單色光5樣品要求測量應(yīng)力用的樣品上下兩面應(yīng)平行，大小厚度均不限。最好兩面拋光，若不拋光則應(yīng)在兩面涂上與樣品折射率相近的折射率油。國家機械工業(yè)局1999一08一06批準2000一01一01實施JB/1'9495.4-19991-檢偏器;2一補償片;3一樣品;4-起偏器1-濾光片;2-檢偏器;3-1/4波片;4一樣品;5-起伯器圖1應(yīng)力儀示憊圖圖2雙折射儀示憊圖6測試步驟6.1定性側(cè)盆法將樣品放在樣品臺上，觀察偏振光千
5、涉色的情況，找到應(yīng)力最大處，用比色板比較或根據(jù)頗色查表來確定應(yīng)力大小。6.2定I側(cè)定法使檢偏器和起偏器正交，并轉(zhuǎn)動1/4波片，使視場達到全暗，放上樣品臺使視場全暗，然后再把樣品轉(zhuǎn)動45喃，轉(zhuǎn)動檢偏器再達到視場全暗，讀出檢偏器旋轉(zhuǎn)角度B值，因單光波長為x=450nm,則雙折射光程S按下列公式計算:S二立5=38(2)7測試報告測得光程差后量出晶體樣品厚度，用單位厚度的光程差來表示應(yīng)力大小，按JB/T9495.1-1999的5.2.3規(guī)定分類。將所測得的光程差及應(yīng)力類別依測試方法不同填寫表1或表2的測試報告。表1定性方法測試報告單樣品側(cè)試日期側(cè)試人復(fù)核人光程差偏振光干涉色應(yīng)力雙折射類別口刀
6、」JBfr9495.4-1999表2定量方法測試報告單樣品測試日期測試人復(fù)核人樣品厚度旋轉(zhuǎn)角度B單位厚度光程差應(yīng)力雙折射類別cm(“)mn/cm{一
