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《JBT9495.4-1999光學(xué)晶體應(yīng)力雙折射測(cè)量方法》由會(huì)員上傳分享，免費(fèi)在線(xiàn)閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在行業(yè)資料-天天文庫(kù)。
1、ICS17.180;31.030N05JI}中華人民共和國(guó)機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JB/T9495.4-1999光學(xué)晶體應(yīng)力雙折射測(cè)量方法Measuringmethodforstress一birefringenceofopticalcrystal1999一08一06發(fā)布2000一01一01實(shí)施國(guó)家機(jī)械工業(yè)局發(fā)布JB/T9495.4-1999前言本標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)ZBN05001.4-堿光學(xué)晶體應(yīng)力雙折射測(cè)量方法》的修訂。本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)GB/T1.1-1993和GB/T1.22-1993的要求對(duì)原標(biāo)準(zhǔn)作了編輯、文字上的修改，主要技術(shù)內(nèi)容沒(méi)有變化。本標(biāo)準(zhǔn)自實(shí)施之日起，代替ZBN05001.4-86,本標(biāo)準(zhǔn)由儀表功
2、能材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由北京玻璃研究所負(fù)責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:王維民。本標(biāo)準(zhǔn)1986年6月首次發(fā)布。中華人民共和國(guó)機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)晶體應(yīng)力雙折射測(cè)且方法JB/r時(shí)的.4-1999代替ZBN05001.4一96M自曰.么電皿.山目forAM.一場(chǎng)吐比甲水e叮雌自口.口1S目范圍本標(biāo)準(zhǔn)適用于立方晶體的應(yīng)力雙折射側(cè)f，包括定性、定1R兩種測(cè)盆方法。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。JB/P9495.1-1999光學(xué)晶體3原理晶體一
3、般具有各向異性的特點(diǎn)，當(dāng)光通過(guò)時(shí)會(huì)產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象。但就立方晶系的光學(xué)晶體而言，應(yīng)該沒(méi)有雙折射現(xiàn)象。當(dāng)立方晶系的晶體存在有應(yīng)力時(shí)，也可以產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象，應(yīng)力的大小就用尋常光(0光)和非尋常光(e光)在晶體內(nèi)的光程差來(lái)衡盆通常用單位厚度的光程差來(lái)表示。測(cè)量方法有兩種，一種是定性的方法，用偏振光的干涉色來(lái)判斷光程差的大小;一種是定量的方法，也稱(chēng)1/4波片法，它通過(guò)檢偏器的旋轉(zhuǎn)角度B直接計(jì)算出光程差的數(shù)值計(jì)算公式如下:S二支B??，.二，.‘............??，二、1式中:8—光程差.舊;z—測(cè)量用單色光波長(zhǎng)，nun;0-檢偏器旋轉(zhuǎn)角度、(。)4儀器4.1定性測(cè)試方法采用應(yīng)力儀，其光
4、路如圖1所示。起偏鏡、檢偏鏡互相正交。補(bǔ)償片光程差為5沁二不放徉品時(shí)視場(chǎng)呈紫紅色。并附有比色板-4.2定量測(cè)試采用雙折射儀，其光路如圖2所示。它采用1/4波片法用濾光片采形成單色光5樣品要求測(cè)量應(yīng)力用的樣品上下兩面應(yīng)平行，大小厚度均不限。最好兩面拋光，若不拋光則應(yīng)在兩面涂上與樣品折射率相近的折射率油。國(guó)家機(jī)械工業(yè)局1999一08一06批準(zhǔn)2000一01一01實(shí)施JB/1'9495.4-19991-檢偏器;2一補(bǔ)償片;3一樣品;4-起偏器1-濾光片;2-檢偏器;3-1/4波片;4一樣品;5-起伯器圖1應(yīng)力儀示憊圖圖2雙折射儀示憊圖6測(cè)試步驟6.1定性側(cè)盆法將樣品放在樣品臺(tái)上，觀(guān)察偏振光千
5、涉色的情況，找到應(yīng)力最大處，用比色板比較或根據(jù)頗色查表來(lái)確定應(yīng)力大小。6.2定I側(cè)定法使檢偏器和起偏器正交，并轉(zhuǎn)動(dòng)1/4波片，使視場(chǎng)達(dá)到全暗，放上樣品臺(tái)使視場(chǎng)全暗，然后再把樣品轉(zhuǎn)動(dòng)45喃，轉(zhuǎn)動(dòng)檢偏器再達(dá)到視場(chǎng)全暗，讀出檢偏器旋轉(zhuǎn)角度B值，因單光波長(zhǎng)為x=450nm,則雙折射光程S按下列公式計(jì)算:S二立5=38(2)7測(cè)試報(bào)告測(cè)得光程差后量出晶體樣品厚度，用單位厚度的光程差來(lái)表示應(yīng)力大小，按JB/T9495.1-1999的5.2.3規(guī)定分類(lèi)。將所測(cè)得的光程差及應(yīng)力類(lèi)別依測(cè)試方法不同填寫(xiě)表1或表2的測(cè)試報(bào)告。表1定性方法測(cè)試報(bào)告單樣品側(cè)試日期側(cè)試人復(fù)核人光程差偏振光干涉色應(yīng)力雙折射類(lèi)別口刀
6、」JBfr9495.4-1999表2定量方法測(cè)試報(bào)告單樣品測(cè)試日期測(cè)試人復(fù)核人樣品厚度旋轉(zhuǎn)角度B單位厚度光程差應(yīng)力雙折射類(lèi)別cm(“)mn/cm{一
