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《RT講義-第四章 射線透照工藝.doc》由會員上傳分享，免費在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在行業(yè)資料-天天文庫。
1、第四章射線透照工藝前言（一）X射線能量的選擇：選擇的首要條件時應(yīng)具有足夠的穿透力，但過高對射線照相的靈敏度不利。因為隨管電壓的升高，衰減系數(shù)減少對比度降低，固有不清晰度U增大，底片顆粒度增大，其結(jié)果是射線照相靈敏度下降。因此原則是：在保證穿透力的前提下選擇能量較低的X射線。所以，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了對不同厚度允許使用的最高管電壓并要求有適當(dāng)?shù)钠毓饬浚ㄈ鏏B級不小于15mA.min；焦距700）（二）曝光量：E=I.t(或A.t)互易律：當(dāng)采用鉛箔增感屏或無增感屏?xí)r，遵守互易律，即只要兩者乘積E值不變。即射線強度和時間相應(yīng)變化，底片黑度不變。平方反比定律：輻射強度與距離平方成
2、反比。（三）焊縫透照方法要考慮的因素：1、必須確定的事項：射線源位置、透照方向、象質(zhì)計、標(biāo)記的放置、散射線的屏蔽。2、必須確定的幾何參數(shù)：焦距（L和L）；一次透照長度L；環(huán)焊縫100%，透照時的最少曝光次數(shù)N。3、同時需考慮的相關(guān)因素：24幾何不清晰度U；透照厚度比K；橫向裂紋檢出角Q；有效評定長度Leff。100%透照時，相鄰兩片的搭接長度L。一、關(guān)于U值的問題：U：幾何不清晰又稱半影寬度。U=JB928-67標(biāo)準(zhǔn)為一固定值，U=0.2、0.4㎜，要減小U值從公式中可以看出提高焦距可以減少U。但要增加曝光量（t、KV）為了互相的制約，使用德國標(biāo)準(zhǔn)DIN54111
3、規(guī)定：A級≥7.5LB級≥15LJB4730-94標(biāo)準(zhǔn)采用此標(biāo)準(zhǔn)并增加了AB級即：AB級：≥10LA級L≥7.5df.LAB級L≥10df.LB級L≥15df.L如果把：df=代入以上公式得：A級：U≤LAB級：U≤LB級：U≤L從公式可以看出U是一個變量，它隨工件透照厚度（L24）的增加而有所增加。在JB928-67標(biāo)準(zhǔn)中U值是一個定值，一般焦距選擇600、700㎜即能滿足要求：T：母材厚度T′：射線束斜向透照最大厚度從公式中可以看出求解L仍是一個復(fù)雜的計算，為了簡便計算而使用工程數(shù)學(xué)中的三線式諾模圖原理，用直尺直接求得L值。使用三線式諾模圖是解決U值的問題，提
4、高圖象的清晰度最主要是減少U值。新標(biāo)準(zhǔn)對計算f值（L）增加了源在內(nèi)單壁透照時，中心法f值可減少不超過規(guī)定值的50%，偏心法f值可減少不超過規(guī)定值的20%。二、關(guān)于K值的問題：透照厚度比KK=L1θT′TL2HJB4730-94(GB3323-87)規(guī)定：環(huán)縫：A、AB級≤1.1θ=24.62°B級≤1.06θ=19.37°cosθ== θ角：橫向裂紋沒檢出角限制K值的原因：1、使射線穿透工件厚度在有效透照區(qū)內(nèi)變化不致太大；242、使射線透照強度變化不太大（即使黑度均勻，靈敏度均勻）；3、使橫向裂紋的檢出能力在有效透照區(qū)變化不致太大。①K值對橫向裂紋檢出率的影響：
5、θ對于深h、寬為W的橫向裂紋wD=-0.434G.Th為了檢出裂紋需使DT′又D=,當(dāng)W一定時，∴D當(dāng)=90°=W此時裂紋檢出率最低；=0°=h射線束平行裂紋檢出率最高；9070302010+-10-20KD從而提高了橫向裂紋檢出率。實踐證明：θ=15°時檢出率為50%θ=10°時檢出率為70%三、縱縫（直縫）透照方法：根據(jù)K值的要求，計算一次透照長度L1、L、L的確定24θ=cosKA、AB級K=1.03θ=13.9°B級K=1.01θ=8.07°L=K=1.01時L=3.53L取整L=3L（B級）K=1.03時L=2.03L取整L=2L（A級、AB級）標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定
6、了L須同時滿足U，K值在縱縫透照時一般按U要求計算的L值較小，滿足K值的L值，就會同時滿足U值。從AB級L=2L可以看出至少要使f≥600時即能照300長的底片L3L2L12、LeffθLeff：有效評定長度：搭接長度θL：一次透照長度ΔCLeff底片有效評定長度：是指底片上兩搭接標(biāo)記之間的長度用Leff表示。一次透照長度：即L是指實物上兩搭接標(biāo)記之間的長度。縱縫Leff=L+==對于A、AB級：L=2L∴==24對于B級L=3L∴=∴Leff=L+（A、AB級）Leff=L+（A級）3、直縫雙壁單影透照由于搭接標(biāo)記只能放在膠片側(cè)即Leff=L所以需在底片兩側(cè)各加
7、長度進(jìn)行評定區(qū)的評定，否則則存在盲區(qū)。四、環(huán)焊縫透照法：F＜RF＞R環(huán)縫1、環(huán)縫單壁外照法：外照法時形成的K值或θ較大，但不能與縱縫那樣定K值，而是要放松些，不然透照的次數(shù)太多，那么100%透照時，滿足K值要求，整圈的最小曝光次數(shù)N？N===（近似計算）精確計算：（K=1.1）（K=1.06）240L3αηθL1=sin()(正弦定理)求出 求出N再求LLLeff等L=L：外等分長度（射線源側(cè)一次透照長度）L=L：膠片側(cè)焊縫的等分長度=2Tlg(近似值)Leff=L+K=1.1時，=2Tlg24.62°=0.92TK=1.06時，=2Tlg19.37°=0.70T
8、=,N==
