原子吸收 塞曼校正

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1、原子吸收光譜儀干擾效應(yīng)及其消除方法一、干擾效應(yīng)干擾效應(yīng)按其性質(zhì)和產(chǎn)生的原因，可以分為4類：化學(xué)干擾、電離干擾、物理干擾和光譜干擾。1、化學(xué)干擾化學(xué)干擾與被測(cè)元素本身的性質(zhì)和在火焰中引起的化學(xué)反應(yīng)有關(guān)。產(chǎn)生化學(xué)干擾的主要原因是由于被測(cè)元素不能全部由它的化合物中解離出來，從而使參與銳線吸收的基態(tài)原子數(shù)目減少，而影響測(cè)定結(jié)果的準(zhǔn)確性。由于產(chǎn)生化學(xué)干擾的因素多種多樣，消除干擾的方法要是具體情況而不同，常用以下方法：1）改變火焰溫度對(duì)于生成難熔、難解離化合物的干擾，可以通過改變火焰的種類、提高火焰的溫度來消除。如在空氣-乙炔火焰的PO43-對(duì)該的測(cè)定有干擾，當(dāng)改用氧化二氮-乙炔

2、火焰后，提高火焰溫度，可消除此類干擾。2）加入釋放劑：向試樣中加入一種試劑，使干擾元素與之生成更穩(wěn)定、更難解離的化合物，而將待測(cè)元素從其與干擾元素生成的化合物中釋放出來。如測(cè)Mg2+時(shí)鋁鹽會(huì)與鎂生成MgAl2O4難熔晶體，使鎂難于原子化而干擾測(cè)定。若在試液中加入釋放劑SrCl2,可與鋁結(jié)合成穩(wěn)定的SrAl2O4而將鎂釋放出來。磷酸根會(huì)與鈣生成難解離化合物而干擾鈣的測(cè)定，若加入釋放劑LaCl3,則由于生成更難離解的LaPO4而將該釋放出來。3）加入保護(hù)絡(luò)合劑：保護(hù)絡(luò)合劑可與待測(cè)元素生成穩(wěn)定的絡(luò)合物，而是待測(cè)元素不再與干擾元素生成難解離的化合物而消除干擾。如PO43-干擾

3、鈣的測(cè)定，當(dāng)加入絡(luò)合劑EDTA后，鈣與EDTA生成穩(wěn)定的鰲合物，而消除PO43-的干擾。4）加入緩沖劑加入緩沖劑即向試樣中加入過量的干擾成分，使干擾趨于穩(wěn)定狀態(tài)，此含干擾成分的試劑稱為緩沖劑。如用氧化二氮-乙炔測(cè)定鈦時(shí)，鋁有干擾，難以獲準(zhǔn)結(jié)果，向試樣中加入鋁鹽使鋁的濃度達(dá)到200ug/ml時(shí)，鋁對(duì)鈦的干擾就不再隨溶液中鋁含量的變化而改變，從而可以準(zhǔn)確測(cè)定鈦。但這種方法不很理想，它會(huì)大大降低測(cè)定靈敏度。2、電離干擾是指待測(cè)元素在火焰中吸收能量后，除進(jìn)行原子化外，還是部分原子電離，從而降低了火焰中基態(tài)原子的濃度,使待測(cè)元素的吸光度降低，造成結(jié)果偏低?；鹧鏈囟扔?，電離干擾

4、越顯著。當(dāng)分析電離電位較低的元素（如Be、Sr、Ba、Al）,為抑制電離干擾，出采用降低火焰溫度的方法外，還可以向試液中加入消電離劑，如1%CsCl(或KCl、RbCl)溶液，因CsCl在火焰中極易電離產(chǎn)生高的電子云密度，此高電子云密度可以只待測(cè)元素的電離而除去干擾。3、物理干擾物理干擾是指試樣在轉(zhuǎn)移、蒸發(fā)和原子化的過程中，由于物理的特性（如粘度、表面張力、密度等）的變化引起吸收強(qiáng)度下降的效應(yīng)。采用可調(diào)式霧化器通過改變進(jìn)樣量的大小、采用標(biāo)準(zhǔn)加入法（配置與被測(cè)樣品相似組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品）或稀釋來消除物理干擾。4、光譜干擾光譜干擾包括譜線重疊、光譜通帶內(nèi)存在吸收線、原子化池內(nèi)

5、的直流發(fā)射、分子吸收、光散射等。當(dāng)采用銳性光源和交流調(diào)制技術(shù)時(shí)，前三種因素一般可以不予考慮，主要考慮分子吸收和光散射，它們是形成光譜背景干擾的主要因素：l分子吸收是指在原子化過程中生成的分子對(duì)輻射的吸收，分子吸收是帶狀光譜，會(huì)在一定波長范圍內(nèi)形成干擾。l光散射是在原子化過程中產(chǎn)生的微小固體顆粒使光產(chǎn)生散射，造成透光度減小，吸收度增加二、背景干擾的校正技術(shù)：1.背景干擾的產(chǎn)生背景干擾是一種光譜干擾，形成光譜背景的主要因素是分子吸收與光散射。表現(xiàn)為增加表觀吸光度，使測(cè)定結(jié)果偏高。2.背景校正的方法1）連續(xù)光源背景校正法（氘燈校正）連續(xù)光源采用氘燈在紫外區(qū)；碘鎢燈在可見光區(qū)

6、背景校正。切光器可使銳線光源與氘燈連續(xù)光源交替進(jìn)入原子化器。銳線光源測(cè)定的吸光度值為原子吸收與背景吸收的總吸光度。連續(xù)光源所測(cè)吸光度為背景吸收，因?yàn)樵谑褂眠B續(xù)光源時(shí)，被測(cè)元素的共振線吸收相對(duì)于總?cè)松涔鈴?qiáng)度是可以忽略不計(jì)的。因此連續(xù)光源的吸光度值即為背景吸收。將銳線光源吸光度值減去連續(xù)光源吸光度值，即為校正背景后的被測(cè)元素的吸光度值。氘燈校正法靈敏度高，應(yīng)用廣泛。非常適合火焰校正，在火焰和石墨爐共用的機(jī)型中，采用氘燈校正法是最折衷的方法，雖然在石墨爐中氘燈校正法不及塞曼效應(yīng)背景校正理想，但在火焰分析中由于火焰產(chǎn)生的粒子造成光散塞曼效應(yīng)射而使塞曼效應(yīng)無法正常地進(jìn)行磁場(chǎng)分裂

7、，氘燈校正法在火焰分析中比塞曼效應(yīng)校正法優(yōu)越的多。氘燈校正法的缺點(diǎn)采用兩種不同的光源，需較高技術(shù)調(diào)整光路平衡。2）塞曼效應(yīng)背景校正當(dāng)僅使用石墨爐進(jìn)行原子化時(shí)，最理想是利用塞曼效應(yīng)進(jìn)行背景校正。塞曼效應(yīng)是指光通過加在石墨爐上的強(qiáng)磁場(chǎng)時(shí)，引起光譜線發(fā)生分裂的現(xiàn)象。塞曼效應(yīng)分為正常塞曼和反常塞曼效應(yīng)：a、正常塞曼效應(yīng)背景校正光的方向與磁場(chǎng)方向垂直，在強(qiáng)磁場(chǎng)作用下，原子吸收線分裂為π和δ+組分：π平行于磁場(chǎng)方向，波長不變；δ+組分垂直于磁場(chǎng)方向，波長分別向長波與短波移動(dòng)。這兩個(gè)分量之間的主要差別是π分量只能吸收與磁場(chǎng)平行的偏振光，而δ+分量只能吸收與磁場(chǎng)垂直