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1、均值極差圖(X-R圖)分析極差圖RLCLRUCL1、受控制的過程的極差★存在特殊原因變差2、不LCLRUCL受控制的過程的極差(有超過控制限的點(diǎn))解釋：超出極差上控制限的點(diǎn)通常說明存在下列情況的一種或幾種：l控制限計(jì)算錯誤或描點(diǎn)時(shí)描錯；l零件間的變化性或分布的寬度已經(jīng)增大（即變壞），這種增大可以發(fā)生在某個時(shí)間點(diǎn)上，也可能是整個趨勢的一部分；l測量系統(tǒng)變化（如不同的檢具或檢驗(yàn)員）；l測量系統(tǒng)沒有適當(dāng)?shù)姆直媪ΑＳ幸稽c(diǎn)位于控制限之下（樣本容量大于等于7的情況），說明存在下列情況的一種或幾種：l控制限或描點(diǎn)錯誤；l分布的寬度變?。醋兒茫?；l測量系統(tǒng)已改變（包
2、括數(shù)據(jù)編輯或變換）?！镦湣邢铝鞋F(xiàn)象之一表明過程已改變或出現(xiàn)種趨勢：●連續(xù)7點(diǎn)位于平均值的一側(cè)；●連續(xù)7點(diǎn)上升或下降。63、不受控制的過程的極差(存在高于和低于極差均值的兩種鏈)UCLRLCL4、不受控制的過程的極差(存在長的上升鏈)UCLRLCL解釋：高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況的一種或全部：l輸出值的分布寬度增加，其原因可能是無規(guī)律的（如設(shè)備工作異常或固定松動）或是由于過程中的某個要素變化（如材料變化），是常見問題，需糾正；l測量系統(tǒng)變化（如不同的檢具或檢驗(yàn)員）；低于平均極差的鏈或下降鏈說明存在下列情況的一種或全部：l輸出值的分布寬度
3、減小，這常常是一個好狀態(tài)，應(yīng)研究以便推廣應(yīng)用和改進(jìn)過程；l測量系統(tǒng)改變，這會掩蓋過程的真實(shí)性的變化。★其它明顯的非隨機(jī)的圖形5、不受控制的過程的極差(點(diǎn)離極差均值太近)UCLRLCL66、不受控制的過程的極差(點(diǎn)離控制限太近)UCLRLCL解釋：各點(diǎn)與極差均值R的距離：一般地，大約2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間1/3的區(qū)域內(nèi)，1/3的描點(diǎn)應(yīng)落在其外的2/3的區(qū)域內(nèi)。a）如果顯著多于2/3以上的描點(diǎn)落在離極差均值R很近之處（超過90％的點(diǎn)落在控制限1/3的區(qū)域內(nèi)），說明存在下列情況的一種或全部：l控制限計(jì)算錯誤或描點(diǎn)時(shí)描錯；l過程或取樣方法被分層；每個子
4、組系統(tǒng)化包含了從兩個或多個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（如用幾根測量軸每一軸測一個數(shù)）；l數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯。b）如果顯著少于2/3以下的描點(diǎn)落在離極差均值R很近之處（少于40％的點(diǎn)落在控制限1/3的區(qū)域內(nèi)），說明存在下列情況的一種或全部：l控制限計(jì)算錯誤或描點(diǎn)時(shí)描錯；l過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含從兩個或多個具有明顯不同的變化性的過程流的測量值（如輸入的材料批次混淆）。均值圖X1、受控制的過程的均值UCLXLCL★存在特殊原因變差2、不LCLUCL受控制的過程的均值(有超過控制限的點(diǎn))X解釋：6超出控制限的點(diǎn)通常說明存在下列情況的一種或幾
5、種：l控制限或描點(diǎn)錯誤；l過程已改變，或是在當(dāng)時(shí)的那一點(diǎn)（可能是一件獨(dú)立的事件）或是一種趨勢的一部分；l測量系統(tǒng)變化（如不同的檢具或檢驗(yàn)員）?！镦湣邢铝鞋F(xiàn)象之一表明過程已改變或出現(xiàn)種趨勢：●連續(xù)7點(diǎn)位于平均值的一側(cè)；●連續(xù)7點(diǎn)上升或下降。3、不LCLUCL受控制的過程的均值(出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈)X4、不LCLUCL受控制的過程的均值(長的上升鏈)X解釋：與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩種：l過程均值已改變——也許還在變化；l測量系統(tǒng)已改變（漂移、偏差、靈敏度等）★其它明顯的非隨機(jī)的圖形5、不LCLUCL受控制的過程的均值(點(diǎn)
6、離過程的均值太近)X66、不LCL受控制的過程的均值(點(diǎn)離控制限太近)UCLX解釋：各點(diǎn)與過程均值X的距離：一般地，大約2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間1/3的區(qū)域內(nèi)，1/3的描點(diǎn)應(yīng)落在其外的2/3的區(qū)域內(nèi)。a）如果顯著多于2/3以上的描點(diǎn)落在過程均值X很近之處（超過90％的點(diǎn)落在控制限1/3的區(qū)域內(nèi)），說明存在下列情況的一種或全部：l控制限計(jì)算錯誤或描點(diǎn)時(shí)描錯；l過程或取樣方法被分層；每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（如用幾根測量軸每一軸測一個數(shù)）；l數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯。b）如果顯著少于2/3以下的描點(diǎn)落在過程平均值X
7、很近之處（少于40％的點(diǎn)落在控制限1/3的區(qū)域內(nèi)），說明存在下列情況的一種或全部：l控制限計(jì)算錯誤或描點(diǎn)時(shí)描錯；l過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含從兩個或多個具有明顯不同的變化性的過程流的測量值（這可能是由于對可調(diào)整的過程進(jìn)行過度控制造成的）。X1＋X2＋···＋Xnn子組均值X＝R1＋R2＋┄＋Rk子組極差R＝Xmax—XminK平均極差R＝X1＋X2＋┄＋XkK平均均值X＝n為子組樣本容量，K為子組數(shù)量6控制限UCLR＝D4RLCLR＝D3RUCLX＝X＋A2RLCLX＝X－A2Rn2345678910D43.272.522.282.112.00
8、1.921.861.821.78D3※※※※※0.080.140.140.22A21.881.
