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1、雙應(yīng)力步進加速退化試驗統(tǒng)計分析研究——模型與方法第3O卷第4期2009年4月兵工ACTAARMAMENTARIIVo1.30No.4Apr.2009雙應(yīng)力步進加速退化試驗統(tǒng)計分析研究——模型與方法汪亞J,頂,莫永強,張春華,陳循,何有(1.國防科學(xué)技術(shù)大學(xué)機電工程與自動化學(xué)院,湖南長沙410073;2.空軍駐華中地區(qū)可靠性專業(yè)軍事代表室,湖北武漢430077)摘要:針對新研制,高可靠,長壽命產(chǎn)品樣本量小的特點及單一加速應(yīng)力水平的極限問題,提出雙應(yīng)力交叉步進加速退化試驗方法,實現(xiàn)其壽命及可靠性評估.通過建立包含剩余標(biāo)準(zhǔn)化系數(shù)的退化軌跡模型,描述退化量與應(yīng)力水平相關(guān)產(chǎn)品的性
2、能退化規(guī)律.利用基于累積損傷模型及時間折算的模型參數(shù)估計方法進行加速退化數(shù)據(jù)的統(tǒng)計分析,得到產(chǎn)品在使用應(yīng)力水平下的壽命及可靠性信息.以具有退化失效特點的典型電真空器件電子倍增器為對象進行方法應(yīng)用,應(yīng)用結(jié)果驗證了該方法的有效性.關(guān)鍵詞:數(shù)理統(tǒng)計學(xué);加速退化試驗;步進應(yīng)力加速退化試驗;雙應(yīng)力;統(tǒng)計分析;可靠性中圖分類號:TBl14.3文獻標(biāo)志碼:A文章編號:1000—1093(2009)04—0451—06StudyonStatisticalAnalysisforStep-stressAcceleratedDegradationTestswithTwoAcceleratin
3、gStresses——MOdelsandMethodsWANGYa—shun,MOYong—qiang,ZHANGChunhua,CHENXun,HEYou2(1.CollegeofMechatronicsandAutomation,NationalUniversityofDefenseTechnology,Changsha410073,Hunan,China2.ReliabilityMartialRepresentativeOfficeofAirForceStayedCentralChina,Wuhan430077,Hubei,China)Abstract:Takin
4、gaimatthesmallsamplesizeandthelimilationofsingleacceleratingstresslevel,step—stressaccelerateddegradationtest(ADT)withtwoacceleratingstressesisagoodwaytoevaluatereliabilityorlife—timefornewlydevelopedproducts.Amethodtoanalyzedataobtainedinstep—stressADTwithtwoacceleratingstressewaspresen
5、ted.Adegradationpathmodelincludingresidualstan—dardizedcoefficientswaspresentedtodescribedegradationpathforproductswithdegradationcorrelat—ingwithstresslevels.Degradationdatawereanalyzedtoobtainlifeandreliabilityinformationwithamethodbasedoncumulativeexposuremodelandtimetransformation.An
6、exampleofanalysisfordataofelectronicmultipliersisprovidedtoillustratetheproposedmethodanditsvalidity.Keywords:mathematicalstatistics;accelerateddegradationtest;step—stressaccelerateddegradationtest;twoacceleratingstresses;statistica1analysis;reliability.一至有零失效數(shù)據(jù)情況出現(xiàn),給其壽命及可靠性評估u5l昌帶來困難.各類
7、產(chǎn)品,特別是電子工業(yè),航空航天工業(yè)等領(lǐng)加速退化試驗(ADT)通過搜集產(chǎn)品在高應(yīng)力域的產(chǎn)品,可靠性水平不斷提高.采用傳統(tǒng)的加速水平下的性能退化數(shù)據(jù),并利用這些數(shù)據(jù)來估計產(chǎn)壽命試驗可能只能得到極少量的失效時間數(shù)據(jù),甚品可靠性及預(yù)測產(chǎn)品在使用應(yīng)力下的壽命時收稿日期:2007—11—11作者簡介:汪亞順(1978一),男,講師.E—mail:arshoon@sohu.com452兵工第30卷問[卜.ADT的引入為解決加速壽命試驗在應(yīng)用中面臨的失效數(shù)據(jù)少甚至零失效的問題提供了新途徑.目前,ADT的統(tǒng)計分析及工程應(yīng)用研究集中于單應(yīng)力水平或恒定應(yīng)力場合
