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《微電子技術(shù)專業(yè)論文23798》由會員上傳分享，免費在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在教育資源-天天文庫。
1、畢業(yè)設(shè)計（論文）課題:DC-DC芯片測試畢業(yè)設(shè)計（論文）開題報告一、畢業(yè)設(shè)計的內(nèi)容和意義：（500字左右）本論文總要是通過對于DC-DC芯片的測試和學(xué)習(xí)，了解芯片測試要領(lǐng)。本文從內(nèi)容上主要分為六個章節(jié)，第一章DC-DC芯片簡介,概況性的介紹DC-DC芯片，增強對于全文的初步認(rèn)識。第二章DC-DC芯片測試了解，該章節(jié)主要從大體上對于芯片測試必要性和內(nèi)容予以說明。第三章DC-DC芯片測試方法，它主要是講ASL1000測試機測試DC-DC芯片的方法，給全文的主要觀點做出支持。第四章DC-DC芯片測試分析，測試中和結(jié)果分析給出了見解，有一個定性的分析。第五章芯片LM2576測試案例，用
2、一個DC-DC芯片測試的例子簡化來加強學(xué)習(xí)和理解。第6章總結(jié)，概要了論文。該文的主要意義是，通過對于DC-DC芯片的認(rèn)識，一方面對于電源芯片有更加深刻的理解，同時對于以后的應(yīng)用有莫大的幫助。還有就是芯片的測試的學(xué)習(xí)，對于整個測試有了直觀的了解。明白了DC-DC芯片測試的方法和一些理論技巧，通過在ASL1000測試機的測試操作認(rèn)識，對于測試流程有了更準(zhǔn)確的認(rèn)知。雖然沒有實踐的效果，但是還是收益頗豐。二、文獻綜述：（300字左右）本論文查閱了和使用了來自期刊、書籍、指導(dǎo)手冊以及學(xué)術(shù)論文等多個方面資料，確定了以認(rèn)識DC-DC芯片測試以及對于一些測試技巧的修正。電源芯片應(yīng)用廣泛，芯片性
3、能的穩(wěn)定性提出了相當(dāng)高的要求，而對于芯片測試就是一個關(guān)鍵的因素。本文對于測試總體上對于測試的現(xiàn)狀和發(fā)展做出了概述。然后來描述芯片測試的整個流程方法，通過對于測試過程的熟悉，對于測試作出分析。測試中對于測試參數(shù)的必要性的了解，也使用了開爾文測試的方法。最后做出了對于異常分析的意見。三、工作計劃及方案論證：（500字左右）在完成論文期間，首先查閱了大量的資料關(guān)于DC-DC芯片測試，主要目的是熟悉DC-DC芯片以及芯片測試方面的知識。具體情況是首先先是熟悉ASL1000測試手冊，了解到該測試機的特點和使用方法。然后根據(jù)對于芯片的了解，去查閱關(guān)于測試方法的資料，之后還是廣泛地去了解芯片
4、測試的信息，大體上對于芯片測試有一些膚淺的認(rèn)識。再者就是根據(jù)測試參數(shù)的確定，熟悉使用ASL1000測試芯片的方法，包括理論和實際操作。其中對于測試程序的編寫和理解將是一個關(guān)鍵的步驟。最后就是結(jié)合測試程序去認(rèn)識測試機的整個測試流程和方法，從而加深對于芯片測試認(rèn)識。在計劃中尋找到優(yōu)秀的資料是一個很艱辛的工作，各類五花八門的資料到處都是。同時由于該項目對于英語的要求，給整個學(xué)習(xí)帶來了很大的麻煩。四、參考文獻：（不少于10篇，期刊類文獻不少于7篇）［1］胡黎強，林爭輝，李林森一種高效率低功耗開關(guān)電源的實現(xiàn)微電子學(xué)，2003年［2］周政海，鄧先燦，樓向雄低壓高頻PWMDC-DC轉(zhuǎn)換器芯片
5、設(shè)計固體電子學(xué)研究與進展,2004年[3]Making5V14-bitQuiet"byKevinHoskins1997[4]楊光1985年半導(dǎo)體工業(yè)的發(fā)展情況和對1986年的預(yù)測[J];全球科技經(jīng)濟瞭望;1986年Z1期[5]趙建統(tǒng)，薛紅兵，梁樹坤.談當(dāng)今電源產(chǎn)業(yè)及電源技術(shù)的發(fā)展趨勢.2004[6]趙玉山，周躍慶，王萍.電流模式電子電路.天津大學(xué)出版社.2001[7]田龍中，李衛(wèi)東.電源模塊輸入軟啟動電路的設(shè)計.電源技術(shù).2002[8]G.Perry,“TheFundamentalsofDigitalSemiconductorTesting”,SoftTestInc.,Cali
6、fornia,U.S.A.1998年.[9]ASl1000手冊TMT公司
[10]韓銀和，李曉維，羅飛茵，林建京，陳宇川，朱小榮，“芯片的失效分析和測試流程優(yōu)化技術(shù)”，全國CAD會議論文集，2004.[11]STS8017編程培訓(xùn)，2008年五、指導(dǎo)教師意見：摘要我們這個時代電子產(chǎn)品已成為我們生活的必需品，無論是休閑娛樂還是辦公使用，它都發(fā)揮重要的作用。我們需要擁有價格更加便宜、性能更加強大，同時還要具有人們對于外觀、使用時間等諸多方面的要求。而在電子產(chǎn)品中，對于電源芯片穩(wěn)定性有著頗高的要求，電源芯片除了在設(shè)計上不斷優(yōu)化設(shè)計，已到達(dá)生產(chǎn)和生活的需要。其實在一定的時間里，對于芯片
7、的嚴(yán)格有效的測試，也可以保證芯片的質(zhì)量。前者相對有諸多的挑戰(zhàn)，而我本人將從測試這個相對容易實現(xiàn)的手段上來認(rèn)識到ＤＣ－ＤＣ芯片的測試。本文是從ＤＣ－ＤＣ轉(zhuǎn)換器的簡介，了解其功能和結(jié)構(gòu)，其次介紹了芯片測試的目的和發(fā)展情況?；趯y試環(huán)境的了解，我們從總體上認(rèn)識測試流程、測試方法，然后就是對于測試異常的診斷和處理。憑借以上的內(nèi)容基本可以認(rèn)識到芯片測試，最后為了給更加充分認(rèn)識了解芯片測試，本文添加了ＬＭ２５７６的相關(guān)測試。關(guān)鍵詞：DC-DC轉(zhuǎn)換器、芯片測試、PWM、ASl1000測試機、Kelvin
