常用電阻優(yōu)缺點比較.docx

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1、常用電阻的優(yōu)缺點比較作者:Vishay公司YuvalHernik近二十年來,電子工業(yè)以驚人的速度發(fā)展。新技術(shù)的進步在減小設(shè)備尺寸的同時,也加大了分立元件制造商開發(fā)理想性能器件的壓力。在這些器件中,晶片電阻當(dāng)前始終保持很高的需求,并且是許多電路的基礎(chǔ)構(gòu)件。它們的空間利用率優(yōu)于分立式封裝電阻,減少了組裝前期準(zhǔn)備的工作量。隨著應(yīng)用的普及,晶片電阻具有越來越重要的作用。主要參數(shù)包括ESD保護、熱電動勢(EMF)、電阻熱系數(shù)(TCR)、自熱性、長期穩(wěn)定性、功率系數(shù)和噪聲等。以下技術(shù)對比中將討論線繞電阻在精密電路中的應(yīng)用。不過請注意,線繞電阻沒有晶片型,因此,受重量和尺寸限制需要采用精密晶片電阻的應(yīng)用不

2、使用這種電阻。盡管升級每個組件或子系統(tǒng)可以提高整體性能,但整體性能仍是由組件鏈中的短板決定的。系統(tǒng)中的每個組件都具有關(guān)系到整體性能的內(nèi)在優(yōu)缺點,特別是短期和長期穩(wěn)定性、頻響和噪聲等問題。分立式電阻行業(yè)在線繞電阻、厚膜電阻、薄膜電阻和金屬箔電阻技術(shù)方面取得了進步,而從單位性能成本考慮,每種電阻都有許多需要加以權(quán)衡的因素。?各種電阻技術(shù)的優(yōu)缺點如表1所示,表中給出了熱應(yīng)力和機械應(yīng)力對電阻電氣特性的影響。表1:不同類型電阻的特性應(yīng)力(無論機械應(yīng)力還是熱應(yīng)力)會造成電阻電氣參數(shù)改變。當(dāng)形狀、長度、幾何結(jié)構(gòu)、配置或模塊化結(jié)構(gòu)受機械或其他方面因素影響發(fā)生變化時,電氣參數(shù)也會發(fā)生變化,這種變化可用基本方程

3、式來表示:R=ρL/A,式中R=電阻值,以歐姆為單位,ρ=材料電阻率,以歐姆米為單位,L=電阻元件長度,以米為單位,A=電阻元件截面積,以平方米為單位。電流通過電阻元件時產(chǎn)生熱量,熱反應(yīng)會使器件的每種材料發(fā)生膨脹或收縮機械變化。環(huán)境溫度條件也會產(chǎn)生同樣的結(jié)果。因此,理想的電阻元件應(yīng)能夠根據(jù)這些自然現(xiàn)象進行自我平衡,在電阻加工過程中保持物理一致性,使用過程中不必進行熱效應(yīng)或應(yīng)力效應(yīng)補償,從而提高系統(tǒng)穩(wěn)定性。精密線繞電阻線繞電阻一般分為“功率線繞電阻”和“精密線繞電阻”。功率線繞電阻使用過程中會發(fā)生很大變化,不適于精密度要求很高的情況下使用。因此,本討論不考慮這種電阻。線繞電阻的制作方法一般是將

4、絕緣電阻絲纏繞在特定直徑的線軸上。不同線徑、長度和合金材料可以達到所需電阻和初始特性。精密線繞電阻ESD穩(wěn)定性更高,噪聲低于薄膜或厚膜電阻。線繞電阻還具有TCR低、穩(wěn)定性高的特點。線繞電阻初始誤差可以低至±0.005%。TCR(溫度每變化一攝氏度,電阻的變化量)可以達到3ppm/°C典型值。不過,降低電阻值,線繞電阻一般在15ppm/°C到25ppm/°C。熱噪聲降低,TCR在限定溫度范圍內(nèi)可以達到±2ppm/°C。線繞電阻加工過程中,電阻絲內(nèi)表面(靠近線軸一側(cè))收縮,而外表面拉伸。這道工藝產(chǎn)生永久變形—相對于彈性變形或可逆變形,必須對電阻絲進行退火。永久性機械變化(不可預(yù)測)會造成電阻絲和

5、電阻電氣參數(shù)任意變化。因此,電阻元件電性能參數(shù)存在很大的不確定性。?由于線圈結(jié)構(gòu),線繞電阻成為電感器,圈數(shù)附近會產(chǎn)生線圈間電容。為提高使用中的響應(yīng)速度,可以采用特殊工藝降低電感。不過,這會增加成本,而且降低電感的效果有限。由于設(shè)計中存在的電感和電容,線繞電阻高頻特性差,特別是50kHz以上頻率。兩個額定電阻值相同的線繞電阻,彼此之間很難保證特定溫度范圍內(nèi)精確的一致性,電阻值不同,或尺寸不同時更為困難(例如,滿足不同的功率要求)。這種難度會隨著電阻值差異的增加進一步加劇。以1-kΩ電阻相對于100-kΩ電阻為例,這種不一致性是由于直徑、長度,并有可能由于電阻絲使用的合金不同造成的。而且,電阻芯

6、以及每英寸圈數(shù)也不同—機械特性對電氣特性的影響也不一樣。由于不同的電阻值具有不同的熱機特性,因此它們的工作穩(wěn)定性不一樣,設(shè)計的電阻比在設(shè)備生命周期中會發(fā)生很大變化。TCR特性和比率對于高精度電路極為重要。?傳統(tǒng)線繞電阻加工方法不能消除纏繞、封裝、插入和引線成型工藝中產(chǎn)生的各種應(yīng)力。固定過程中,軸向引線往往采用拉緊工藝,通過機械力加壓封裝。這兩種方法會改變電阻,無論加電或不加電。從長期角度看,由于電阻絲調(diào)整為新的形狀,線繞元件會發(fā)生物理變化。?薄膜電阻薄膜電阻由陶瓷基片上厚度為50?至250?的金屬沉積層組成(采用真空或濺射工藝)。薄膜電阻單位面積阻值高于線繞電阻或BulkMetal?金屬箔電

7、阻,而且更為便宜。在需要高阻值而精度要求為中等水平時,薄膜電阻更為經(jīng)濟并節(jié)省空間。它們具有最佳溫度敏感沉積層厚度,但最佳薄膜厚度產(chǎn)生的電阻值嚴(yán)重限制了可能的電阻值范圍。因此,采用各種沉積層厚度可以實現(xiàn)不同的電阻值范圍。薄膜電阻的穩(wěn)定性受溫度上升的影響。薄膜電阻穩(wěn)定性的老化過程因?qū)崿F(xiàn)不同電阻值所需的薄膜厚度而不同,因此在整個電阻范圍內(nèi)是可變的。這種化學(xué)/機械老化還包括電阻合金的高溫氧化。此外,改變最佳薄膜厚度還

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