常規(guī)梯度回波序列和擾相梯度

常規(guī)梯度回波序列和擾相梯度

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1、第七節(jié)常規(guī)梯度回波序列和擾相梯度回波序列常規(guī)GRE序列和擾相GRE序列是臨床上最常用的GRE序列,也是最簡單的梯度回波序列,本節(jié)我們將重點(diǎn)介紹其序列結(jié)構(gòu)和應(yīng)用。一、常規(guī)GRE序列的結(jié)構(gòu)圖42所示為常規(guī)GRE序列的結(jié)構(gòu)示意圖。實(shí)際上常規(guī)GRE序列的結(jié)構(gòu)和其他所有序列一樣均有五個部分構(gòu)成,即射頻脈沖、層面選擇梯度場、相位編碼梯度、頻率編碼和MR信號。與SE序列相比,常規(guī)GRE序列有兩個特點(diǎn):(1)射頻脈沖激發(fā)角度小于90°;(2)回波的產(chǎn)生依靠讀出梯度場(即頻率編碼梯度場)切換。常規(guī)GRE序列可以說是最簡單的GRE序列,具有前一節(jié)所介紹GRE序列的所有特性。離相位梯度聚相位梯度aa

2、TETR射頻脈沖層面選擇梯度相位編碼梯度頻率編碼梯度/讀出梯度MR信號圖42常規(guī)GRE序列結(jié)構(gòu)圖和其他所有序列一樣,常規(guī)GRE序列也由射頻脈沖、層面選擇梯度、相位編碼梯度、層面選擇梯度(或稱讀出梯度)及MR信號等五部分構(gòu)成。與SE序列相比,常規(guī)GRE序列有兩個特點(diǎn):(1)射頻脈沖激發(fā)角度小于90°;(2)回波的產(chǎn)生依靠讀出梯度場(即頻率編碼梯度場)切換。把小角度脈沖中點(diǎn)與回波中點(diǎn)的時間間隔定義為TE;把兩次相鄰的小角度脈沖中點(diǎn)的時間間隔定義為TR。二、擾相GRE序列當(dāng)GRE序列的TR明顯大于組織的T2值時,下一次a脈沖激發(fā)前,組織的橫向弛豫已經(jīng)完成,即橫向磁化矢量幾乎衰減到零,

3、這樣前一次a脈沖激發(fā)產(chǎn)生的橫向磁化矢量將不會影響后一次a脈沖激發(fā)所產(chǎn)生的信號。但當(dāng)TR小于組織的T2值時,下一次a脈沖激發(fā)前,前一次a脈沖激發(fā)產(chǎn)生的橫向磁化矢量尚未完全衰減,這種殘留的橫向磁化矢量將對下一次a脈沖產(chǎn)生的橫向磁化矢量產(chǎn)生影響,這種影響主要以帶狀偽影的方式出現(xiàn),且組織的T2值越大、TR越短、激發(fā)角度越大,帶狀偽影越明顯。為了消除這種偽影我們必需在下一次a脈沖施加前去除這種殘留的橫向磁化矢量,采用的方向就是在前一次a脈沖的MR信號采集后,下一次a脈沖來臨前對質(zhì)子的相位進(jìn)行干擾,使其失相位加快,從而消除這種殘留的橫向磁化矢量。干擾的方法有兩種:(1)施加擾相位梯度場,可

4、只施加于層面選擇方向或三個方向都施加;(2)施加擾相位射頻脈沖。以施加擾相位梯度場應(yīng)用較多,施加了擾相位梯度場后,將造成人為的磁場不均勻,加快了質(zhì)子失相位,從而消除這種殘留的橫向磁化矢量(圖43)。我們把施加了擾相位梯度場或擾相位射頻脈沖的梯度回波序列稱為擾相GRE序列。這個序列在不同的公司有著不同的名稱,如GE公司稱之為SPGR(spoiledgradientrecalledecho),西門子公司稱之為FLASH(fastlowangleshot),飛利浦公司稱之為FFE(fastfieldecho)。離相位梯度聚相位梯度aaTETR射頻脈沖層面選擇梯度相位編碼梯度頻率編碼梯

5、度/讀出梯度MR信號擾相擾相擾相圖43擾相GRE序列結(jié)構(gòu)示意圖與常規(guī)GRE序列(圖42)相比,擾相GRE序列唯一的不同就是在前一次a脈沖的回波采集后,下一次a脈沖來臨前,在層面選擇方向、相位編碼方向及頻率編碼方向都施加了一個很強(qiáng)的梯度場,人為造成磁場不均勻,加快了質(zhì)子失相位,以徹底消除前一次a脈沖的回波采集后殘留的橫向磁化矢量。三、常規(guī)GRE序列和擾相GRE序列的加權(quán)成像與自旋回波類序列一樣,利用常規(guī)GRE或擾相GRE序列可以進(jìn)行加權(quán)成像,但由于施加的射頻脈沖以及產(chǎn)生回波的方式不同,GRE序列與自旋回波類序列也存在一些差別:(1)一般自旋回波類序列均采用90°脈沖激發(fā),因此圖像

6、的縱向弛豫成分(即T1成分)由TR決定。而在GRE序列,激發(fā)角度小于90°,且激發(fā)角度可隨時調(diào)整,因此GRE序列圖像的T1成分受TR和激發(fā)角度雙重調(diào)節(jié)。(2)由于采用小角度激發(fā),組織縱向弛豫所需的時間縮短,因此相對SE類序列來說,GRE序列可選用較短的TR。(3)GRE序列圖像的橫向弛豫成分(即T2成分)也由TE來決定,但由于GRE序列采集的回波未剔除主磁場不均勻造成的質(zhì)子失相位,僅能反映組織T2*弛豫信息,因此利用GRE序列僅能進(jìn)行T2*WI,而得不到T2WI。(一)T1WI與SE序列一樣,利用GRE序列進(jìn)行T1WI也需要選擇短的TE以盡量剔除T2*弛豫對圖像對比的污染,而且

7、因為讀出梯度場切換所需的時間明顯短于180°脈沖所需的時間,因此GRE序列的最短TE明顯短于SE序列。T1WI權(quán)重則取決于TR和激發(fā)角度,保持TR不變,激發(fā)角度越大,圖像的T1權(quán)重越重;保持激發(fā)角度不變,TR越短,圖像的T1權(quán)重越重。GRE序列一般選用較大的激發(fā)角度,如50°到80°,這時常需要采用相對較長的TR(如TR=100~200ms),而當(dāng)TR縮短到數(shù)十毫秒甚至數(shù)毫秒時,激發(fā)角度則可調(diào)整到10°~45°。常規(guī)GRE和擾相GRET1WI在臨床上應(yīng)用非常廣泛,但需要指出的是并非T1權(quán)重越

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