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《表面貼裝結(jié)構(gòu)焊點(diǎn)的熱疲勞性能及機(jī)械疲勞性能研究》由會(huì)員上傳分享,免費(fèi)在線閱讀,更多相關(guān)內(nèi)容在學(xué)術(shù)論文-天天文庫(kù)。
1、摘要在電子產(chǎn)品的表面貼裝結(jié)構(gòu)中,一個(gè)焊點(diǎn)的破壞往往會(huì)造成整個(gè)器件的失效。因此,如何提高和控制焊點(diǎn)的使用壽命一直是電子產(chǎn)品表面貼裝技術(shù)中的關(guān)鍵問(wèn)題之一。焊點(diǎn)的熱疲勞破壞和機(jī)械疲勞破壞是電子電路中的焊點(diǎn)發(fā)生失效的主要形式,其中焊點(diǎn)熱疲勞破壞所占的比例最大。另外,電子產(chǎn)品的無(wú)鉛化也給焊點(diǎn)的疲勞壽命研究帶來(lái)了新的挑戰(zhàn)。由此,本論文針對(duì)表面貼裝結(jié)構(gòu)焊點(diǎn)的熱疲勞性能和機(jī)械疲勞性能展開(kāi)研究,研究焊點(diǎn)的熱疲勞裂紋萌生及擴(kuò)展規(guī)律,預(yù)測(cè)和評(píng)價(jià)焊點(diǎn)熱疲勞壽命的方法,并對(duì)焊點(diǎn)結(jié)構(gòu)的機(jī)械疲勞性能展開(kāi)初步研究。本文首先對(duì)表面貼裝結(jié)構(gòu)焊點(diǎn)的回流焊過(guò)程展開(kāi)研究,并在此基礎(chǔ)上研究了焊點(diǎn)結(jié)構(gòu)的熱疲勞性能,
2、其中主要研究了焊點(diǎn)結(jié)構(gòu)在熱疲勞過(guò)程中電阻值及熱疲勞裂紋的變化。研究結(jié)果表明,焊點(diǎn)在熱疲勞過(guò)程中存在著三個(gè)典型的熱疲勞裂紋萌生位置,其中,熱疲勞裂紋主要在位置1處萌生,這與該處附近區(qū)域所產(chǎn)生的等效非彈性應(yīng)變的數(shù)值相對(duì)應(yīng)。并且存在著兩種熱疲勞裂紋擴(kuò)展方式及失效模式。焊點(diǎn)結(jié)構(gòu)的電阻值在熱疲勞過(guò)程中隨著裂紋的萌生及擴(kuò)展持續(xù)增大。另外,對(duì)影響焊點(diǎn)熱疲勞性能的因素研究表明:大焊盤(pán)焊點(diǎn)的熱疲勞壽命要長(zhǎng)于小焊盤(pán)焊點(diǎn);回流焊溫度較高時(shí),焊點(diǎn)的熱疲勞壽命較短;無(wú)鉛釬料焊點(diǎn)具有與錫鉛釬料焊點(diǎn)不同的熱疲勞性能特點(diǎn)。論文工作中還采用有限元方法分析了焊點(diǎn)結(jié)構(gòu)在熱疲勞過(guò)程中的非彈性應(yīng)變分布,進(jìn)而采用
3、Coffin—Manson方法預(yù)測(cè)了焊點(diǎn)結(jié)構(gòu)的熱疲勞壽命。研究結(jié)果表明:該方法獲得的熱疲勞壽命值與試驗(yàn)結(jié)果基本一致。另外,采用有限元方法預(yù)測(cè)焊點(diǎn)結(jié)構(gòu)熱疲勞壽命的方法進(jìn)行研究,還獲得了焊點(diǎn)形狀對(duì)其熱疲勞壽命的影響結(jié)果。此外,本論文還采用SEM實(shí)時(shí)觀測(cè)及電阻值測(cè)量的方法對(duì)焊點(diǎn)結(jié)構(gòu)的機(jī)械疲勞性能展開(kāi)了初步研究。研究結(jié)果表明,焊點(diǎn)在機(jī)械疲勞載荷的作用下,裂紋首先在釬料與貼片電阻的接觸界面處,貼片電阻的下角部產(chǎn)生,然后逐漸向釬料內(nèi)部擴(kuò)展,裂紋長(zhǎng)度逐漸增大。在此過(guò)程中,焊點(diǎn)結(jié)摘要構(gòu)的電阻值持續(xù)增大。隨著疲勞載荷的減小,焊點(diǎn)結(jié)構(gòu)的疲勞壽命逐漸增大;另外,焊盤(pán)的伸出長(zhǎng)度較大時(shí),有利于提
4、高焊點(diǎn)的疲勞壽命;錫鉛共晶釬料焊點(diǎn)的抗疲勞性能要優(yōu)于無(wú)鉛釬料SAC305焊點(diǎn)。關(guān)鍵詞:表面貼裝技術(shù)焊點(diǎn)結(jié)構(gòu)熱疲勞裂紋有限元方法ⅡAbstractASMTdeviceusedmelectricalcircuitOftencannotworkaSsoonasoneofItSsolderjointsfails.Therefore,themethodtoincrease(orcontr01)theservicelifetimeofthesolderjointsusedinelectricalcircuitisalwaysakeyresearchpointinpractice.A
5、ndtheforbiddanceofPbinelectricalcircuitalsobringsnewchallengeforthestudyofthesolderjoint’Slifetime.Ithasbeenreportedthatthermalfatigueandmechanicalfatigueareboththemaincausestojointfailureoccurringinelectricalcircuit,inwhichthermalfatigueisoftenthemostimportantpart.Thereforethethermalfat
6、iguebehaviorsofsolderjointarestudiedindetailinthispaper,includingthecrackinitiationandpropagationinsolderjointduringthermalfatigue,themethodtopredictandevaluatethethermalfatiguelifetimeofsolderjoint.Atthesametimesomemechanicalfatiguebehaviorsofsolderjointarealsostudied.Firstlythereflowtr
7、eatmentofsolderjointisinvestigated.Thenthethermalfatiguepropertiesofsolderjointsarestudiedindetail,includingtheresistancevaluevariationmeasurementandcrackobservationduringthermalfatiguetest.Itisfoundthatthereexistthreetypicallocationsforcrackinitiationduringthermalfatigue