STM_AFM_SEM和TEM對溶液中納米微粒形貌和粒度分布的檢測

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1、第36卷第6期人工晶體學(xué)報Vo.l36No.62007年12月JOURNALOFSYNTHETICCRYSTALSDecember,2007STM、AFM、SEM和TEM對溶液中納米微粒形貌和粒度分布的檢測萬牡華,歐陽健明(暨南大學(xué)生物礦化與結(jié)石病防治研究所,廣州510632)摘要:納米材料因其獨特的光、電、磁、力、催化和吸附等性能而被廣泛應(yīng)用。納米微粒的檢測是納米材料和納米科技發(fā)展的重要保證。本文綜述了采用掃描隧道顯微鏡(STM)、原子力顯微鏡(AFM)、掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)等現(xiàn)代顯微鏡技術(shù)檢測溶液中納米微粒形貌和粒度分布研

2、究進展,并比較了這些方法的差異。關(guān)鍵詞:納米微粒;STM;AFM;SEM;TEM中圖分類號:O766文獻標識碼:A文章編號:10002985X(2007)0621422209ExaminationoftheMorphologyandSizeDistributionofNanoparticlesinSolutionsbySTM,AFM,SEMandTEMWANMu2hua,OUYANGJian2ming(InstituteofBiomineralizationandLithiasisResearch,JinanUniversity,Guangzhou5106

3、32,China)(Received19March2007,accepted1June2007)Abstract:Nanomaterialshavebeenusedinmanyfieldsbecauseoftheiruniquepropertiesinoptics,electrics,magnetics,mechanics,catalysisandadsorptionetc.Nanoparticlesexaminationisanimportantguaranteeforthedevelopmentofnanoscienceandnanotechnolog

4、y.Thispaperreviewstheapplicationsofsomemoderntechniquesuchasscanningtunnelingmicroscopy(STM),atomicforcemicroscopy(AFM),scanningelectronmicroscopy(SEM)andtransmissionelectronmicroscopy(TEM)etcinthedeterminationofthemorphologyandsizedistributionofnanopartlclesinthesolution.Thediffe

5、renceamongthesemethodswasalsocomparativelydiscussed.Keywords:nanoparticles;STM;AFM;SEM;TEM1引言納米微粒是指顆粒尺寸在1~100nm之間的微小粒子。當(dāng)粒子尺寸進入納米量級時,表現(xiàn)出許多獨特的光、電、磁、力、催化和吸附等性能。目前,納米材料已廣泛應(yīng)用于冶金、化工、食品儲存、涂料、能源、以及日用品[1,2][3]等眾多領(lǐng)域。因此,對納米微粒尺寸、形貌和聚集狀態(tài)的檢測,是納米科技發(fā)展的重要保證。本文綜述了收稿日期:2007203219;修訂日期:2007206201基金項目

6、:國家自然科學(xué)基金(No.30672103);廣東省科技攻關(guān)項目(2005B30701003)和廣州市重點科技項目(20012Z2123201)作者簡介:萬牡華(19812),女,湖南省人,碩士研究生。通訊作者:歐陽健明,教授。E2mai:ltoyjm@jnu.edu.cn第6期萬牡華等:STM、AFM、SEM和TEM對溶液中納米微粒形貌和粒度分布的檢測1423采用掃描隧道顯微鏡(STM)、原子力顯微鏡(AFM)、掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)等現(xiàn)代顯微鏡技術(shù)對溶液中納米微粒形貌和粒度分布進行檢測的研究進展,并比較了這些方法的差異。2掃

7、描隧道顯微鏡(STM)STM是利用導(dǎo)體針尖與樣品之間的隧道電流,在原子尺度上記錄樣品表面形貌的新型儀器。STM可實時得到物體的三維圖像,從而可用于研究各種表面的超微結(jié)構(gòu)、發(fā)生的物理化學(xué)過程。配合掃描隧道譜,STM可以得到有關(guān)表面電子結(jié)構(gòu)的信息,如表面不同層次的電子云密度、表面電子阱、電荷密度分布、表面勢壘的變化和能隙結(jié)構(gòu)等。STM還是納米結(jié)構(gòu)加工的有力工具,可用于制備納米尺度的超微結(jié)構(gòu)和用于操[4]縱原子和分子等。STM的分辨率已達到1~2nm,可以在真空、大氣、常溫等不同環(huán)境下工作,樣品甚至可[4]以浸在溶液中,探測過程對樣品無損傷。[5]Murakos

8、hi等在0.1mol/LCuSO4溶液中,用光子照射誘導(dǎo)了金屬Cu

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