結(jié)構(gòu)件通用檢驗規(guī)范標準

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1、..大唐聯(lián)儀科技有限公司質(zhì)量體系文件結(jié)構(gòu)件通用檢驗規(guī)范(V1.0)責任人:吳志雄審核:張鋼批準:范炬2013-11–8發(fā)布2013–11-9實施eord完美格式..大唐聯(lián)儀科技有限公司發(fā)布目錄1范圍32規(guī)范性引用文件33檢驗依據(jù)34術(shù)語與定義34.1缺陷定義34.2表面等級定義45檢驗55.1檢驗環(huán)境55.2檢驗方式55.3檢驗程序55.4檢驗內(nèi)容及方法55.4.1文件齊套性檢驗55.4.2形狀尺寸檢驗65.4.3焊接工藝檢驗75.4.4裝配性能檢驗75.4.5外觀檢驗8eord完美格式..1范圍本規(guī)程規(guī)定了結(jié)構(gòu)件產(chǎn)品的通用檢驗要求和檢驗方法。本規(guī)程

2、適用于指導各種結(jié)構(gòu)件產(chǎn)品的檢驗,包括結(jié)構(gòu)零件、結(jié)構(gòu)部件及其他由結(jié)構(gòu)件和非混合組裝而成的產(chǎn)品。本規(guī)程適用于各個階段對于結(jié)構(gòu)件產(chǎn)品實施的檢驗,包括來料檢驗、工序檢驗、整機檢驗。本文檔為通用文件,當某一或者某些結(jié)構(gòu)件產(chǎn)品有獨立成文的檢驗規(guī)范或質(zhì)量要求時,應(yīng)以其獨立成文的檢驗規(guī)范和質(zhì)量要求為標準。2規(guī)范性引用文件下列文件對于本文件的引用是必不可少的,凡是注明日期的標準文件,僅注日期的版本適用于本文件,凡是不注明日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T1.1-2009標準化工作指導第1部分:標準的結(jié)構(gòu)和編寫GB/T1804-2000

3、一般公差未注公差的線性和角度尺寸的公差GB/T1184-96形狀和位置公差未注公差值GB/T9286-1998色漆和清漆漆膜的劃格試驗GB/2828.1-2003計數(shù)抽樣檢驗程序第1部分:按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗抽樣計劃3檢驗依據(jù)本文檔為通用文件,當某一或者某些結(jié)構(gòu)件產(chǎn)品有獨立成文的檢驗規(guī)范或質(zhì)量要求時,應(yīng)按照獨立成文的檢驗規(guī)范和質(zhì)量要求進行合格與否的判定。DTM0.006.211JG結(jié)構(gòu)件通用檢驗規(guī)范DTM0.006.215JG面板檢驗規(guī)范結(jié)構(gòu)件外檢檢驗標準9.184術(shù)語與定義4.1缺陷定義eord完美格式..致命缺陷(CR):有可能危

4、及顧客生命財產(chǎn)安全的缺陷重缺陷(MA):對產(chǎn)品裝配或產(chǎn)品使用性能會造成較大影響的缺陷,如:重要尺寸的超差,重要技術(shù)要求的不滿足,外觀件的表面缺陷等。輕缺陷(MI):對產(chǎn)品裝配或產(chǎn)品使用性能幾乎不構(gòu)成影響或只有輕微影響的缺陷。如:非主要尺寸的超差,一般技術(shù)要求的不滿足,內(nèi)部件的表面缺陷等。4.2表面等級定義A級面:在使用過程中總能被客戶看見的部分(如:面殼的正面和頂面,后殼的頂面,手柄,顯示屏,按鍵及鍵盤正面等)。此表面不允許存在任何表面處理缺陷和物理缺陷。B級面:在使用過程中常常被客戶看見的部分(如:面殼的左右側(cè)面,后殼的左右側(cè)面及背面、機箱蓋板等)

5、。此表面必須滿足產(chǎn)品外形,裝配適用性及功能要求,在此前提下允許有輕微的表面瑕疵或刮擦存在,但不能暴露產(chǎn)品基材。C級面:在使用過程中很少或從不被客戶注意到的表面部分(如:面殼的底面、內(nèi)表面,底殼或后殼的底面,內(nèi)部零件表面)。此表面外形,裝配適用性及功能要求是其主要的考慮因素,可允許接收有限數(shù)量的小瑕疵。eord完美格式..4.3目測參數(shù)代碼定義4.3.1目測位置定義觀察位置:在以下角度范圍內(nèi),距產(chǎn)品距離0.5米處,正常目視。產(chǎn)品可以旋轉(zhuǎn),也可以不旋轉(zhuǎn)。4.3.2參數(shù)代碼定義N數(shù)目(個)D最大內(nèi)徑直徑L長度(mm)H深度W寬度(mm)DS缺陷距離(mm)

6、?同一表面同一區(qū)域缺陷不能聚集過多。即在直徑100mm的圓內(nèi),實際缺陷數(shù)量不能超過下列各缺陷允收表規(guī)定的缺陷數(shù)量N。?同一表面同一區(qū)域缺陷不能聚集過大。即實際測量結(jié)果符合缺陷允收表的要求。對于可累積計算的缺陷如長度L和面積S等,記錄累積值(L=L1+L2+…Ln,S=S1+S2+…Sn)與缺陷允收表比較。對無法累積計算的缺陷如高度H,寬度W,直徑D等,記錄最大的測量值與缺陷允收表比較。?缺陷允收表解釋:缺陷允收表規(guī)定了在直徑100mm的圓內(nèi)各類缺陷的允收標準。表中關(guān)于缺陷的記錄解釋如下圖2所示:eord完美格式..5檢驗5.1檢驗環(huán)境一般實驗室環(huán)境(

7、溫度15oC~30oC,濕度20%~85%),產(chǎn)品在正常光源下檢驗,光線欠佳時可借用照明光線,根據(jù)各產(chǎn)品的表面光潔度要求可適當考慮配帶手套進行檢驗。5.2檢驗方式抽樣檢驗,抽樣方案按GB/T2828.1-2003執(zhí)行,可接收質(zhì)量限:AQL=0.65。正常檢驗一次抽樣時采用一般檢驗水平Ⅱ,加嚴檢驗一次抽樣時采用一般檢驗水平Ⅲ,具體抽樣方案如下:抽樣方案批量數(shù)(件)正常檢驗加嚴檢驗批量數(shù)(件)正常檢驗加嚴檢驗2-83

8、0,15

9、0,1151-28032

10、1,280

11、1,29-155

12、0,18

13、0,1281-50080

14、1,280

15、1,216-258

16、0,

17、113

18、0,1501-120080

19、1,2125

20、2,326-5013

21、0,120

22、0,11201-3200

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