魏福安《材料分析方法》材料分析方法題庫

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1、材料分析方法題庫一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10分）1.M層電子回遷到K層后，多余的能量放出的特征X射線稱（B）A.Ka；B.K卩；C.Ky；D.La。2.X射線衍射方法中最常用的方法是（b）.A.勞厄法；B.粉末法；C.周轉(zhuǎn)晶體法。3.當(dāng)X射線發(fā)生裝置是Cu靶，濾波片應(yīng)選（C）A.Cu；B.Fe；C.Ni；D.Mo。4.一束X射線照射到晶體上能否產(chǎn)生衍射取決于（C）。A.是否滿足布拉格條件；B.是否衍射強(qiáng)度序0；C?A+B；D.晶體形狀。5.測(cè)角儀中，探測(cè)器的轉(zhuǎn)速與試樣的轉(zhuǎn)速關(guān)系是（B）oA.保持同步；B.2：1；C.

2、1：2；D.1：0o6.測(cè)定鋼中的奧氏體含量，若采用定量X射線物相分析，常用方法是（C）。A.外標(biāo)法；B.內(nèi)標(biāo)法；C.直接比較法；D.K值法。7.X射線物相定性分析方法中有三種索引，如果已知物質(zhì)名時(shí)可以采用（C）?A.哈氏無機(jī)數(shù)值索引；B.芬克無機(jī)數(shù)值索引；C.戴維無機(jī)字母索引。8.Sin2屮測(cè)量應(yīng)力，通常取屮為（BD）進(jìn)行測(cè)量。A.確定的屮角；B.0-45°之間任意四點(diǎn);C.0。、45。兩點(diǎn);D.015°>30。、45。四點(diǎn)。9.透射電子顯微鏡中可以消除的像差是（B）.A.球差；B.像散；C.色差；D.A+Bo10.

3、能提高透射電鏡成像襯度的可動(dòng)光闌是（B）.A.第二聚光鏡光闌；B.物鏡光闌；C.選區(qū)光闌.11?透射電鏡的兩種主要功能：（B）.A.表面形貌和晶體結(jié)構(gòu)；B.內(nèi)部組織和晶體結(jié)構(gòu)；C.表面形貌和成分價(jià)鍵；D.內(nèi)部組織和成分價(jià)鍵。12.電子衍射成像時(shí)是將（A）。A.中間鏡的物平面與與物鏡的背焦面重合；B.中間鏡的物平面與與物鏡的像平面重合；C.關(guān)閉中間鏡；D.關(guān)閉物鏡。13.選區(qū)光欄在TEM鏡筒中的位置是（B）oA.物鏡的物平面；B.物鏡的像平面C.物鏡的背焦面；D.物鏡的前焦面。14.中心暗場像的成像操作方法是（C）.A.以

4、物鏡光欄套住透射斑；B.以物鏡光欄套住衍射斑；C.將衍射斑移至中心并以物鏡光欄套住透射斑.12.單晶體電子衍射花樣是（A）。A.規(guī)則的平行四邊形斑點(diǎn)；B.同心圓環(huán)；C.暈環(huán)；D.不規(guī)則斑點(diǎn)。13.薄片狀晶體的倒易點(diǎn)形狀是（C）oA.尺寸很小的倒易點(diǎn)；B.尺寸很大的球；C.有一定長度的倒易桿；D.倒易圓盤。14.當(dāng)偏離矢量S<0時(shí)，倒易點(diǎn)是在厄瓦爾德球的（A）oA.球面外；B.球面上；C.球面內(nèi)；D.B+C。18?表面形貌分析的手段包括（D）。A.X射線衍射（XRD）和掃描電鏡（SEM）B.SEM和透射電鏡（TEM）C.波

5、譜儀（WDS）和X射線光電子譜儀（XPS）D.掃描隧道顯微鏡（STM）和SEM19.電子?xùn)c與固體樣品相互作用產(chǎn)生的物理信號(hào)中可用于分析lnm厚表層成分的信號(hào)是（B）.A.背散射電子；B.俄歇電子；C.特征X射線。20?將某一衍射斑點(diǎn)移到熒光屏中心并用物鏡光欄套住該衍射斑點(diǎn)成像，這是（C）oA.明場像；B.暗場像；C.中心暗場像；D.弱束暗場像。21.當(dāng)?shù)诙嗔Ｗ优c基體呈共格關(guān)系時(shí)，此時(shí)的成像襯度是（C）oA.質(zhì)厚襯度；B.衍襯襯度；C.應(yīng)變場襯度；D.相位襯度。22.僅僅反映固體樣品表面形貌信息的物理信號(hào)是（B）oA.背

6、散射電子；B.二次電子；C.吸收電子；D.透射電子。23.可以探測(cè)表面lnm層厚的樣品成分信息的物理信號(hào)是（D）。A.背散射電子；B.吸收電子；C.特征X射線；D.俄歇電子。24.掃描電子顯微鏡配備的成分分析附件中最常見的儀器是（B）oA.波譜儀；B.能譜儀；C.俄歇電子譜儀；D.特征電子能量損失譜。25?波譜儀與能譜儀相比，能譜儀最大的優(yōu)點(diǎn)是（A）oA.快速高效；B.精度高；C.沒有機(jī)械傳動(dòng)部件；D.價(jià)格便宜。二、判斷題（正確的打7,錯(cuò)誤的打x,每題2分，共10分）1.透射電鏡圖像的襯度與樣品成分無關(guān)。（x）1.掃描電

7、鏡的二次電子像的分辨率比背散射電子像更高。（7）2.X射線衍射與光的反射一樣，只要滿足入射角等于反射角就行。（x）3.大直徑德拜和機(jī)可以提高衍射線接受分辨率，縮短暴光時(shí)間。（x）5?選擇小的接受光欄狹縫寬度，可以提高接受分辨率，但會(huì)降低接受強(qiáng)度。（7）6.德拜法比衍射儀法測(cè)量衍射強(qiáng)度更精確。（x）7?理論上X射線物相定性分析可以告訴我們被測(cè)材料中有哪些物相，而定量分析可以告訴我們這些物相的含量有多少。（7）8.只要材料中有應(yīng)力就可以用X射線來檢測(cè)。（x）9.電子衍射和X射線衍射一樣必須嚴(yán)格符合布拉格方程。（7）10.厚樣

8、品中存在消光距離gg,薄樣品中則不存在消光距離逢。（X）11?明場像是質(zhì)厚襯度，暗場像是衍襯襯度。（X）12.晶體中只要有缺陷，用透射電鏡就可以觀察到這個(gè)缺陷。（x）13.掃描電子顯微鏡的分辨率主要取決于物理信號(hào)而不是衍射效應(yīng)和球差。（7）14.掃描電了顯微鏡的襯度和透射電鏡一樣取決于質(zhì)厚襯度和衍射襯度。（x）15?