巧用赫爾槽試驗(yàn)調(diào)整電鍍液.doc

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1、巧用赫爾槽試驗(yàn)調(diào)整電鍍液1光亮酸性鍍銅2.2.1使用相同的小整流電源(應(yīng)是低紋波的)和電鍍?nèi)芤旱男阅芸倳?huì)隨著使用而不斷變化,其相同截面與長度的直流輸出線(保證電壓降基本一影響因素甚多。要想使鍍液性能指標(biāo)保持在最佳或致),若電壓高于正常值0.3V以上,則可能硫酸偏良好狀態(tài),就應(yīng)及時(shí)進(jìn)行調(diào)整。調(diào)整依據(jù)可來自三少,補(bǔ)加3mL/L一5mL/L濃硫酸再試。個(gè)方面:其一,憑經(jīng)驗(yàn),依據(jù)鍍層狀況得出結(jié)論;其2.2.2若銅含量正常,生產(chǎn)中陽極面積足夠(sA:SK二,憑化驗(yàn)結(jié)果;其三,憑試驗(yàn)結(jié)果?!?:1),卻出現(xiàn)電壓升高,電流減小現(xiàn)象,

2、先檢查陽經(jīng)驗(yàn)往往具有局限性,經(jīng)驗(yàn)的積累要有相當(dāng)?shù)臉O板導(dǎo)電是否良好(清洗接觸處),若仍有此現(xiàn)象,則實(shí)踐經(jīng)歷和總結(jié)能力;而對一項(xiàng)新工藝,剛開始使陽極已鈍化,可能硫酸過少,補(bǔ)加8mL/L一10mL/L用,則談不上經(jīng)驗(yàn)。濃硫酸。分析化驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性受多方面因素影響,如2.2.3若加足光亮劑,高中DK區(qū)光亮性仍不足,低分析人員的素質(zhì)、水平與熟練程度、分析手段、分析DK區(qū)光亮范圍窄,而試驗(yàn)時(shí)電壓又低于正常值方法等。而現(xiàn)代電鍍廣泛采用的多種復(fù)配的有機(jī)添0.5V以上,則可能硫酸過多(正常生產(chǎn)時(shí)因帶出損加劑、光亮劑等幾乎無法分析。分析化

3、驗(yàn)有時(shí)是必耗,硫酸應(yīng)呈減少趨勢。硫酸過多,或是鍍前采用硫不可少的,如合金電鍍時(shí)鍍液及鍍層中合金組分的酸活化時(shí)清洗不良帶人或不慎一次加入過多),應(yīng)試比例,難以用其它方法判定。但若憑一個(gè)不準(zhǔn)確化驗(yàn)稀釋鍍液,補(bǔ)加硫酸銅及光亮劑。驗(yàn)結(jié)果來調(diào)整鍍液,有時(shí)也會(huì)搞得一塌糊涂。2.3氯離子判定及處理鍍液性能變化后必然要從鍍層上反映出來,要2.3.1若鍍層亮度很差,補(bǔ)加混合光亮劑或分別補(bǔ)想從一張?jiān)囼?yàn)試片上反映出寬電流密度范圍內(nèi)的鍍加光亮劑組分試驗(yàn),均改善不大,高DK區(qū)鍍層有發(fā)層狀況,最簡單的辦法還是赫爾槽試驗(yàn)。利用花現(xiàn)象,磷銅陽極上不易

4、生成黑膜,則可能氯離子含250mL赫爾槽試驗(yàn),是筆者幾十年搞新工藝、添加劑量低于20mg/L(正常為40mg/L一80mg/L),可按開發(fā)及日常維護(hù)鍍液的最主要手段。0.08mL/L一0.1mL/L量加入鹽酸(沖稀20倍便于計(jì)本文就最常用鍍種如何利用赫爾槽試驗(yàn)來調(diào)整算)后再試。若補(bǔ)加后光亮整平性明顯提高,則可確鍍液加以小結(jié),供同行參考。認(rèn)Cl一過少,再仔細(xì)試驗(yàn)最佳加入量。該鍍種鍍液成分簡單,但卻是很難維護(hù)好的鍍2.3.2若高中DK區(qū)光亮整平性良好,低DK區(qū)很種。筆者考慮生產(chǎn)成本,一直采用國產(chǎn)心型光亮差,硫酸含量又正常,

5、調(diào)整光亮劑及加人PN劑,并不斷對其配比、光亮劑組分加以完善改進(jìn)。采0.02mIA,一0.04m[/L或AESS0.04m[/L一用“中酸、中銅”工藝裝飾性電鍍,調(diào)整得當(dāng)時(shí),赫爾0.08mL/L~果均不明顯,則可能Cl一過多,此時(shí)應(yīng)作槽試片1A攪拌鍍5min,試片能達(dá)到全光亮且具有除氯,再試。較好整平性,生產(chǎn)中允許DK可達(dá)5A/din2。電源應(yīng)2.3.3懷疑cl一過多時(shí),實(shí)踐證明用氰化亞銅除氯是低紋波的。效果比較好。2.1銅含量判定方法為:按0.1g/L一0.2g/L量稱取氰化亞銅,光亮酸性鍍銅,應(yīng)有足夠的陰極濃差極化,

6、才能認(rèn)真研成細(xì)粉狀,用少量水調(diào)成糊狀,在不斷強(qiáng)烈攪有好的分散能力和寬的光亮范圍,硫酸銅的含量以拌下慢慢加入鍍液,攪拌、靜置、過濾(理論上去除150g/L一170g/L為宜。1gCl一需2.5g氰化亞銅)。若除Cl一后低DK區(qū)光亮2.1.12A靜鍍3min,高端應(yīng)有1cm左右燒焦。用性明顯提高,則可確診為Cr過多。若氰化亞銅加細(xì)玻棒在試片表面大約1s來回?cái)嚢枰淮?,則無燒入過量,則Cl一會(huì)過少,整個(gè)試片亮度均差。焦,銅含量基本正常。冬季氣溫低時(shí),攪拌情況下允生產(chǎn)中難以定量時(shí),寧可加入稍過量的氰化亞許約3mm左右燒焦。銅,將

7、cl一幾乎全部除去,再按0.1ⅡL/L量加入濃鹽2.1.2若2A靜鍍無燒焦,則銅含量過高,應(yīng)稀釋鍍酸,重新提供所需cl一。液,補(bǔ)加硫酸和開缸劑。液溫低于10~C時(shí),鍍液中用氰化亞銅除氯比用硫酸銀省得多,比用鋅粉銅含量過高,陽極溶解不良,陽極極化過大,銅陽極效果好得多。用氰化亞銅除cl一后應(yīng)認(rèn)真過濾鍍還易鈍化。液。2.1.3若靜鍍燒焦大于1.5cm,則銅含量不足,應(yīng)試2.4光亮劑調(diào)整驗(yàn)補(bǔ)加硫酸銅至燒焦約1cm。2.4.1試驗(yàn)加入光亮劑后,光亮整平性提高,半光2.2硫酸含量判定亮與全光亮區(qū)無明顯分界,則光亮劑過少,根據(jù)實(shí)驗(yàn)

8、新配鍍液時(shí),硫酸以5oL一6oL為宜。過結(jié)果補(bǔ)加光亮劑。多,光亮整平性差;過少,電導(dǎo)率低,低DK區(qū)光亮范2.4.2若高中DK區(qū)光亮整平性異常好,而光亮與圍變窄,陽極易鈍化,在正常鍍液作赫爾槽試驗(yàn)時(shí),半光亮區(qū)可見明顯分界,則光亮劑過多。此時(shí)若加應(yīng)對所用電源及直流導(dǎo)線,記錄不同液溫時(shí)電流與入約0.04mL/LAESS或PN類低區(qū)走位劑

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