襯底負偏壓及濺射功率對SiO2/Cu薄膜形貌的影響-論文.pdf

襯底負偏壓及濺射功率對SiO2/Cu薄膜形貌的影響-論文.pdf

ID:53739695

大?。?04.91 KB

頁數:4頁

時間:2020-04-21

襯底負偏壓及濺射功率對SiO2/Cu薄膜形貌的影響-論文.pdf_第1頁
襯底負偏壓及濺射功率對SiO2/Cu薄膜形貌的影響-論文.pdf_第2頁
襯底負偏壓及濺射功率對SiO2/Cu薄膜形貌的影響-論文.pdf_第3頁
襯底負偏壓及濺射功率對SiO2/Cu薄膜形貌的影響-論文.pdf_第4頁
資源描述:

《襯底負偏壓及濺射功率對SiO2/Cu薄膜形貌的影響-論文.pdf》由會員上傳分享,免費在線閱讀,更多相關內容在行業(yè)資料-天天文庫。

1、材料與結構MaterialsandStructures襯底負偏壓及濺射功率對SiO2/Cu薄膜形貌的影響田小麗,張敏剛,陳峰華(太原科技大學,太原030024)摘要:采用射頻磁控濺射鍍膜技術,分別以不同的襯底負偏壓和射頻濺射功率下在P型Si(100)基片上制備了SiO:/Cu薄膜。用原子力顯微鏡(AFM)對薄膜的表面形貌進行掃描分析,實驗結果表明,襯底負偏壓和射頻濺射功率對SiO/Cu薄膜的表面形貌都有顯著的影響。襯底負偏壓在0~15V內,薄膜表面顆粒尺寸和均方根粗糙度都隨著襯底負偏壓的增大呈減小的趨勢,而濺射功率在1

2、00~200W內,薄膜表面顆粒尺寸和均方根粗糙度都隨濺射功率的升高呈增大的趨勢。成膜初期是層狀生長模式,后期為島狀生長模式,整個成膜過程是典型的層島生長模式。關鍵詞:射頻磁控濺射;襯底負偏壓;濺射功率;薄膜;形貌中圖分類號:0484.5文獻標識碼:A文章編號:1671—4776(20l3)02—0086—04EffectsoftheSubstrateNegativeBiasandSputteringPowerontheMorphologiesofSiO2/CuThinFilmsTianXiaoli,ZhangMinga

3、ng,ChenFenghua(TaiyuanUniversityo/ScienceandTechnology,Taiyuan030024,China)Abstract:SiO2/Cuthinfilmsweredepositedonp-typeSi(100)substratesatdifferentsubstratenegativebiasesandRFsputteringpowerswiththeRFmagnetronsputteringtechnique.Thesur—facemorphologiesofthethi

4、nfilmswerescannedbyAFM.TheexperimentalresultsshowthatthesurfacemorphologiesoftheSiO2/CuthinfilmsaresignificantlyaffectedbythesubstratenegativebiasandRFmagnetronsputteringpower.Thesurfaceparticlesizeandrootmeansquareroughnessofthefilmsbothdecreasewiththeincreasin

5、gofthesubstratenegativebiasat0——15V,andincreasewiththerisingofthesputteringpowerat1O0—200W.Thethinfilmsgrowinthelayermodeattheearlystate,intheislandmodeatthelaterstageandinthetypicallayer—islandmodeinthewholeprocess.Keywords:RFmagnetronsputtering;substratenegati

6、vebias;sputteringpower;thinfilm;mor—phologyDoI:1().3969/.issn.1671—4776.2013.02.005EEACC:0590性、保護能力強、光透過率高、電絕緣性好、膜層0牢固、致密度高及結構精細等特點,廣泛應用在半SiO薄膜是一種重要的介質膜,具有耐腐蝕導體與集成電路、光電子器件、光學元件及耐磨保收稿日期:20121()22基金項目:國家自然科學基金資助項目(61178067)通信作者:張敏剛,E-mail:mgzhang@163.coin86Microna

7、noelectronicTechnologyVo1.50No.2February2013田小麗等:襯底負偏壓及濺射功率對SiO。/Cu薄膜形貌的影響有的動能增大,在薄膜表面的遷移能力增強,由于[23WILIIF()RDRE,LIXS,ADDLEMANRS,etal_Me—鄰近的原子的相互碰撞、在襯底上進行擴散、凝chanicalstabilityoftemplatedpesoporoussilicathinfilms[J].MicroporousandMesoporousMaterials,2005,85(3):聚、堆

8、積、長大,從而導致了薄膜表面均方根粗糙260—266.度增加。E3]WANGCT,WUCL.Electricalsensingpropertiesofsilicaaerogelthinfilmstohumidity口].ThinSoldFilms,2006,1.5496(2):658—664.[4]曾其勇,鄭曉峰.SiO薄膜制備的

當前文檔最多預覽五頁,下載文檔查看全文

此文檔下載收益歸作者所有

當前文檔最多預覽五頁,下載文檔查看全文
溫馨提示:
1. 部分包含數學公式或PPT動畫的文件,查看預覽時可能會顯示錯亂或異常,文件下載后無此問題,請放心下載。
2. 本文檔由用戶上傳,版權歸屬用戶,天天文庫負責整理代發(fā)布。如果您對本文檔版權有爭議請及時聯(lián)系客服。
3. 下載前請仔細閱讀文檔內容,確認文檔內容符合您的需求后進行下載,若出現內容與標題不符可向本站投訴處理。
4. 下載文檔時可能由于網絡波動等原因無法下載或下載錯誤,付費完成后未能成功下載的用戶請聯(lián)系客服處理。