摻雜氧化鋅透明導(dǎo)電薄膜的制備與性能研究

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1、中南大學(xué)碩士學(xué)位論文摘要本文在討論攙雜氧化鋅透明導(dǎo)電薄膜優(yōu)異性能的基礎(chǔ)上,對氧化鋅薄膜的晶體結(jié)構(gòu)、攙雜、制備方法和用途進行了綜合分析。采用直流磁控濺射法,在玻璃基底上制備了摻燦氧化鋅(zao)薄膜和在聚酯(PErI')柔性基底上制備了摻Ga氧化鋅(zGo)薄膜。采用臺階儀、原子力顯微鏡(ARM)、X射線衍射儀儀RD)、分光光度計和方塊電阻測量儀等分析測量手段,對薄膜的厚度、表面形貌、結(jié)構(gòu)和光電性能進行了測試和分析。研究了不同工藝參數(shù)(濺射功率、基底溫度、沉積壓強、沉積時間和氧分壓)對薄膜的結(jié)構(gòu)、形貌和光電性能的影響,得到了以下的結(jié)論:(

2、1)在沉積壓強為0.5Pa、濺射功率為150W、襯底溫度為250"12、氧分壓為1%和沉積時間為15分鐘的條件下,ZAO薄膜的電阻率和平均可見光透過率分別達(dá)到了8.35x10-4Qocm和85.2%。(萄在氧分壓為1%的條件下,ZAO薄膜電阻率隨溫度變化的幅度非常小,最大電阻率為1.44x10-3Qocm,最小電阻率為8.35x10-4Q*cm,這對工業(yè)生產(chǎn)極為有利,這使得制備ZAO薄膜的工藝窗口大大拓寬。(3)ZGO薄膜的方塊電阻,隨濺射功率和沉積時間的增大,先迅速降低,而后其下降趨勢趨于平緩,但都有閥值存在,薄膜的方塊電阻只有在濺射

3、功率高于100W,沉積時間大于1小時的條件下才迅速降低至300(f2/n)以內(nèi),薄膜的方塊電阻隨著沉積壓強的升高而升高。(4)基底溫度和沉積壓強對薄膜的可見光透過率影響不大,可見光透過率隨氧分壓的增加而增大,隨沉積時間的增加而降低。關(guān)鍵詞透明導(dǎo)電薄膜,磁控濺射,電阻率,可見光透過率中南大學(xué)碩士學(xué)位論文ABSTRACTAtfirst,theexcellentperformanceofthedopped-ZnOthinfilmshasbeendiscussedinthispaper.Then,thecrystalstructure,dopi

4、ng,preparm-entandusageofthefilmshasbeensyntheticallyanalysed.D.Cmagnetro-nsputteringhasbeenuesdtoprepareAIdopedZnO(ZAO)filmson西aSSsubstratesandGadopedZnO(ZGO)filmsonPETflake.Manytypesofequipment,suchasAFM,XRD,spectrometerandsheetresistanceprobehavebeenusedtomeasuereandan

5、alysethestructure,morphologyandoptoelectricperformanceofthefilms.Theinfluenceonthefilmswithchangingthesputteringpower,tempretureofsubstrates,presuure,deposi—tiontimeandoxygenpartialpressurehasbeenresearched.Finally,wegetseveralconclusionsasfollowing:(1)Theoptimalsputteri

6、ngparametersforZAOfilmsareasfollows:sputeringpower150W,sputeringpressure0.5Pa,oxygenpartialpressure1%,spuReringtime15rain,andsubstratetemperature250"C.TheoptimalproperitiyofZAOfilmsarethat:resisitivtyattains8.35x104Q·cmandtransmittancearrives85.2%.(2)Thereisverylittlecha

7、ngeofresistivityofZAOfilmfollowingvariationoftemperaturewhenoxygenpartialpressureatl%.Themaxresistivityis1.44x10-3Q·cm.a(chǎn)ndminresistivityis8.35x10qf2·cm.11lisisverygoodforindurstrialproduction,andwildentheprocessingwidowofZAOfilmpreparation.(3)FirstthesheetresistivityofZG

8、Ofilmdecreasessharplyasincreasingsputteringpowerandtime,thendecreasingbecomesflatlyatlast,andtheyallhav

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