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《SoC設(shè)計(jì)驗(yàn)證策略及方法學(xué)_董楊鑫》由會(huì)員上傳分享，免費(fèi)在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在學(xué)術(shù)論文-天天文庫(kù)。
1、質(zhì)量工程卷理論與實(shí)踐QualityEngineeringTheory&PracticesSoC設(shè)計(jì)驗(yàn)證策略及方法學(xué)TheStrategyandMethodologyofSoCDesignVerification董楊鑫,鄭建宏DongYang-xin,ZhengJian-hong(3GResearchInstituteofChongqing(重慶重郵信科股份有限公ChongyouInformationTechnologyCO.司3G研究院,重慶400065)LTD,Chongqing400065,P.R.China)摘要:驗(yàn)證在SoC
2、設(shè)計(jì)過(guò)程中有十分重要的作用，它將影響到芯片的整體開(kāi)銷(xiāo)和質(zhì)量。本文首先介紹了當(dāng)前業(yè)界比較常用的一些驗(yàn)證技術(shù)的特點(diǎn)，包括仿真技術(shù)、靜態(tài)驗(yàn)證技術(shù)、形式驗(yàn)證、物理驗(yàn)證等，然后通過(guò)實(shí)例論述在SoC設(shè)計(jì)驗(yàn)證中的關(guān)鍵技術(shù)——重用技術(shù)、隨機(jī)約束驗(yàn)證、自檢技術(shù)和形式斷言驗(yàn)證。關(guān)鍵字:驗(yàn)證技術(shù);SoC;重用;隨機(jī)約束;自檢;形式斷言53中圖分類(lèi)號(hào):TN407文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:A文章編號(hào):1003-0107(2007)10-0053-04基金項(xiàng)目:國(guó)家“863”項(xiàng)目(2004AA001390)Abstract:Verificationhasaveryimpor
3、tantroleintheprocessofSoCdesign,itwillinfluencetheoverallchipcostandquality.Thecharacteristicsofsomecommonlyusedverificationtechnologiesintheindustryareintroducedfirstinthispaper,suchassimulation,statictechnologies,formalverificationandphysicalverification.Andthentheke
4、ytechnologiesinSoCdesignverification,reusetechnology,randomconstraintverification,self-checkingtechnologyandformalassertionverification,arepresentedwithexamples.Keywords:Verification;SoC;Reuse;Randomconstraint;Self-checking;FormalassertionCLCnumber:TN407Documentcode:AA
5、rticleID:1003-0107(2007)10-0053-041.引言的驗(yàn)證工具和技術(shù)難以解決驗(yàn)證仿真技術(shù)包括基于事件的仿驗(yàn)證是證明設(shè)計(jì)人員的設(shè)計(jì)問(wèn)題，為了減少設(shè)計(jì)錯(cuò)誤而達(dá)到真(Event-BasedSimulation)、意圖與具體實(shí)現(xiàn)是否一致的過(guò)可以接受的程度，必須使用一系基于時(shí)鐘周期的仿真(Cycle-程，在硬件設(shè)計(jì)的每個(gè)步驟都有列復(fù)雜的驗(yàn)證工具和技術(shù)。目BasedSimulation)、基于事相應(yīng)的驗(yàn)證。在當(dāng)前的SoC設(shè)計(jì)前，在業(yè)界出現(xiàn)了許多驗(yàn)證技務(wù)的驗(yàn)證(Transaction-Based中，驗(yàn)證工作占了整個(gè)設(shè)計(jì)工作
6、術(shù)，它們大致可以分為四類(lèi):基Verification)、軟硬件協(xié)同仿的70%左右，驗(yàn)證工程師的數(shù)量于仿真的驗(yàn)證技術(shù);靜態(tài)驗(yàn)證技真(HW/SWCo-verification)和覆[2]將達(dá)到RTL(RegisterTransfer術(shù);形式驗(yàn)證技術(shù);物理版圖驗(yàn)證蓋率分析等。[2]Level)設(shè)計(jì)人員的2倍。驗(yàn)證的和分析。目的是要確保設(shè)計(jì)的具體實(shí)現(xiàn)達(dá)2.1基于事件的仿真到設(shè)計(jì)規(guī)范所定義的功能需求。2.仿真技術(shù)硬件設(shè)計(jì)在驗(yàn)證過(guò)程中出現(xiàn)的主要問(wèn)題基于仿真的驗(yàn)證是應(yīng)用非常有：驗(yàn)證是否已足夠，選擇什么普遍的一種驗(yàn)證方法，其典型流制度詳細(xì)測(cè)試計(jì)劃[
7、1]驗(yàn)證策略和技術(shù)，怎么計(jì)劃、縮程如圖1所示。在基于仿真的驗(yàn)短驗(yàn)證時(shí)間等。一個(gè)好的驗(yàn)證方證中，硬件設(shè)計(jì)置于測(cè)試平臺(tái)之測(cè)試平臺(tái)創(chuàng)建Lint法學(xué)是從驗(yàn)證計(jì)劃出發(fā)的，在驗(yàn)中，測(cè)試平臺(tái)產(chǎn)生激勵(lì)輸入到設(shè)證計(jì)劃中應(yīng)該詳細(xì)列出所要驗(yàn)證計(jì)中，之后將硬件設(shè)計(jì)的輸出與產(chǎn)生激勵(lì)仿真的功能，以確保設(shè)計(jì)規(guī)范得到參考輸出進(jìn)行比較。輸入激勵(lì)可以覆蓋率分析調(diào)試Bug跟蹤[1]滿(mǎn)足。驗(yàn)證方法學(xué)還應(yīng)該決定在仿真之前產(chǎn)生，也可以在仿真過(guò)在驗(yàn)證過(guò)程中使用何種驗(yàn)證語(yǔ)程中從數(shù)據(jù)庫(kù)中讀入到設(shè)計(jì)中，復(fù)原言，目前比較流行的驗(yàn)證語(yǔ)言有或者是在仿真運(yùn)行過(guò)程中產(chǎn)生。版本控制Vera、E、
8、C/C++等。類(lèi)似地，參考輸出也可以提前產(chǎn)現(xiàn)在愈來(lái)愈達(dá)成共識(shí):單一生或者是在仿真過(guò)程中產(chǎn)生。圖1仿真驗(yàn)證的典型流程·2007第10期·ELECTRONICSQUALITY理論與實(shí)踐質(zhì)量工程卷Theory&PracticesQualit
