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1、NIKO-SEM尼克森微電子股份有限公司矯正與預防措施報告致(To):光寶-旭福日期(Date):2012/12/11自(From):NIKO-SEM文號(Doc.No.):QDR121211_02副本(CC):NA主旨(Subject):P0903BD電性異常1.)專案成員UseTeamApproach主持者（TeamLeader）：FAE-AlexLeng成員（TeamMember）：QA-PippenKao/DavidLee/RickHung/TotemWu/LanLinMK-GucciLin2.)異常說明ConcernDe
2、scription:Usewho,what,when,where,why,how,howmanytospecifytheproblem.A.Who–Customer:光寶-旭福Vender:NIKO-SEMB.What─P0903BD電性異常。C.When–2012/12/11D.Where–光寶-旭福E.Why–客戶光寶-旭福反饋P0903BD有電性異常。F.How–rootcause–退回品為不良品，不良品未發(fā)現(xiàn)封裝上之異常，產品疑遭受異常電壓或電流破壞，導致MOS功能失效。G.Howmany–Device：P0903BDLo
3、t.:GNB6O1002D/C:GOD4702QTY:1PCS1NKS-QP-QA07-01A.2NIKO-SEM尼克森微電子股份有限公司矯正與預防措施報告3.)內部或客戶的暫時解決辦法，及實施日期ImplementandVerifyContainmentAction：3.1調查異常批進料檢驗歷史記錄，均按照正常抽驗標準，無發(fā)現(xiàn)異?，F(xiàn)象，詳如下表。-------2012/12/11品名批號進貨數(shù)量抽樣數(shù)不良品數(shù)量判定P0903BDGNB6O1002158082000PASS3.2調查異常批之出貨歷史。---------2012/1
4、2/11品名批號DATECODE出貨數(shù)量客戶簡稱結案日期P0903BDGNB6O1002GOD470213997Other20120601P0903BDGNB6O1002GOD47021811光寶-旭福201205304.)可能、真正原因確認DefineandVerifyRootCauses:4.1目視檢驗-------2012/12/11退回品外觀上無任何缺角、破裂、導腳變色的現(xiàn)象。#14.2電性測試-------2012/12/114.2.1以紅字標示低阻抗值異常，初步判定為不良品，詳如下DATA：ITEMG-SS-GG-DD
5、-GS-DD-S判定UNITΩΩΩΩΩΩ#1∞∞∞∞11.5411.55FAIL4.2.2電氣特性測試，退回品為不良品，Summaryreport及testdata如下所示：TESTDATA：RDSONRDSONNO:VTHIGSSIDSSVFBVDSS(10V)(4.5V)Test(Vgs=10V;(Vgs=4.5V;(IF=IS,(Id=250uA)(Vgs=20V)(Vds=24V)(Id=250uA)ConditionId=30A)Id=30A)VGS=0V)UnitVuAuAmOhmmOhmVV#10.000.7256.
6、043260.263204.170.010.052NKS-QP-QA07-01A.2NIKO-SEM尼克森微電子股份有限公司矯正與預防措施報告4.3打線位置及腳位說明------2012/12/124.4X-RAY------2012/12/12因AlWire無法由X-RAY照出，故無法顯示AlWire打線。#14.5De-Cap------2012/12/12針對電性測試不良品DECAP後，檢視晶片表面有明顯燒毀痕跡(如紅圈)，但無封裝打線異常。#13NKS-QP-QA07-01A.2NIKO-SEM尼克森微電子股份有限公司矯正
7、與預防措施報告4.6就上述調查結果--------2012/12/124.6.1IQC檢驗紀錄正常。4.6.2Retest驗證，退回品為不良品。4.6.3退回品無封裝打線之異常，不良品晶片表面有明顯燒毀痕跡。4.6.4此退回品為不良品，不良品晶片表面有明顯燒毀痕跡，但未發(fā)現(xiàn)封裝上之異常，產品疑遭受異常電壓或電流破壞，導致MOS功能失效。5.)確認並感謝CheckandCongratulatetheTeam:5.1感謝光寶-旭福相關人員的協(xié)助。Preparedby:DavidLeeApprovalby:PippenKao4NKS-Q
8、P-QA07-01A.2
