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1、IC產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性測試(ICQuality&ReliabilityTest)質(zhì)量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以說是IC產(chǎn)品的生命，好的品質(zhì)，長久的耐力往往就是一顆優(yōu)秀IC產(chǎn)品的競爭力所在。在做產(chǎn)品驗證時我們往往會遇到三個問題，驗證什么，如何去驗證，哪里去驗證，這就是what,how,where的問題了。解決了這三個問題，質(zhì)量和可靠性就有了保證，制造商才可以大量地將產(chǎn)品推向市場，客戶才可以放心地使用產(chǎn)品。現(xiàn)將目前較為流行的測試方法加以簡單歸類和闡述，力求達到拋磚引玉的作用。質(zhì)量（Quality）就是產(chǎn)品性能的測量，它回答了一個產(chǎn)品是否合
2、乎規(guī)格（SPEC）的要求，是否符合各項性能指標的問題；可靠性（Reliability）則是對產(chǎn)品耐久力的測量，它回答了一個產(chǎn)品生命周期有多長，簡單說，它能用多久的問題。所以說質(zhì)量（Quality）解決的是現(xiàn)階段的問題，可靠性（Reliability）解決的是一段時間以后的問題。知道了兩者的區(qū)別，我們發(fā)現(xiàn)，Quality的問題解決方法往往比較直接，設(shè)計和制造單位在產(chǎn)品生產(chǎn)出來后，通過簡單的測試，就可以知道產(chǎn)品的性能是否達到SPEC的要求，這種測試在IC的設(shè)計和制造單位就可以進行。相對而言，Reliability的問題似乎就變的十分棘手，這個產(chǎn)品能用多久，whoknows?誰會能
3、保證今天產(chǎn)品能用，明天就一定能用？為了解決這個問題，人們制定了各種各樣的標準，如JESD22-A108-AEIAJED-4701-D101注：JEDEC（JointElectronDeviceEngineeringCouncil）電子設(shè)備工程聯(lián)合委員會,，著名國際電子行業(yè)標準化組織之一。EIAJED：日本電子工業(yè)協(xié)會，著名國際電子行業(yè)標準化組織之一。等等，這些標準林林總總，方方面面，都是建立在長久以來IC設(shè)計，制造和使用的經(jīng)驗的基礎(chǔ)上，規(guī)定了IC測試的條件，如溫度，濕度，電壓，偏壓，測試方法等，獲得標準的測試結(jié)果。這些標準的制定使得IC測試變得不再盲目，變得有章可循，有法可依
4、，從而很好的解決的what，how的問題。而Where的問題，由于Reliability的測試需要專業(yè)的設(shè)備，專業(yè)的器材和較長的時間，這就需要專業(yè)的測試單位。這種單位提供專業(yè)的測試機臺，并且根據(jù)國際標準進行測試，提供給客戶完備的測試報告，并且力求準確的回答Reliability的問題.在簡單的介紹一些目前較為流行的Reliability的測試方法之前，我們先來認識一下IC產(chǎn)品的生命周期。典型的IC產(chǎn)品的生命周期可以用一條浴缸曲線（BathtubCurve）來表示。ⅠⅡⅢRegion(I)被稱為早夭期（Infancyperiod）這個階段產(chǎn)品的failurerate快速下降，造
5、成失效的原因在于IC設(shè)計和生產(chǎn)過程中的缺陷；Region(II)被稱為使用期（Usefullifeperiod）在這個階段產(chǎn)品的failurerate保持穩(wěn)定，失效的原因往往是隨機的，比如溫度變化等等；uRegion(III)被稱為磨耗期（Wear-Outperiod）在這個階段failurerate會快速升高，失效的原因就是產(chǎn)品的長期使用所造成的老化等。認識了典型IC產(chǎn)品的生命周期，我們就可以看到，Reliability的問題就是要力圖將處于早夭期failure的產(chǎn)品去除并估算其良率，預(yù)計產(chǎn)品的使用期，并且找到failure的原因，尤其是在IC生產(chǎn)，封裝，存儲等方面出現(xiàn)的問
6、題所造成的失效原因。下面就是一些IC產(chǎn)品可靠性等級測試項目（ICProductLevelreliabilitytestitems）一、使用壽命測試項目（Lifetestitems）：EFR,OLT(HTOL),LTOL①EFR:早期失效等級測試（EarlyfailRateTest）目的:評估工藝的穩(wěn)定性，加速缺陷失效率，去除由于天生原因失效的產(chǎn)品。測試條件:在特定時間內(nèi)動態(tài)提升溫度和電壓對產(chǎn)品進行測試失效機制：材料或工藝的缺陷，包括諸如氧化層缺陷，金屬刻鍍，離子玷污等由于生產(chǎn)造成的失效。具體的測試條件和估算結(jié)果可參考以下標準：JESD22-A108-AEIAJED-4701-
7、D101②HTOL/LTOL：高/低溫操作生命期試驗（High/LowTemperatureOperatingLife）目的:評估器件在超熱和超電壓情況下一段時間的耐久力測試條件:125℃，1.1VCC,動態(tài)測試失效機制：電子遷移，氧化層破裂，相互擴散，不穩(wěn)定性，離子玷污等參考標準：125℃條件下1000小時測試通過IC可以保證持續(xù)使用4年，2000小時測試持續(xù)使用8年；150℃1000小時測試通過保證使用8年，2000小時保證使用28年。具體的測試條件和估算結(jié)果可參考以下標準MIT-STD-883EM
