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1、SPC控制圖使用步驟1、收集數(shù)據(jù)2、建立控制限3、解釋統(tǒng)計(jì)控制4、延長(zhǎng)控制限以繼續(xù)控制控制圖兩種基本類型1、計(jì)量型控制圖：來(lái)自過程數(shù)據(jù)是連續(xù)的（如直徑、長(zhǎng)度）X（均值）-（極差）R圖2、計(jì)數(shù)型控制圖：來(lái)自過程數(shù)據(jù)是不連續(xù)的（如通過和不通過、接受和拒收）P圖、NP圖SPC使用控制圖準(zhǔn)備工作1、建立適合實(shí)施的環(huán)境2、定義過程3、基于以下內(nèi)容確定控制的特性或特征顧客的需求現(xiàn)存和潛在的問題區(qū)域特性之間的相互關(guān)系取樣表n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08使用現(xiàn)有子組大小的計(jì)算δ
2、c=R/D2 R：子組極差的平均值n:一個(gè)子組內(nèi)樣本的數(shù)量D2:隨樣本容量n變化的常數(shù)控制圖典型特殊原因準(zhǔn)則匯總1、一個(gè)點(diǎn)距中心線超過3根標(biāo)準(zhǔn)差2、連續(xù)7點(diǎn)在中心線的同一側(cè)3、6點(diǎn)連續(xù)上升或下降4、連續(xù)14點(diǎn)交替上升或下降5、連續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)距中心線大于2個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差（同側(cè)）6、連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)距中心線大于一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差（同側(cè)）7、連續(xù)15個(gè)點(diǎn)在距中心線一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差內(nèi)（兩側(cè)）8、連續(xù)8個(gè)點(diǎn)距中心線大于1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差（兩側(cè)）計(jì)量型控制圖公式子組均值：X=子組極差：R=XMAX–XMIN每個(gè)子組內(nèi)X1+X2+…..XNNN一個(gè)子組內(nèi)樣本的數(shù)量計(jì)
3、量型控制圖公式平均均值X1+X2+…..XNX=K（確定過程平均和平均極差的子組數(shù)）平均極差：R1+R2+….RNR=K計(jì)量型控制圖公式X的標(biāo)準(zhǔn)差的估計(jì)：δC=R/D2X的標(biāo)準(zhǔn)差的估計(jì)δX=δC/N計(jì)量型控制圖公式中心線CLX=XCLR=R控制限UCLX=X+A2RLCLX=X-A2RUCLR=D4RLCLR=D3R不合格品率圖（P圖）單個(gè)子組內(nèi)不合格品率PI=NPI/NINI:被檢零件的數(shù)量NPI：發(fā)現(xiàn)的不合格零件數(shù)量平均不合格品率：NPI+NP2……..NPKP=NI+N2+…..NKK：子組數(shù)量NI都相等不合格品率圖（P圖
4、）中心線計(jì)算公式：CLP=P控制限計(jì)算：UCLPI=P+3P（1-P）/NILCLPI=P-3P（1-P）/NI如果樣本容量是相等的（N)不合格品率圖（P圖）當(dāng)樣本容量發(fā)生變化時(shí)前提條件是MINNI/MAXNI≥0.75使用恒定的控制限UCLP=n+3P（1-P）/nLCLP=P-3P（1-P）/nn：平均樣本容量附錄E對(duì)照表n2345678910d21.1281.6932.0592.3262.5342.7042.8472.9703.078A21.881.0230.7290.5770.4830.4190.3730.3370.30
5、8D3000000.0760.1360.1840223D43.2672.5742.2822.1142.0041.9241.8641.8161.777過程能力分析CPK：ComplexProcessCapabilityindex的縮寫，是現(xiàn)代企業(yè)用于表示制成能力的指標(biāo),漢語(yǔ)譯作工序能力指數(shù)，也有譯作工藝能力指數(shù)過程能力指數(shù)。工序能力指數(shù)，是指工序在一定時(shí)間里，處于控制狀態(tài)(穩(wěn)定狀態(tài))下的實(shí)際加工能力。它是工序固有的能力，或者說它是工序保證質(zhì)量的能力。對(duì)于任何生產(chǎn)過程，產(chǎn)品質(zhì)量總是分散地存在著。若工序能力越高，則產(chǎn)品質(zhì)量特性值的分散
6、就會(huì)越小；若工序能力越低，則產(chǎn)品質(zhì)量特性值的分散就會(huì)越大。cpkCP：能力指數(shù)USL-LSLUSL-LSLCP==6δC6（R/D2）CPK≤CP（雙邊公差）CPK等于CPU和CPL中的最小值。δC：子組內(nèi)變差，可以用R/D2或S/C4估計(jì)USL：公差上限LSL：公差下限cpkUSL-XUSL-XCPU==3δC3（R/D2）X-LSLX-LSLCPL==3δC3（R/D2）PPKPP：性能指數(shù)USL-LSLUSL-LSLPP==6δP6SPPK≤PP（雙邊公差）pPK等于PPU和PPL中的最小值。δP：過程總變差，可以用S估計(jì)
7、USL：公差上限LSL：公差下限PPK標(biāo)準(zhǔn)差S計(jì)算（XI-X）2δP=S=N-1PPK等于PPU和PPL中的最小值。XI：?jiǎn)沃底x數(shù)，X：?jiǎn)沃底x數(shù)均值N：?jiǎn)沃底x數(shù)個(gè)數(shù)PPKUSL-XUSL-XPPU==3δP3SX-LSLX-LSLPPL==3δP3SCMK機(jī)器能力指數(shù)CM=T/8δMT：公差范圍δM：機(jī)器能力的標(biāo)準(zhǔn)偏差當(dāng)質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)為雙邊公差時(shí)TU-TLCM=8δMTU：公差上限TL：公差下限CMK當(dāng)質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)為單向公差時(shí)TU-XCM=4δMX-TLCM=4δMCMK當(dāng)數(shù)據(jù)分布中心與標(biāo)準(zhǔn)中心不重合時(shí)TU-TL-2εCMk=8δMCMK
8、=（1-K）CM=（1-K）*T/8δMK：偏移系數(shù)K=2ε/Tε為數(shù)據(jù)分布中心與標(biāo)準(zhǔn)中心的偏移量取絕對(duì)值公差說明單邊規(guī)格：只有規(guī)格上限和規(guī)格中心或只有下限或規(guī)格中心的規(guī)格;如考試成績(jī)不得低于80分，或浮高不得超過0.5mm等；此時(shí)數(shù)據(jù)越接近上限或下限越好﹔雙邊
