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1、Cpk制程能力分析7/27/20211SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment常態(tài)分配通常寫為X~N(μ:σ2)其中μ:常態(tài)分配的中心值(Mean)σ2:常態(tài)分配的變異(Variance)σ:常態(tài)分配的標準差(StandardDeviation)常態(tài)分配特性(1)曲線與橫軸所圍的面積為1;(2)以μ為中心呈對稱性分布;(3)變異σ2代表分配函數(shù)的離散程度如圖1所示,具有相同μ的二個常態(tài)分配(a)與(b),(a)的離散程度比(b)小,即σ2a<σ2b,所以常態(tài)分配(a)大多數(shù)的點傾向於集中μ的附近.μ圖1(a)σ2a(b)σ2b7/27
2、/20212SilitekElectronics(GZ)VQMDepartmentPercentagesOfTheNormalDistribution7/27/20213SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment管制圖與常態(tài)分配μμ+kσ圖2X值在μ+kσ與μ-kσ之間之或然率(Probability)或稱機率如右圖.以圖中斜線部分表示,其公式為:群體平均值=μ標準差=σ抽取一個x圖1μ-kσσ7/27/20214SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment群體(制程)與樣本間之關系分配之期望值分配之標準差設為
3、樣本平均,μ為群體平均S=?S為樣本標準差?為群體標準差在統(tǒng)計學上注:如可視為無限群體用上式為有限群體之修正系數(shù)設系有限數(shù)群體而則分配之標準差21437/27/20215SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment群體(制程)與樣本間之關系樣本平均值之分配群體平均值之分配μ7/27/20216SilitekElectronics(GZ)VQMDepartmentCpkVsDefectiveYield我們常用產品品質特性的常態(tài)分配與規(guī)格相比較,以決定產品的不良率.如右圖所示產品品質特性的常態(tài)分配.規(guī)格上限:USL(UpperSpecific
4、ationLimit)規(guī)格下限:LSL(LowerSpecificationLimit)落在規(guī)格上,下限外的斜線面積即為產品的不良率.μLSLUSLμ-3σ-2σ-1σ+3σ+2σ+1σ68.27%95.45%99.73%0.135%0.135%StandardDeviationfrommean7/27/20217SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment目前在品管里常注重制程的分散寬度,故有定義制程能力為下式者:群體標準差每不易直接求得一般以樣本資料推定之,其推定方法有下列三式:(1)直接由樣本特性值計算時(2)由次數(shù)分配表計算時(2
5、)管制圖計算時一般均采用公式(3)制程能力的數(shù)量表示法1..分散寬度以表示之.制程能力=(或)d2Cpk計算時用此公式(1)7/27/20218SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment管制界限損失第二種錯誤第一種錯誤兩種錯誤總和±1σ±3σ±4σ±5σ±6σ±2σ兩種錯誤之經濟平衡點Breakevenpoint,BEP通常,在管制圖使中會有兩種錯(ERROR).第一種即是單制程仍屬管制狀態(tài),但卻因隨機性原因點落于管制界限外時,為了尋找不存在之問題而導致成本增加.第二種即是當制程已失去管制,但數(shù)據點由于隨即問題仍落于管制界限內,因而誤判
6、制程處于管制狀態(tài),因而造成更大之損失.7/27/20219SilitekElectronics(GZ)VQMDepartmentTheAccuracyofaninstrumentcanbeimprovedbyrecalibratingtoreduceitserror,butrecalibratinggenerallydoesnotimprovetheinstrument’sPrecision.(Repeatabilityalsosometimesknownas“Precision”)Accuracy&Precision7/27/202110SilitekElect
7、ronics(GZ)VQMDepartmentT/2Ca(制程準確度)Tux-Ca:(Capabilityofaccuracy)從生產過程中所獲得的資料其實際平均值()與規(guī)格中心值(μ)之間偏差的程度=12.50%25%50%100%A級B級C級D級X(實績)規(guī)格中心值規(guī)格上限或下限X(實績)X(實績)等級A≦12.5%B12.5%<≦25%C25%<≦50%D50%8、面檢討,必